【技术实现步骤摘要】
本公开内容涉及一种磁检测装置和包括磁检测装置的转矩传感器。
技术介绍
常规上,非接触转矩传感器通过检测由扭杆的扭转位移引起的磁通密度变化来检测转矩。例如,JP2014-149180A描述了一种包括用于支撑电路板的支撑构件的磁检测装置。
技术实现思路
如果磁检测器没有被表面安装到基底上,而是替代地被安装成与基底表面等垂直,则存在如下担心:由于磁检测器倾斜会产生检测误差。此外,如果如在JP2014-149180A中公开的那样分开地设置另一构件以支撑基底上的磁检测器,则部件的数目将增加。鉴于以上内容,本公开内容的目的是提供一种具有改进的检测准确度的磁检测装置以及包括该磁检测装置的转矩传感器。根据本公开内容,一种磁检测装置包括第一磁收集器、第二磁收集器、基底和磁传感器。第一磁收集器包括第一收集器部。第二磁收集器包括第二收集器部,第二收集器部隔开固定距离面向第一收集器部。基底具有外边缘。孔与外边缘间隔开地被形成在基底中。磁传感器包括磁检测元件、模制部和端子,磁传感器被表面安装,使得模制部的至少一部分与孔交叠。磁检测元件被设置在第一收集器部和第二收集器部之间并检测磁场的强度。模制部封闭磁检测元件。端子从模制部伸出并连接至基底。第一收集器部被定位成面向磁传感器的前表面,前表面的朝向背离基底。第二收集器部的至少一部分被定位在孔中以面向磁传感器的后表面,后表面面向基底。根据本公开内容,磁 ...
【技术保护点】
一种磁检测装置,包括:第一磁收集器(21、610、650),其包括第一收集器部(215、615、657);第二磁收集器(22、620),其包括第二收集器部(225、625),所述第二收集器部隔开固定距离面向所述第一收集器部;基底(40、60、62、64),其具有外边缘,孔(41、61、63、65)与所述外边缘间隔开地被形成在所述基底中;以及磁传感器(45),其包括磁检测元件(511、521)、模制部(46)和端子(47),所述磁传感器被表面安装,使得所述模制部的至少一部分与所述孔交叠,其中所述磁检测元件被设置在所述第一收集器部和所述第二收集器部之间并检测磁场的强度,所述模制部封闭所述磁检测元件,所述端子从所述模制部伸出并连接至所述基底,所述第一收集器部被定位成面向所述磁传感器的前表面(451),所述前表面的朝向背离所述基底,并且所述第二收集器部的至少一部分被定位在所述孔中以面向所述磁传感器的后表面(452),所述后表面面向所述基底。
【技术特征摘要】
2014.11.27 JP 2014-2399301.一种磁检测装置,包括:
第一磁收集器(21、610、650),其包括第一收集器部(215、615、
657);
第二磁收集器(22、620),其包括第二收集器部(225、625),所述
第二收集器部隔开固定距离面向所述第一收集器部;
基底(40、60、62、64),其具有外边缘,孔(41、61、63、65)与
所述外边缘间隔开地被形成在所述基底中;以及
磁传感器(45),其包括磁检测元件(511、521)、模制部(46)和端
子(47),所述磁传感器被表面安装,使得所述模制部的至少一部分与所
述孔交叠,其中
所述磁检测元件被设置在所述第一收集器部和所述第二收集器部之
间并检测磁场的强度,
所述模制部封闭所述磁检测元件,
所述端子从所述模制部伸出并连接至所述基底,
所述第一收集器部被定位成面向所述磁传感器的前表面(451),所述
前表面的朝向背离所述基底,并且
所述第二收集器部的至少一部分被定位在所述孔中以面向所述磁传
感器的后表面(452),所述后表面面向所述基底。
2.根据权利要求1所述的磁检测装置,其中
当从所述前表面或所述后表面观察时,所述磁检测元件位于与所述第
一收集器部和所述第二收集器部交叠的区域中。
3.根据权利要求1或2所述的磁检测装置,其中
所述端子从所述模制部的边缘(465)伸出,所述边缘被定位在所述
孔外部。
4.根据权利要求1或2所述的磁检测装置,还包括:
磁收集器保持器(25、630),其保持所述第一磁收集器和所述第二磁
收集器。
5.根据权利要求4所述的磁检测装置,其中
所述磁收集器保持器被分成保持所述第一磁收集器的第一保持器构
件(251、631)以及保持所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员:高桥良树,深谷繁利,
申请(专利权)人:株式会社电装,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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