一种外部存储器校验位的可观测性方法技术

本发明专利技术公开了一种外部存储器校验位的可观测性方法，包括：从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；将所述第一校验位保存在本地；调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。通过本发明专利技术避免了观测程序本身携带的校验位对待观测存储对象对应的第一校验位的覆盖，实现了对校验位的实时观测，降低了成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于计算机
，尤其涉及一种外部存储器校验位的可观测性方法。
技术介绍
空间计算机受辐射影响，可能导致半导体电路出现错误的逻辑状态，会导致存储体中存储内容在“0”、“1”之间突变，影响半导体器件的功能，通常称之为单粒子翻转(SingleEventUpset，SEU)。为了抗单粒子翻转，在空间计算机处理器访问的外部存储器中，存放的数据要搭配与之对应的校验位，以满足在空间计算机处理器应用过程中对外部存储器的校验位的观测需求。目前，通常采用调试模式实现对校验位的观测：通过调用设置在外部存储器外的调试单元模块来实现对外部存储器的访问及校验位的观测。然而，现有的调试模式方案存在诸多问题：调试单元模块只能在空间计算机处于非工作状态时，才能实现校验位的可观测性，在空间计算机处于工作状态时则无法实现校验位的可观测性，存在一定的局限性，无法实时的实现校验位的观测。其次，需要增加额外的第三方设备，成本较高。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题：克服现有技术的不足，提供一种外部存储器校验位的可观测性方法，旨在实现对校验位的实时观测，降低成本。为了解决上述技术问题，本专利技术公开了一种外部存储器校验位的可观测性方法，所述方法包括：从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；将所述第一校验位保存在本地；调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，将所述第一校验位保存在本地，包括：将所述第一校验位保存在本地的校验位保存寄存器中。在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：确定待观测存储对象在所述外部存储器中的第一存储位置；将所述第一存储位置对应的区域配置为观测有效区域。在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：将校验位保存配置位中的配置信息修改为第一配置信息；其中，所述第一配置信息用于指示：保存所述待观测存储对象对应的第一校验位。在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：从外部存储器中读取当前存储对象；确定所述校验位保存配置位中的配置信息是否为第一配置信息，以及，确定所述当前存储对象对应的访问地址是否与所述区域配置位所指示的访问地址匹配；当所述校验位保存配置位中的配置信息为所述第一配置信息，且，所述当前存储对象对应的访问地址与所述区域配置位所指示的访问地址匹配时，确定所述当前存储对象为所述待观测存储对象，执行所述从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位的步骤。在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：在外部存储器控制器本地设置所述区域配置位和所述校验位保存配置位。在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：从保存在所述外部存储器内、所述观测有效区域之外的至少一个程序中选择一个作为所述观测程序。在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述待观测存储对象包括：数据对象和/或程序对象。本专利技术具有以下优点：综上所述，由于观测程序位于所述外部存储器的观测有效区域之外的其他区域，而待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域内，因此，在通过运行观测程序的方式观测待观测存储对象对应的校验位时，避免了观测程序本身对应的校验位替代待观测存储对象对应的第一校验位的发生，实现了对待观测存储对象对应的第一校验位的实时观察。即便在工作状态下，也可实时对检验位进行观测。其次，本实施例所述的方法，无需增加额外的设备模块，简化了处理流程，提高了作业效率，节约了成本。此外，可以根据实际情况灵活设置观测有效区域，满足不同应用场景，本实施例所述的方法具有通用性。(1)在本专利技术实施例所述的方案中，观测程序位于所述外部存储器的观测有效区域之外的其他区域，而待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域内，因此，在通过运行观测程序的方式观测待观测存储对象对应的校验位时，避免了观测程序本身对应的校验位替代待观测存储对象对应的第一校验位的发生，实现了对待观测存储对象对应的第一校验位的实时观察，即便在工作状态下，也可实时对检验位进行观测。(2)本专利技术实施例所述的方案，无需增加额外的设备模块，简化了处理流程，提高了作业效率，节约了成本。(3)本专利技术实施例所述的方案，可以根据实际情况灵活设置观测有效区域，满足不同应用场景，具有通用性。附图说明图1是本专利技术实施例中一种外部存储器校验位的可观测性方法的步骤流程图；图2是本专利技术实施例中一种外部存储器控制器的电路结构示意图；图3是本专利技术实施例中一种外部存储器的存储示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术公共的实施方式作进一步详细描述。参照图1，示出了本专利技术实施例中一种外部存储器校验位的可观测性方法的步骤流程图。在本实施例中，所述外部存储器校验位的可观测性方法包括：步骤101，从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位。在本实施例中，外部存储器控制器在从外部存储器中读取待观测存储对象时，可以获取所述待观测存储对象对应的第一校验位。其中，优选的，所述待观测存储对象包括：数据对象和/或程序对象。需要说明的是，在本实施例中，可以将外部存储器划分为观测有效区域，以及，除所述观测有效区域之外的其他区域。优选的，在本实施例中，外部存储器中的所有待观测存储对象均位于所述外部存储器的观测有效区域。换而言之，位于观测有效区域内的存储对象为待观测存储对象；而位于观测有效区域外的存储对象则为一般存储对象，不作处理。步骤102，将所述第一校验位保存在本地。在本实施例中，可以将第一校验位保存在本地任意适当位置处，优选的，可以将所述第一校验位保存在外部存储器控制器中的校验位保存寄存器中。步骤103，调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出。在本实施例中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。由于观测程序位于所述外部存储器的观测有效区域之外的其他区域，而待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域内，因此，在通过运行观测程序的方式观测待观测存储对象对应的校验位时，避免了观测程序本身对应的校验位替代待观测存储对象对应的第一校验位的发生，实现了对待观测存储对象对应的第一校验位的实时观察。在本专利技术的一优选实施例中，所述方法还可以包括：步骤104，确定待观测存储对象在所述外部存储器中的第一存储位置。在实际应用中，当需要观测某一存储对象的校验位时，可以将该某一存储对象定义为待观测存储对象。如前所述，在本实施例中，待观测存储对象需要位于外部存储器的观测有效区域内，因此，需要确定待观测存储对象在所述外部存储器中的第一存储位置，将该第一存储位置配置为隶属于观测有效区域，如下步骤105。步骤105，将所述第一存储位置对应的区域配置为观测有效区域。进一步优选的，所述方法还包括：步骤106，将校验位保存配置位中的配置信息修改为第一配置信息。在本实施例中，校验位保存配置位中的配置信息可以用于指示是否需要对存储对象对应的校验位进行保存。例如，当配置信息具体为第一配置信息时，则说明需要对存储对象对应本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种外部存储器校验位的可观测性方法，其特征在于，所述方法包括：从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；将所述第一校验位保存在本地；调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。

【技术特征摘要】
1.一种外部存储器校验位的可观测性方法，其特征在于，所述方法包括：从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；将所述第一校验位保存在本地；调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述第一校验位保存在本地，包括：将所述第一校验位保存在本地的校验位保存寄存器中。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：确定待观测存储对象在所述外部存储器中的第一存储位置；将所述第一存储位置对应的区域配置为观测有效区域。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将校验位保存配置位中的配置信息修改为第一配置信息；其中，所述第一配置信息用于指示：保存所述待观测存储对象对应的第一校验位。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏天红，文治平，陈雷，彭和平，于立新，庄伟，
申请(专利权)人：北京时代民芯科技有限公司，北京微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11