本发明专利技术公开一种检测方法，用于检测指纹传感器，指纹传感器包括电极，电极包括传感器电极，检测方法包括以下步骤：检测步骤，以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及判断步骤，根据所述传感器电极上的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。本发明专利技术实施方式的检测方法及检测装置通过在指纹传感器本身的电极施加驱动信号，并利用边缘电场将驱动信号耦合到其它电极，从而可以根据传感器电极的电压变化信息判断传感器电极是否存在缺陷。因此，无需施加手指及导电体到指纹传感器上便可以检测，提高检测效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及指纹传感器领域，特别涉及一种用于检测指纹传感器的检测方法及检测装置、指纹传感器和电子设备。
技术介绍
自容式指纹传感器包括检测电路及二维阵列排布的传感器电极。使用时，检测电路对每个传感器电极施加驱动信号，并检测每个传感器电极的感应信号，每个传感器电极构成指纹传感器的一个像素。如此，当手指作用到指纹传感器时，每个传感器电极便可以检测指纹对应一点引起的电压变化，从而可以描述指纹对应一点的深浅，并与其它传感器电极(像素)共同描述整个指纹的纹路，形成指纹图像。然而，传感器电极本身及传感器电极与检测电路的连接可能存在缺陷，导致指纹传感器存在坏点，有些缺陷可能导致整个指纹传感器无法正常工作，甚至在指纹传感器组装到指纹识别模组后可能导致整个指纹识别模组无法正常工作。因此，指纹传感器的检测十分重要。然而，目前指纹传感器的检测需要在指纹传感器上施加手指或其它导电材料(如，导电胶)，然后检测每个传感器电极的感应信号，判断是否符合要求，十分不方便，而且检测效率低。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提供一种用于检测指纹传感器的检测方法及检测装置、指纹传感器和电子设备。本专利技术提供一种检测方法，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，所述检测方法包括以下步骤：检测步骤，以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及判断步骤，根据所述传感器电极上的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。在一些实施方式中，所述检测步骤基于互容式感测原理，对部分所述电极施加驱动信号并检测其它所述电极所耦合到的感应信号。在一些实施方式中，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测步骤包括以下子步骤：对n*k+c行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，k为自然数且包括零，n为自然数且大于等于2，c为自然数且包括零，c小于n，n*k+c≤N，且c与k不同时为零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；检测除n*k+c行或列的所述传感器电极外的所述传感器电极的感应信号；对除n*k+c行或列的所述传感器电极外的一行或列所述传感器电极施加驱动信号；及检测n*k+c行或列的所述传感器电极的感应信号。在一些实施方式中，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测步骤包括以下子步骤：对2*k+1行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，2*k+1≤N，k为自然数且包括零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；检测2k行或列的所述传感器电极的感应信号；对2k行或列的所述传感器电极施加驱动信号；及检测2*k+1行或列的所述传感器电极的感应信号。在一些实施方式中，所述电极还包括围绕所述传感器电极的保护环，所述检测方法包括：对所述保护环施加驱动信号；及检测所述传感器电极的感应信号。本专利技术提供一种检测装置，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，其特征在于，所述检测装置包括：检测模块，用于以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及判断模块，用于根据所述传感器电极的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。在一些实施方式中，所述检测模块是基于互容式感测原理对部分所述电极施加驱动信号并检测其它所述电极所耦合到的感应信号。在一些实施方式中，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测模块用于：对n*k+c行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，k为自然数且包括零，n为自然数且大于等于2，c为自然数且包括零，c小于n，n*k+c≤N，且c与k不同时为零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；检测除n*k+c行或列的所述传感器电极外的所述传感器电极的感应信号；对除n*k+c行或列的所述传感器电极外的一行或列所述传感器电极施加驱动信号；及检测n*k+c行或列的所述传感器电极的感应信号。在一些实施方式中，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测模块用于：对2*k+1行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，2*k+1≤N，k为自然数且包括零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；检测2k行或列的所述传感器电极的感应信号；对2k行或列的所述传感器电极施加驱动信号；及检测2*k+1行或列的所述传感器电极的感应信号。本专利技术提供一种指纹传感器，其特征在于，包括：多个传感器电极，呈二维阵列排布；和检测装置，包括：驱动模块，与所述多个传感器电极可选择性连接，用于分时提供驱动信号给所述多个传感器电极；接收模块，与所述多个传感器电极可选择性连接，用于接收来自所述多个传感器电极输出的感测信号；和判断模块，根据所述接收模块接收到的感测信号来判断是否存在缺陷的传感器电极。在一些实施方式中，所述判断模块根据接收到的感测信号是否相同或近似相同来判断所述传感器电极是否存在缺陷。在一些实施方式中，在同一时刻，所述驱动模块与部分传感器电极电连接，所述接收模块与另一部分传感器电极电连接，所述两部分传感器电极之间形成互电容。在一些实施方式中，所述指纹传感器在检测传感器电极是否存在缺陷时为互容式指纹传感器。在一些实施方式中，所述指纹传感器进一步包括指纹感测电路，所述指纹感测电路用于驱动所述多个传感器电极执行指纹感测，所述指纹传感器在执行指纹感测时为自容式指纹传感器。本专利技术提供一种电子设备，包括上述中任意一项所述的指纹传感器。本专利技术实施方式的检测方法及检测装置通过在指纹传感器本身的电极施加驱动信号，并利用边缘电场将驱动信号耦合到其它电极，从而可以根据传感器电极的电压变化信息判断传感器电极是否存在缺陷。因此，无需施加手指及导电体到指纹传感器上便可以检测，提高检测效率。相应地，所述指纹传感器和电子设备的质量较高。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点可以从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是本专利技术实施方式的检测方法的流程示意图。图2是一种指纹传感器的示意图。图3是本专利技术实施方式的检测装置的功能模块示意图。图4是图3所示检测装置与部分电极相连接的结构示意图。图5是本专利技术实施方式的检测方法的一个示意图。图6是本专利技术实施方式的检测方法的另一个示意图。图7是本专利技术实施方式的检测方法的再一个示意图。图8是本专利技术另一个实施方式的检测方法的示意图。图9是本专利技术电子设备的一实施方式的结构示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施方式，实施方式的示例在附图中示出，其中，相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。进一步地，所描述的特征、结构可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本专利技术的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员应意识到，没有所述特定细节中的一个或更多，或者采用其它的结构、组元等，也可以实践本专利技术的技术方案。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构或者操作以避免模糊本专利技术。请参阅图1及图2，本专利技术实施方式的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测方法，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：检测步骤，以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及判断步骤，根据所述传感器电极上的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。
【技术特征摘要】
1.一种检测方法，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：检测步骤，以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及判断步骤，根据所述传感器电极上的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测步骤基于互容式感测原理，对部分所述电极施加驱动信号并检测其它所述电极所耦合到的感应信号。3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测步骤包括以下子步骤：对n*k+c行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，k为自然数且包括零，n为自然数且大于等于2，c为自然数且包括零，c小于n，n*k+c≤N，且c与k不同时为零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；检测除n*k+c行或列的所述传感器电极外的所述传感器电极的感应信号；对除n*k+c行或列的所述传感器电极外的一行或列所述传感器电极施加驱动信号；及检测n*k+c行或列的所述传感器电极的感应信号。4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测步骤包括以下子步骤：对2*k+1行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，2*k+1≤N，k为自然数且包括零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；检测2k行或列的所述传感器电极的感应信号；对2k行或列的所述传感器电极施加驱动信号；及检测2*k+1行或列的所述传感器电极的感应信号。5.一种检测装置，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，其特征在于，所述检测装置包括：检测模块，用于以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及判断模块，用于根据所述传感器电极的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述检测模块是基于互容式感测原理对部分所述电极施加驱动信号并检测其它所述电极所耦合到的感应信号。7.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：田浦延，
申请(专利权)人：深圳信炜科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。