一种电子元件定位方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子元件定位方法，包括：基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，从相应于所述子模板图的待定位图片中获取包含所述待定位电子元件的目标图片；将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度；从所述的一组多模板匹配度中选取目标匹配度，并获取对应于所述目标匹配度的各个子模板图的匹配坐标；根据所述匹配坐标、待定位电子元件与子模板图的相对位置及所述待定位电子元件的尺寸，生成定位结果。本发明专利技术还提供一种电子元件定位装置，保证定位结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动光学检测领域，尤其涉及一种电子元件定位方法及装置。
技术介绍
自动光学检测是工业制作过程的必要环节，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检测异物或表面瑕疵。电子元件的错、漏、反检测是电路板缺陷检测领域中的一种常见应用，机器通过摄像头自动扫描电路板获取图像，提取每个电子元件的局部图像，并通过图像处理技术，判断电子元件是否存在错、漏、反缺陷，最后将疑似缺陷的元件显示或标记出来，方便查看与检修。在传统的自动光学检测(AutomaticOpticInspection，AOI)系统中，电子元件的精确定位主要是通过彩色图像的模板匹配得到的，也即是通过工人制版时得到的电子元件的模板图片在待搜索的区域进行搜索匹配，以得到电子元件的定位信息。但是传统的定位方法容易受到模板图像中局部区域(如电子元件上的丝印，电子元件上易形变部位等)变化的影响，使得定位的结果出现偏差。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术的目的在于提供一种电子元件定位方法及装置，在进行电子元件的定位时，可保证定位结果的准确性。本专利技术提供了一种电子元件定位方法，包括：基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，从相应于所述子模板图的待定位图片中获取包含所述待定位电子元件的目标图片；将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度；从所述的一组多模板匹配度中选取目标匹配度，并获取对应于所述目标匹配度的各个子模板图的匹配坐标；根据所述各个子模板图的匹配坐标、预设的所述待定位电子元件与所述的至少两张子模板图的相对位置及预设的所述待定位电子元件的尺寸，生成定位结果。优选地，所述子模板图为位于制版的板卡图片中的待定位电子元件的稳定区域的图片，或者为所述制版的板卡图片中的靠近所述待定位电子元件的稳定区域的图片。优选地，所述基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，从相应于所述子模板图的待定位图片中获取包含所述待定位电子元件的目标图片，具体为：基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，生成包围所述的至少两张子模板图的最小矩形区域；对所述最小矩形区域扩展预定的宽度，生成截取窗口；以所述截取窗口从待定位图片上截取出包含所述待定位电子元件的目标图片。优选地，所述将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度，包括：在目标图片上移动各个子模板图，并获取每个所述子模板图与当前覆盖的目标图片的区域的匹配值；根据每个所述子模板图的匹配值，生成当前的多模板匹配度；在当所述的至少两张子模板图均遍历所述目标图片的所有区域后，生成一组多模板匹配度。优选地，所述将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度，包括：在所述目标图片上移动各个子模板图，并获取每个所述子模板图与当前覆盖的目标图片的区域的匹配值；根据各个子模板图之间的相对位置信息，计算在当前覆盖的区域下，各个子模板图之间的几何约束值；根据每个所述子模板图的匹配值及所述几何约束值，生成当前的多模板匹配度；在当所述的至少两张子模板图均遍历所述目标图片的所有区域后，生成一组多模板匹配度。优选地，所述根据所述各张子模板图的匹配坐标、预设的所述待定位电子元件与所述的至少两张子模板图的相对位置及预设的所述待定位电子元件的尺寸，生成定位结果，具体为：根据所述各个子模板图的匹配坐标，计算得到各张子模板图覆盖的区域的中心点坐标；根据所述各张子模板图覆盖的区域的中心点坐标、预设的所述待定位电子元件与所述的至少两张子模板图的相对位置，获得所述待定位电子元件的中心点坐标；根据所述待定位电子元件的中心点坐标及预设的所述待定位电子元件的宽和高，生成定位结果。本专利技术还提供了一种电子元件定位装置，包括：目标图片获取单元，用于基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，从相应于所述子模板图的待定位图片中获取包含所述待定位电子元件的目标图片；多模板匹配单元，用于将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度；匹配度选取单元，用于从所述的一组多模板匹配度中选取目标匹配度，并获取对应于所述目标匹配度的各个子模板图的匹配坐标；定位单元，用于根据所述各个子模板图的匹配坐标、预设的所述待定位电子元件与所述的至少两张子模板图的相对位置及预设的所述待定位电子元件的尺寸，生成定位结果。优选地，所述目标图片获取单元具体包括：包围区域生成模块，用于基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，生成包围所述的至少两张子模板图的最小矩形区域；扩展模块，用于对所述最小矩形区域扩展预定的宽度，获取截取窗口；截取模块，用于以所述截取窗口从待定位图片上截取出包含所述待定位电子元件的目标图片。优选地，所述多模板匹配单元具体包括：第一匹配模块，用于在所述目标图片上移动各个子模板图，并获取每个所述子模板图与当前覆盖的目标图片的区域的匹配值；第一多模板匹配计算模块，用于根据每个所述子模板图的匹配值，生成当前的多模板匹配度；其中，在当所述的至少两张子模板图均遍历所述目标图片的所有区域后，生成一组多模板匹配度。优选地，所述多模板匹配单元具体包括：第二匹配模块，用于在所述目标图片上移动各个子模板图，并获取每个所述子模板图与当前覆盖的目标图片的区域的匹配值；几何约束计算模块，用于根据各个子模板图之间的相对位置信息，计算在当前覆盖的区域下，各个子模板图之间的几何约束值；第二多模板匹配计算模块，用于根据每个所述子模板图的匹配值及所述几何约束值，生成当前的多模板匹配度；其中，在当所述的至少两张子模板图均遍历所述目标图片的所有区域后，生成一组多模板匹配度。优选地，所述定位单元具体包括：第一中心坐标计算模块，用于根据所述各个子模板图的匹配坐标，计算得到各张子模板图覆盖的区域的中心点坐标；第二中心坐标计算模块，用于根据所述各张子模板图覆盖的区域的中心点坐标、预设的所述待定位电子元件与所述的至少两张子模板图的相对位置，获得所述待定位电子元件的中心点坐标；定位模块，用于根据所述待定位电子元件的中心点坐标及预设的所述待定位电子元件的宽和高，生成定位结果。本专利技术提供的电子元件定位方法及装置，通过利用与待定位电子元件相关的至少两个子模板图与目标图片同时进行匹配的方法对待定位电子元件进行定位，而不直接采用整个待定位电子元件的模板图像进行定位，因此可避免所述待定位电子元件上的易变化区域对定位结果的影响，保证定位结果的准确性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的电子元件定位方法的流程示意图。图2是本专利技术实施例提供的一种制版的板卡图片的示意图。图3是本专利技术实施例提供的电子元件定位装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件定位方法，其特征在于，包括：基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，从相应于所述子模板图的待定位图片中获取包含所述待定位电子元件的目标图片；将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度；从所述的一组多模板匹配度中选取目标匹配度，并获取对应于所述目标匹配度的各个子模板图的匹配坐标；根据所述各个子模板图的匹配坐标、预设的所述待定位电子元件与所述的至少两张子模板图的相对位置及预设的所述待定位电子元件的尺寸，生成定位结果。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件定位方法，其特征在于，包括：基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，从相应于所述子模板图的待定位图片中获取包含所述待定位电子元件的目标图片；将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度；从所述的一组多模板匹配度中选取目标匹配度，并获取对应于所述目标匹配度的各个子模板图的匹配坐标；根据所述各个子模板图的匹配坐标、预设的所述待定位电子元件与所述的至少两张子模板图的相对位置及预设的所述待定位电子元件的尺寸，生成定位结果。2.根据权利要求1所述的电子元件定位方法，其特征在于，所述子模板图为位于制版的板卡图片中的待定位电子元件的稳定区域的图片，或者为所述制版的板卡图片中的靠近所述待定位电子元件的稳定区域的图片。3.根据权利要求1所述的电子元件定位方法，其特征在于，所述基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，从相应于所述子模板图的待定位图片中获取包含所述待定位电子元件的目标图片，具体为：基于预先选取的与待定位电子元件对应的至少两张子模板图的位置信息，生成包围所述的至少两张子模板图的最小矩形区域；对所述最小矩形区域扩展预定的宽度，生成截取窗口；以所述截取窗口从待定位图片上截取出包含所述待定位电子元件的目标图片。4.根据权利要求1所述的电子元件定位方法，其特征在于，所述将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度，包括：在目标图片上移动各个子模板图，并获取每个所述子模板图与当前覆盖的目标图片的区域的匹配值；根据每个所述子模板图的匹配值，生成当前的多模板匹配度；在当所述的至少两张子模板图均遍历所述目标图片的所有区域后，生成一组多模板匹配度。5.根据权利要求1所述的电子元件定位方法，其特征在于，所述将所述的至少两张子模板图与所述目标图片进行匹配，并根据每张所述子模板图在所述目标图片的匹配值，生成一组多模板匹配度，包括：在所述目标图片上移动各个子模板图，并获取每个所述子模板图与当前覆盖的目标图片的区域的匹配值；根据各个子模板图之间的相对位置信息，计算在当前覆盖的区域下，各个子模板图之间的几何约束值；根据每个所述子模板图的匹配值及所述几何约束值，生成当前的多模板匹配度；在当所述的至少两张子模板图均遍历所述目标图片的所有区域后，生成一组多模板匹配度。6.根据权利要求1所述的电子元件定位方法，其特征在于，所述根据所述各张子模板图的匹配坐标、预设的所述待定位电子元件与所述的至少两张子模板图的相对位置及预设的所述待定位电子...

【专利技术属性】
技术研发人员：林建民，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44