用于测试多用户多入多出系统的系统和方法技术方案

在此公开用于测试多用户多入多出系统的系统和方法。用于测试待测试设备的测试系统包括：信号处理器，其配置为生成多个独立信号，并且将第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个，以生成多个第一衰落测试信号；测试系统接口，其配置为将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备(DUT)的一个或多个信号输入接口；第二信号处理器，其配置为将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号，以生成多个第二衰落测试信号，其中根据所述第一衰落信道特征推导出所述第二衰落信道特征；以及一个或多个测试仪器，其配置为根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及用于测试多用户多入多出系统的系统和方法。
技术介绍
通信需求，尤其是无线通信需求，持续增长。通常称为“5G通信系统”的下一代无线通信系统正在开发中，以满足这些需求。5G通信系统要采用的一种重要技术涉及使用具有大量输入和输出的基站(有时称为大型MIMO系统)以服务于大量通信用户。大型MIMO通过使用过量天线和时分双工操作来进行干净中断(cleanbreak)，以服务于多个有效终端。额外天线将能量集中到比以往更小的空间区域中以带来吞吐量和辐射能量效率的巨大改进。这些系统可能具有几百个发送(Tx)和接收(Rx)信道。在普通通信系统和设备中，类似于其它电子设备，需要测试，并且在一些情况下需要校准。然而，在包括大量输入和输出的多用户大型MIMO通信系统或终端的情况下，测试和校准可能提出挑战。例如，系统性能估计取决于无线信道特征，其在相同时间对于不同用户与不同的输入和输出可能是不同的。因此需要用于测试多用户大型MIMO性能的适当解决方案。因此，期望提供更方便并且更可靠的方法和系统以测试并且校准多用户多入多出通信系统或设备的性能。
技术实现思路
在一个方面中，提供一种用于测试待测试设备(DUT)的方法，所述DUT可以是大型MIMO通信终端。所述方法包括：生成多个独立信号；将第一衰落信道特征应用于所述独立信号，以生成多个第一衰落测试信号；将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备(DUT)的一个或多个信号输入接口；将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号，以生成多个第二衰落测试信号，其中，根据所述第一衰落信道特征推导出所述第二衰落信道特征；并且利用一个或多个测试仪器，根据所述多个第二衰落测试信号来测量所述DUT的至少一个性能特征。在一些实施例中，测量至少一个性能特征包括：测量所述DUT的多个信道的信干噪比(SINR)。在一些实施例中，所述方法还包括：改变所述第一衰落信道特征和所述第二衰落信道特征中的至少一个；通过改变后的所述第一衰落信道特征和所述第二衰落信道特征中的至少一个来测量所述DUT的所述多个信道的SINR。在一些实施例中，将所述多个第一衰落测试信号提供给所述DUT的一个或多个信号输入接口包括：经由所述DUT的光学基带输入将所述多个第一衰落测试信号提供给所述DUT的一个或多个信号输入接口。在一些实施例中，所述方法还包括：将所述DUT的一个或多个基带输出信号提供给所述各测试仪器之一，并且响应于所述多个第一衰落测试信号测量所述DUT的基带处理模块的至少一个性能特征。在一些实施例中，将所述第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个以生成所述多个第一衰落测试信号包括：将所述第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个，以生成多个衰落基带上行链路信号；将所述多个衰落基带上行链路信号应用于一个或多个RF信号生成器，以生成所述多个第一衰落测试信号作为RF信号。在一些实施例中，将所述多个衰落基带上行链路信号应用于一个或多个RF信号生成器以生成所述多个第一衰落测试信号包括：将所述各独立信号中的每一个提供给所述RF信号生成器中的对应一个，其中，每个RF信号生成器生成所述第一衰落测试信号中的对应一个作为对应RF信号。在一些实施例中，包括多入多出(MIMO)收发机，并且其中，将所述多个第一衰落测试信号提供给所述DUT的一个或多个信号输入接口包括：将所述多个第一衰落测试信号提供给所述MIMO收发机的多个RF输入。在一些实施例中，所述一个或多个测试仪器包括一个或多个RF测试仪器，所述方法还包括：将所述DUT的一个或多个RF输出信号作为一个或多个输入信号提供给所述一个或多个RF测试仪器，并且其中，根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征包括：通过所述一个或多个RF测试仪器来测量所述DUT的RF处理模块的至少一个性能特征。在一些实施例中，所述一个或多个测试仪器包括一个或多个RF测试仪器，所述方法还包括：将所述DUT的一个或多个RF输出信号提供给所述一个或多个RF测试仪器；将第二衰落信道特征应用于所述一个或多个RF测试仪器的多个输出，其中，响应于所述多个衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征包括：测量所述多个第二独立衰落测试信号的至少一个特征。在另一方面中，提供一种用于测试待测试设备的测试系统。所述测试系统包括：一个或多个信号处理器，其配置为生成多个独立信号，并且将第一衰落信道特征应用于所述各独立信号中的每一个，以生成多个第一衰落测试信号；至少一个测试系统接口，其配置为将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备(DUT)的一个或多个信号输入接口；以及一个或多个测试仪器。所述一个或多个信号处理器被配置为将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号，以生成多个第二衰落测试信号。所述一个或多个信号处理器被配置为据所述第一衰落信道特征推导所述第二衰落信道特征。所述一个或多个测试仪器被配置为据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征。在一些实施例中，一个或多个测试仪器被配置为测量所述DUT的多个信道的信干噪比(SINR)。在一些实施例中，所述一个或多个信号处理器包括：第一信号处理器，其包含存储器；数字处理器，其配置为执行所述存储器中所存储的指令以使得所述数字处理器生成所述多个第一衰落测试信号。在一些实施例中，所述数字处理器进一步被配置为改变所述第一衰落信道特征，其中，所述一个或多个测试仪器进一步被配置为通过改变后的第一衰落信道特征来测量所述DUT的所述多个信道的SINR。在一些实施例中，所述DUT所生成的所述一个或多个输出信号包括一个或多个基带输出信号，所述一个或多个测试仪器包括一个或多个基带测试仪器，其配置为接收所述一个或多个基带输出信号，并且据所述一个或多个基带输出信号测量所述DUT的至少一个性能特征。在一些实施例中，所述系统还包括：一个或多个RF信号生成器，其中，所述第一信号处理器被配置为将所述第一衰落信道特征应用于所述各独立信号中的每一个，以生成多个衰落基带上行链路信号，以及其中，所述一个或多个RF信号生成器中的每一个被配置为接收所述多个衰落基带上行链路信号中的一个或多个，并且据此生成所述多个第一衰落测试信号作为RF信号。在一些实施例中，所述系统还包括：一个或多个RF信号生成器，其中，所述一个或多个信号处理器包括第一信号处理器，其配置为将所述第一衰落<本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试待测试设备的方法，所述方法包括：生成多个独立信号；将第一衰落信道特征应用于所述独立信号，以生成多个第一衰落测试信号；将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备DUT的一个或多个信号输入接口；将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号，以生成多个第二衰落测试信号，其中，根据所述第一衰落信道特征推导出所述第二衰落信道特征；以及利用一个或多个测试仪器，根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征。

【技术特征摘要】
1.一种测试待测试设备的方法，所述方法包括：
生成多个独立信号；
将第一衰落信道特征应用于所述独立信号，以生成多个第一衰落测试信
号；
将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备DUT的一个或多
个信号输入接口；
将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号，以生成多个第
二衰落测试信号，其中，根据所述第一衰落信道特征推导出所述第二衰落信
道特征；以及
利用一个或多个测试仪器，根据所述多个第二衰落测试信号测量所述
DUT的至少一个性能特征。
2.如权利要求1所述的方法，其中，测量至少一个性能特征包括：测量
所述DUT的多个信道的信干噪比SINR。
3.如权利要求2所述的方法，还包括：
改变所述第一衰落信道特征和所述第二衰落信道特征中的至少一个；和
利用改变后的所述第一衰落信道特征和所述第二衰落信道特征中的至
少一个来测量所述DUT的所述多个信道的SINR。
4.如权利要求1所述的方法，其中，将所述多个第一衰落测试信号提供
给所述DUT的一个或多个信号输入接口包括：经由所述DUT的光学基带输
入将所述多个第一衰落测试信号提供给所述DUT的一个或多个信号输入接
口。
5.如权利要求1所述的方法，还包括：将所述DUT的一个或多个基带
输出信号提供给各测试仪器之一，并且响应于所述多个第一衰落测试信号来
测量所述DUT的基带处理模块的至少一个性能特征。
6.如权利要求1所述的方法，其中，将所述第一衰落信道特征应用于各
独立信号中的每一个以生成所述多个第一衰落测试信号包括：
将所述第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个，以生成多个衰
落基带上行链路信号；以及
将所述多个衰落基带上行链路信号应用于一个或多个RF信号生成器，
以生成所述多个第一衰落测试信号作为RF信号。
7.如权利要求6所述的方法，其中，将所述多个衰落基带上行链路信号
应用于一个或多个RF信号生成器以生成所述多个第一衰落测试信号包括：
将各独立信号中的每一个提供给所述RF信号生成器中的对应一个，其中，
每个RF信号生成器生成所述第一衰落测试信号中的对应一个作为对应RF
信号。
8.如权利要求7所述的方法，其中，所述DUT包括多入多出MIMO收
发机，并且其中，将所述多个第一衰落测试信号提供给所述DUT的一个或
多个信号输入接口包括：将所述多个第一衰落测试信号提供给所述MIMO
收发机的多个RF输入。
9.如权利要求6所述的方法，其中，所述一个或多个测试仪器包括一个
或多个RF测试仪器，所述方法还包括：将所述DUT的一个或多个RF输出
信号作为一个或多个输入信号提供给所述一个或多个RF测试仪器，并且其
中，根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征包
括：利用所述一个或多个RF测试仪器来测量所述DUT的RF处理模块的至
少一个性能特征。
10.如权利要求6所述的方法，其中，所述一个或多个测试仪器包括一个
或多个RF测试仪器，所述方法还包括：
将所述DUT的一个或多个RF输出信号提供给所述一个或多个RF测试
仪器；以及
使用所述一个或多个RF测试仪器来测量所述DUT的所述至少一个性能

【专利技术属性】
技术研发人员：孔宏伟，景雅，赵旭，
申请(专利权)人：是德科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US