气相色谱仪制造技术

本发明专利技术提供一种气相色谱仪，该气相色谱仪能够利用检测器用基板来对检测器的检测信号进行高精度的处理。气相色谱仪(1)包括：对恒温箱(3)内进行温度调节的温度调节部(13)和连接至检测器(6)的检测器用基板(16)。温度调节部(13)在框体(2)内配置于背面(2B)侧，检测器用基板(16)在框体(2)内配置于前表面(2C)侧。即，检测器用基板(16)配置在框体(2)中的不受温度调节部(13)的发热的影响的位置。由此，能够防止检测器用基板(16)受到温度调节部(13)的发热的影响。其结果，能够利用检测器用基板(16)来对检测器(6)的检测信号进行高精度的处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种气相色谱仪，用于将试样导入至配置于恒温箱内的色谱柱，由检测器检测在经过色谱柱的过程中所分离了的试样成分，从而进行分析。
技术介绍
以往，已知了一种气相色谱仪，该气相色谱仪包括框体、配置在框体内且将色谱柱容纳于内部的恒温箱以及配置于框体内的检测器。在气相色谱仪中，利用恒温箱来加热色谱柱。并且，将试样导入被加热了的色谱柱中，由检测器检测由于经过色谱柱而被分离了的试样成分(参见例如下述专利文献1)。另外，在这种气相色谱仪中，通常，在框体内配置有对恒温箱内进行温度调节的温度调节部以及用于对来自检测器的检测信号进行处理的检测器用基板。并且，在气相色谱仪中的分析过程中，一边由温度调节部对恒温箱内进行温度调节，一边由检测器用基板对检测器的检测信号进行处理。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利第5206567公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题在如上所述的现有气相色谱仪中，通常，温度调节部包含由于SSR(固态继电器)、三端双向可控硅开关元件等进行动作而发热的部件。另外，温度调节部及检测器用基板经由中继基板等分别与主基板连接，且相互靠近。因此，由于温度调节部发热，有时检测器用基板会变成高温，在这种情况下，有时在利用检测器用基板进行的对检测器的检测信号的处理中会产生不佳状况。本专利技术正是鉴于上述实际情况而完成的，其目的在于提供一种气相色谱仪，能够利用检测器用基板，对检测器的检测信号进行高精度的处理。用于解决课题的手段(1)本专利技术的气相色谱仪用于通过将试样导入至配置在恒温箱内的色谱柱，利用检测器来检测在经过所述色谱柱的过程中被分离了的试样成分，从而进行分析，包括框体、风扇、温度调节部及检测器用基板。所述框体将所述恒温箱、所述色谱柱及所述检测器容纳于内部，并且在背面侧形成有排气口。所述风扇配置于所述框体内的背面侧，使所述框体内的空气从所述排气口排出。所述温度调节部配置于所述框体内的背面侧，且对所述恒温箱内进行温度调节。所述检测器用基板配置在所述框体内的不受所述温度调节部的发热的影响的位置，且与所述检测器连接。根据这种结构，能够防止检测器用基板受到温度调节部的发热的影响。因此，能够利用检测器用基板对检测器的检测信号进行高精度的处理。另外，由于风扇、排气口及温度调节部均配置于框体内的背面侧，所以能够高效地对温度调节部进行冷却。因此，能够减小温度调节部的发热的影响。其结果，能够利用检测器用基板来对检测器的检测信号进行更高精度的处理。(2)另外，所述检测器用基板也可以配置于所述框体内的前表面侧。根据这种结构，由于温度调节部在框体内配置于背面侧，检测器用基板在框体内配置于前表面侧，所以能够保持较大的温度调节部和检测器用基板的间隔。因此，能够可靠地防止检测器用基板受到温度调节部的发热的影响。(3)另外，也可以在所述恒温箱和所述框体的背面之间形成空间。所述风扇及所述温度调节部也可以配置在所述空间中。根据这种结构，能够利用恒温箱和框体的背面之间的空闲空间来配置温度调节部。另外，能够防止在框体内将温度调节部配置在遮挡空气流动的位置。因此，能够在有效地利用框体内的空闲空间的同时，减小温度调节部的发热的影响。(4)另外，所述气相色谱仪还可以包括马达。所述马达配置于所述空间并且驱动所述风扇。所述温度调节部也可以配置于所述马达的侧方。根据这种结构，能够在框体内有效地利用为了配置马达所需的空间来配置温度调节部。(5)另外，所述气相色谱仪还可以包括流量控制部。所述流量控制部配置于所述空间中的上侧，对导入至所述色谱柱的气体的流量进行控制。所述温度调节部也可以配置于所述空间中的下侧。根据这种结构，能够在框体内高效地将温度调节部配置在与流量控制部不同的位置。专利技术的效果根据本专利技术，由于能够防止检测器用基板受到温度调节部的发热的影响，所以能够利用检测器用基板，对检测器的检测信号进行高精度的处理。附图说明图1是示出了本专利技术的一种实施方式的气相色谱仪的结构例的概略俯视剖面图。图2是示出了图1的气相色谱仪的侧视剖面图。具体实施方式1.气相色谱仪的整体结构图1是示出了本专利技术的一种实施方式的气相色谱仪1的结构例的概略俯视剖面图。图2是示出了图1的气相色谱仪1的侧视剖面图。气相色谱仪1包括：框体2、恒温箱3、色谱柱4、加热器5、检测器6、试样导入部7、流量控制部8、马达9、第1风扇11、第2风扇12及温度调节部13。框体2形成为箱形状。在框体2中形成有多个通气口21、排气口22及开口23。各通气口21形成于框体2的底面2A。各通气口21在上下方向贯穿框体2的底面2A。多个通气口21配置于框体2的底面2A的左右方向两端部的各端部，且沿前后方向相互隔开间隔地配置。排气口22形成于框体2的背面2B的中央部。排气口22在前后方向贯穿框体2的背面2B。如图1所示，开口23形成于框体2的前表面2C。开口23在前后方向贯穿框体2的前表面2C。开口23通过可开闭的门14而被关闭。另外，在框体2的前表面2C的左右方向的一端部(右端部)配置有操作部15。如图1及图2所示，恒温箱3容纳于框体2内。恒温箱3形成为箱形状。恒温箱3被放置于框体2的底面2A的中央部，与框体2的背面2B、前表面2C、侧面2D分别隔开间隔地配置。如图2所示，色谱柱4配置于恒温箱3内。色谱柱4由例如毛细管色谱柱构成。加热器5配置于恒温箱3内，且配置在色谱柱4的后方。如图1及图2所示，检测器6配置在恒温箱3上。对检测器6连接了色谱柱4的一端。检测器6例如由氢焰离子化型检测器或导热系数型检测器等构成。检测器6依次对从色谱柱4导入的载气中所包含的各试样成分进行检测。检测器6与检测器用基板16连接。检测器用基板16安装在检测器6附近的恒温箱3的侧面。检测器用基板16是用于对来自检测器6的检测信号进行处理的基板，例如，安装有AD转换器、放大器等。试样导入部7配置于恒温箱3上。对试样导入部7连接了色谱柱4的另一端。在进行分析的时候，从流量控制部8将载气供给至试样导入部7，在试样导入部7内被气化了的试样与载气一起被导入至色谱柱4内。流量控制部8配置在框体2内。具体地，流量控制部8安装在框体2的背面2B的上部，隔开间隔地配置在恒温箱3的后方。即，流量控制部8配置于框体2内的恒温箱3与背面2B之间的空间24中的上侧。流量控制部8包括例如AFC(AdvancedFlowController，高级流量控制器)、APC(AutoPressureController，自动压力控制器)，且与试样导入部7连接。马达9安装在恒温箱3的背面的中央部。即，马达9配置在框体2内的空间24的上下方向中央部且左右方向中央部。如图2所示，第1风扇11容纳于恒温箱3内。第1风扇11配置在加热器5的后方。构成为向第1风扇11赋予马达9的驱动力。如图1及图2所示，第2风扇12配置于框体2内的空间24，隔开间隔地配置在排气口22的前方。构成为向第2风扇12赋予马达9的驱动力。即，通过马达9驱动，第2风扇12与第1风扇11一起转动。温度调节部13配置于框体2内的空间24的下侧。温度调节部13包括：通过在基板上安装SSR(固态继电器)、三端双向可控硅开关元件等而构成的主体部17以及安装于主体部17的散热板18。虽未图示，但主体部17与加热本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种气相色谱仪，其用于将试样导入至配置在恒温箱内的色谱柱，利用检测器来检测在经过所述色谱柱的过程中被分离了的试样成分，从而进行分析，所述气相色谱仪的特征在于，包括：框体，其将所述恒温箱、所述色谱柱及所述检测器容纳于内部，在背面侧形成有排气口；风扇，其配置于所述框体内的背面侧，使所述框体内的空气从所述排气口排出；温度调节部，其配置于所述框体内的背面侧，对所述恒温箱内进行温度调节；以及检测器用基板，其配置在所述框体内的不受所述温度调节部的发热的影响的位置，且与所述检测器连接。

【技术特征摘要】
2015.08.25 JP 2015-0042921.一种气相色谱仪，其用于将试样导入至配置在恒温箱内的色谱柱，利用检测器来检测在经过所述色谱柱的过程中被分离了的试样成分，从而进行分析，所述气相色谱仪的特征在于，包括：框体，其将所述恒温箱、所述色谱柱及所述检测器容纳于内部，在背面侧形成有排气口；风扇，其配置于所述框体内的背面侧，使所述框体内的空气从所述排气口排出；温度调节部，其配置于所述框体内的背面侧，对所述恒温箱内进行温度调节；以及检测器用基板，其配置在所述框体内的不受所述温度调节部的发热的影响的位置，且与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：小岛雅弘，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP