一种通信光纤宏弯损耗测试方法技术

本发明专利技术公开了一种通信光纤宏弯损耗测试方法，将待测通信光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈后，置于光功率吸收剂中，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而实现在测试过程中有效吸收泄露出光纤的光功率，抑制W波对测试的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了宏弯损耗测试的准确性和稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤测试
，具体涉及一种通信光纤宏弯损耗测试方法。
技术介绍
通信光纤的宏弯损耗随波长的增加和弯曲半径的减少而增大，在弯曲半径情况下对光纤的宏弯损耗进行测试时，针对同一个测试样品、在相同测试条件下，多次测试结果会出现较大差异，引起该差异的主要原因是弯曲条件下辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合，在特定的条件下会出现干涉加强或减弱的现象，称为Whisperinggallerymodes（简称W波）的影响。受该现象的影响，在进行光纤的宏弯损耗测试时，将会出现宏弯损耗振荡现象，导致宏弯损耗测试结果不准确。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是抑制W波的影响，实现对通信光纤宏弯损耗的准确、稳定测试，目的在于提供一种通信光纤宏弯损耗测试方法，解决当前测试方法测量不准确、稳定性差的问题。本专利技术通过下述技术方案实现：一种通信光纤宏弯损耗测试方法，包括如下步骤：A、按照测试要求制备待测光纤，具体为将待测光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈；B、将待测光纤置于光功率吸收剂中；C、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。特别地，所述光功率吸收剂的光折射率大于等于光纤涂层的光折射率。特别地，所述光功率吸收剂的光折射率大于等于光纤包层的光折射率，所述待测光纤采用剥除涂层后的光纤。特别地，所述光功率吸收剂具体采用肉桂酸乙酯。特别地，所述光功率吸收剂具体采用甘油。本专利技术与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：本专利技术所述一种通信光纤宏弯损耗测试方法，将待测光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈后，置于光功率吸收剂中，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而实现在测试过程中有效吸收泄露出光纤的光功率，抑制W波对测试的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性和稳定性。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本专利技术实施例的限定。在附图中：图1为本专利技术实施例1提供的存在W波干扰时光纤内部光折射结构图。图2为本专利技术实施例1提供的采用肉桂酸乙酯作为光功率吸收剂时获得的光纤宏弯损耗测试结果。图3为本专利技术实施例2提供的采用甘油作为光功率吸收剂时获得的光纤宏弯损耗测试结果。图4为本专利技术实施例1提供的通信光纤宏弯损耗测试方法流程图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。光纤由二氧化硅玻璃制成，光吸收和散射是引起损耗的因素，另一个引起光损耗的因素是光纤的弯曲，它导致全反射条件的破坏。通信光纤中宏弯损耗随波长的增加和弯曲半径的减小而增大。在小弯曲半径情况下对通信光纤的宏弯损耗进行测试时，针对同一个测试样品、在相同测试条件下，多次测试结果会出现较大差异。引起该差异的主要原因是弯曲条件下辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合，在特定的条件下会出现干涉加强或减弱的现象，称为Whisperinggallerymodes（简称W波）的影响。如图1所示，图1为本专利技术实施例1提供的存在W波干扰时通信光纤结构图。受该现象的影响，在进行通信光纤的宏弯损耗测试时，将会出现宏弯损耗振荡现象，导致宏弯损耗测试结果不准确为了抑制通信光纤宏弯损耗测试过程中W波的存在对测试结果产生的干扰，将待测光纤置于光功率吸收剂中，该光功率吸收剂的光折射率大于光纤涂层和、或光纤包层的光折射率，则可实现对泄露出光纤的光功率的吸收，避免辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合，从而抑制W波对测试的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值。实施例1如图4所示，图4为本专利技术实施例1提供的通信光纤宏弯损耗测试方法流程图。本实施例采用肉桂酸乙酯作为光功率吸收剂对光纤进行宏弯损耗的测试，具体方法包括：S101、将待测通信光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈。关于光纤宏弯损耗的测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中对于B1.3类单模光纤有两处描述，其一为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB；其二为：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。在国家标准GB/T9771.7-2012中B6类单模光纤由于宏弯损耗随波长增加，选择了1550nm和1625nm两个长波长处的宏弯损耗作为指标。为了保证宏弯损耗易于测量和测量准确度，可用其他弯曲半径和圈数进行试验，在此情况下，绕的圈数、环的半径和最大允许的宏弯损耗，都应该与表中的指标相适应。基于上述标准，本实施例选取一段长度22m，型号为G.657.A2的光纤进行测试，按照Φ15mm*1圈的标准制备待测光纤，将待测光纤以7.5mm为半径绕一圈。S102、将待测光纤置于光功率吸收剂中。在光纤宏弯损耗测试过程中，因弯曲条件下辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合，从而导致W波的存在，进而对测试结果产生干扰，故为了获得光纤宏弯损耗的真实数值，应尽可能对泄露出通信光纤的光功率进行吸收。通信光纤涂层的光折射率大于包层的光折射率，将待测光纤置于光折射率大于光纤涂层的光折射率的液体中进行测试，可以对泄露出光纤涂层的光功率进行有效吸收，获得的测试结果准确性、稳定性更高。光折射率不同的介质对于光功率的吸收效果不同，肉桂酸乙酯的光折射率为1.567，同时肉桂酸乙酯具有易获得、价格便宜、无危害的特点，而光纤的包层和涂层的光折射率分别为1.4和1.5，故本实施例采用肉桂酸乙酯作为光功率吸收剂，将步骤S101制备的待测光纤置于肉桂酸乙酯中。S103、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。将宏弯损耗测试装置与待测光纤连接，对步骤S102中置于肉桂酸乙酯中的光纤的宏弯损耗进行测试，获得的测试结果如图2所示，图2为本专利技术实施例1提供的采用肉桂酸乙酯作为光功率吸收剂时获得的宏弯损耗测试结果。图2中虚线所示曲线为将待测光纤置于空气中获得的波长及宏弯损耗对应曲线图，实线所示为将待测光纤置于肉桂酸乙酯中获得的波长及宏弯损耗对应曲线图，通过两条曲线的对比可以看出，将待测光纤置于肉桂酸乙酯中获得的测试结果曲线更为平滑，消除了宏弯损耗宏弯损耗随波长的振荡现象。故肉桂酸乙酯作为光功率吸收剂，可以大大吸收泄露出光纤涂层的光功率，抑制W波产生的影响，从而获得宏弯损耗的真实数值，保证了宏弯损耗测试的准确性。需要说明的是本实施例所述方法同样适用于按照Φ60mm*100圈标准、以及按照1圈或几圈小半径环标准制备的光纤的测试。实施例2本实施例与实施例1的测试步骤相似，区别在于所述光功率吸收剂的光折射率大于光纤包层的光折射率，为获取更为稳定的测试结果，剥除光纤涂层后再将其置于光功率吸收剂中进行测试。作为光功率吸收剂，甘油的光折本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通信光纤宏弯损耗测试方法，其特征在于，包括如下步骤：A、按照测试要求制备待测光纤，具体为将待测光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈；B、将待测光纤置于光功率吸收剂中；C、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种通信光纤宏弯损耗测试方法，其特征在于，包括如下步骤：A、按照测试要求制备待测光纤，具体为将待测光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈；B、将待测光纤置于光功率吸收剂中；C、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。2.如权利要求1所述的通信光纤宏弯损耗测试方法，其特征在于，所述光功率吸收剂的光折射率大于等于光纤涂层的光折射率...

【专利技术属性】
技术研发人员：李琳莹，甘露，宋志佗，李秋云，
申请(专利权)人：电信科学技术第五研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51