在釉面上定位形成结晶的方法及其制得的陶瓷和使用的釉技术

本发明专利技术公开一种使晶花在预定的位置上生成的方法及其制得的陶瓷产品和使用的陶瓷釉。陶瓷釉包括基础釉和定位剂，基础釉含有ＳｉＯ↓［２］、Ａｌ↓［２］Ｏ↓［３］、ＣａＯ、ＭｇＯ、Ｋ↓［２］Ｏ和／或Ｎａ↓［２］Ｏ、ＺｎＯ，定位剂含有ＺｎＯ和ＳｉＯ↓［２］。基础釉制成釉浆施于陶瓷坯体上，再涂覆定位剂制成的乳液，经釉烧，保温结晶得到陶瓷制品。本发明专利技术使釉层中晶花的位置成为可以控制，操作简单，结晶定位准确可靠，成晶过程容易控制，可用于制作日用陶瓷、工艺陶瓷产品。

Method for positioning crystallization on glazed surface and ceramic made from the same and glaze used

The present invention discloses a method for producing a crystal flower in a predetermined position, a ceramic product and a ceramic glaze used thereof. Including the basis of ceramic glaze glaze and glaze contains SiO based positioning agent, down 2, down Al 2: O 3, CaO, MgO, K: 2 O and / or Na: 2 O, ZnO, ZnO and SiO: positioning agent containing 2. The base glaze is made into glaze slurry, applied to the ceramic body, and then coated with an emulsion made from the fixing agent. The invention makes the position of the MICROTEK layer of the glaze layer be controllable, the operation is simple, the crystallization positioning is accurate and reliable, the crystallization process is easy to control, and the utility model can be used for making domestic ceramics and process ceramic products.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及陶瓷制品及其制造方法和使用的材料，具体是在陶瓷釉面上 形成结晶的方法及其制得的陶瓷产品和所使用的陶瓷釉。
技术介绍
在陶瓷釉面上形成结晶具有其特别的美感，在工艺瓷中受到欢迎，因此 某些高档的工艺陶瓷应用了结晶釉进行装饰。中国专利技术专利公开说明书CN1488596A公开一种铜绿结晶釉及其制作方 法，以ZnO、 Ti02为引晶剂，以Mn02、 CuO为发色剂加入到常规使用的釉 中，釉烧后的冷却过程析出晶体。但该方法析出的结晶体在瓷器中的位置是 随机的，结晶出现的位置不能控制，而且需要施釉的厚度较大，釉烧过程熔 融状态的釉向下流动，造成下部釉层过厚并且不均匀，因此成品率不高，还 不能用于生产日用陶瓷。中国专利技术专利公开说明书CN1521145A公开一种金属光泽结晶釉，以 ZnO、 Si02、 Ti02为成晶物质，釉烧后可在釉面中形成晶花。该方法出现的 缺陷与CN1488596A—样，析出的结晶在瓷器中位置是随机的，结晶出现的 位置不能控制，釉层厚度较大，釉烧过程中釉层不均匀向下流动，造成下部 釉层过厚且不均匀。专利技术创造内容本专利技术的目的是提供一种使晶花在预定的位置上生成的方法及其制得的 陶瓷产品，以及该方法所使用的陶瓷釉。本专利技术使用的陶瓷釉包括施于陶瓷坯体上的基础釉和使结晶在预定位置 生成的定位剂。本专利技术基础釉含有以下组分和重量百分比Si02: 42.3-65.3%, A1203: 7.7~13.9%， CaO: 4,8~12.4%， MgO: 0.5~2.6%， K20禾口/或Na20: 3.7~6.70/o， ZnO: 13.8 32%。优选的基础釉组分和重量百分比为Si02:47.1-59.4%， Al203:8.5 12.6%， CaO: 5.3 11.30/0， MgO: 0.6~2.4%， K20和/或Na20: 4.1~6.1%， ZnO: 15.3 29.1%。如采用矿石或化合物为原料，基础釉的组分和重量百分比为石英12~24°/。，长石28 52%，石灰石8~19%，滑石1.5~8%，粘土 3~8%，氧化锌 14~30%。优选的组分和重量百分比为石英15~20%，长石35 43%，石灰 石10 16%，滑石2~6%，粘土4~6%，氧化锌16~25%。定位剂含有以下组分和重量百分比ZnO: 30~70%， Si02: 30~70%。优 选的组分和重量百分比为ZnO: 50 70%， Si02: 30 50%。基础釉中还可以加入着色材料使釉烧后的釉层和结晶体显示颜色，定位 剂中也可以加入着色材料使釉烧后的结晶体显示颜色。本专利技术在陶瓷釉面上定位形成结晶的方法包含以下步骤a.将上述基础釉按所述ia分和比例混合，加水球磨，形成固体颗粒细度为通过200 300目筛的釉浆；B. 将上述定位剂按所述组分和比例混合，粉碎，使固体颗粒细度为通 过250 400目筛，加入粘结剂水溶液，调均形成乳液涂料；C. 将上述釉浆施于陶瓷生坯或素坯上，干燥后，在预定形成晶花的位置上印刷或涂覆所述乳液涂料，或者贴上由所述乳液涂料印刷的花纸；D. 按每小时150 30(TC的升温速度进行釉烧，升至终点温度1220 1280 。C后降温，在1100 1160。C下保温结晶0.5 3小时，冷却，得到陶瓷制品。上述步骤D中，升温速度优选每小时200~260°C，终点温度优选1240 1260°C，保温温度优选1130~1150°C，保温结晶时间优选1~2小时。粘结剂水溶液可以按照陶瓷业印制釉下花纸通常使用的粘结剂，例如由 糖蜜、植物胶、淀粉、淀粉衍生物、纤维素衍生物如羧甲基纤维素等组成的 粘结剂溶于水中形成的水溶液，粘结剂浓度可以在0.2 10wt。/。之间。本专利技术使釉层中晶花的位置成为可以控制，基础釉的施釉厚度可以与普 通日用陶瓷相同，不再出现釉层厚度不均现象，釉烧后在印刷或涂覆定位剂 的位置上形成以定位剂为中心，大小基本相同的放射状晶花，其它位置的釉 层仍为透明状态，不再形成结晶，可以根据釉层配方和保温时间的不同形成 6~20mm长度的针状晶体。本专利技术操作简单，结晶定位准确可靠，成晶过程 容易控制，制成的陶瓷制品成品率高，成本低，可用于制作日用陶瓷、工艺 陶瓷产品。具体实施例方式实施例1取石英1.8千克，钠长石3.9千克，石灰石1.3千克，滑石500克，粘土 500克，氧化锌2千克混合，加6升水混合球磨至固体颗粒细度为过250目 筛后筛余量< 0.3%,形成基础釉釉浆。取氧化锌600克，石英400克混合，粉碎至固体颗粒细度为过300目筛 后筛余量< 0.3%，加入市场销售的用于丝板印刷釉下花纸的粘结剂0.5升， 调均成为乳液涂料。用丝板印刷方法将该乳液涂料印刷到花纸上，干燥后形 成直径5毫米，中心间距5厘米的定位剂圆点。取一批陶瓷盘生坯和素坯，分别清理干净，将上述釉浆采用淋釉和浸釉 方式施于陶瓷盘生坯和素坯上。釉层干燥后在盘面的侧边贴上印刷有乳液涂 料的花纸。然后装窑釉烧，按每小时21(TC的升温速度进行釉烧，升至终点温度125(TC后停火降温，温度降至1140土10。C时保温1小时，停火自然冷却，得 到陶瓷制品。制得的瓷器可观察到釉面在贴有定位剂的位置形成外轮廓为圆形的放射 状晶花，晶体呈针状白色，长度约10毫米，晶花中心间距5厘米，釉面其 余部位为透明。实施例2取石英1.6千克，钾长石4.2千克，石灰石1千克，滑石200克，粘土 600克，氧化锌2.4千克，氧化铜150克混合，加6升水混合球磨至固体颗 粒细度为过250目筛后筛余量<0.3%，形成基础釉釉浆。取氧化锌500克，石英500克，混合粉碎至固体颗粒细度为过300目筛 后筛余量< 0.3%，加入0.2wt。/。糖蜜和植物胶组成的粘结剂水溶液1升，调均 成为定位剂乳液涂料。将陶瓷盘生坯或素坯清理干净，将上述基础釉釉浆采用喷涂方式施于陶 瓷生坯或素坯上。釉层干燥后在预定形成晶花的位置上刷涂上定位剂乳液涂 料。然后装窑釉烧，按每小时25(TC的升温速度进行釉烧，升至终点温度 125(TC后降温，再在1140士10'C下保温2小时，冷却，得到陶瓷制品。制得的瓷器可观察到釉面在涂有定位剂的位置形成放射状绿色晶花，有 金属光泽，针状晶体长度约10毫米，釉面其余部位为绿色透明。实施例3取石英2千克，钠长石2.3千克，钾长石2千克，石灰石1.6千克，滑石 200克，粘土 400克，氧化锌1.5千克，氧化铁200克，二氧化钛100克混 合，加5升水混合球磨至固体颗粒细度为过250目筛后筛余量< 0.3%，形成 基础釉釉桨。取氧化锌700克，石英300克，混合粉碎至固体颗粒细度为过300目筛 后筛余量< 0.3%，加入0.3wt。/。羧甲基纤维素组成的粘结剂水溶液1升，调均 成为定位剂乳液涂料。将陶瓷花瓶生坯或素坯清理干净，将上述基础釉釉浆采用喷涂方式施于 陶瓷生坯或素坯上。釉层干燥后，用带孔的模板隔离后喷上定位剂乳液涂料， 在模板孔位形成规则的定位剂涂层。然后装窑釉烧，按每小时25(TC的升温速度进行釉烧，升至终点温度 1250。C后降温，再在1140士10。C下保温1.5小时，冷却，得到陶瓷制品。制得的瓷器可观察到釉面在喷本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可在陶瓷釉面上定位形成结晶的陶瓷釉，其特征在于，包括施于陶瓷坯体上的基础釉和使结晶在确定位置生成的定位剂；所述基础釉含有以下组分和重量百分比：ＳｉＯ↓［２］：４２．３～６５．３％，Ａｌ↓［２］Ｏ↓［３］：７．７～１３．９％，Ｃａ Ｏ：４．８～１２．４％，ＭｇＯ：０．５～２．６％，Ｋ↓［２］Ｏ和／或Ｎａ↓［２］Ｏ：３．７～６．７％，ＺｎＯ：１３．８～３２％；所述定位剂含有以下组分和重量百分比：ＺｎＯ：３０～７０％，ＳｉＯ↓［２］：３０－７０％。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邱伟志，黄玉銮，
申请(专利权)人：广东省枫溪陶瓷工业研究所，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]