回归反射型光电传感器制造技术

本发明专利技术涉及回归反射型光电传感器，提供一种能够通过简单的结构来对检测体进行稳定检测的回归反射型光电传感器。其具备形成于投光透镜(12)的、与受光元件(13)侧相反的一侧的面的第一遮光部(121)以及形成于受光透镜(14)的、与投光元件(11)侧相反的一侧的面的第二遮光部(141)。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及投光轴与受光轴不是同轴的异轴式的回归反射型光电传感器，特别涉及对使光透过并弯曲的塑料瓶等进行检测的回归反射型光电传感器。
技术介绍
以往以来，作为回归反射型光电传感器的光学系统，例如有将异轴式的回归反射型光电传感器与反射板组合而得到的光学系统。在这样的回归反射型光电传感器中，在没有检测体的状态下，投光元件发出的光通过投光透镜而作为形成规定的投光区域的投光光束射出，该投光光束入射到反射板并被反射而成为受光光束，以100％的状态到达受光透镜和受光元件。因此，在回归反射型光电传感器中，当检测体进入投光元件以及受光元件与反射板之间时，由于由该检测体遮挡光路，入射到受光元件的光量发生变化，将进行光电转换的量的减少输出为检测信号，从而检测该检测体。但是，在上述的回归反射型光电传感器中，例如，当透射率高的复杂的形状的检测体进入时，在检测体的表面变成由检测体引起的漫射光、折射光，连本来与检测无关的光也进入受光透镜以及受光元件，有时与没有检测体的状态相比，在有检测体的状态下，从反射板返回到受光透镜以及受光元件的光增加，存在无法进行检测体的稳定检测这样的问题。针对这样的问题，例如在专利文献1中公开了以下技术：在回归反射型光电传感器主体形成投光侧狭缝与受光侧狭缝，通过投光侧狭缝，去除未进入投光区域中的反射器的尺寸的无效光，另外，通过受光侧狭缝，防止无效光绕过来，从而能够稳定检测使光透过并折射的检测物体。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2002-279870号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题然而，在专利文献1所公开的技术中，存在如下这样的课题：需要在回归反射型光电传感器主体中形成投光侧狭缝与受光侧狭缝，回归反射型光电传感器内部的构造变得复杂，另外，由于投光侧狭缝和受光侧狭缝，回归反射型光电传感器的制作工序也变得复杂。本专利技术是为了解决上述那样的课题而完成的，其目的在于，提供一种能够通过简单的结构来对检测体进行稳定检测的回归反射型光电传感器。解决技术问题的技术手段本专利技术涉及一种回归反射型光电传感器，其是在回归反射型的光学系统中使用的、投光轴与受光轴不是同轴的回归反射型光电传感器，在该回归反射型的光学系统中，通过投光透镜将从投光元件出来的光射出，从该投光透镜射出了的光在反射板上反射而成为回归光，使该回归光通过受光透镜而由受光元件进行受光，其中，该回归反射型光电传感器具备：第一遮光部，其形成于投光透镜的与受光元件侧相反的一侧的面；以及第二遮光部，其形成于受光透镜的与投光元件侧相反的一侧的面。专利技术效果根据本专利技术，能够提供一种能够通过简单的结构来对检测体进行稳定检测的回归反射型光电传感器。附图说明图1是说明一般的回归反射型光电传感器的光学系统的一个例子的图。图2是说明一般的异轴式的回归反射型光电传感器的结构的一个例子的图。图3是说明在一般的回归反射型光电传感器的光学系统中对检测体进行检测的构造的图。图4是示出在一般的回归反射型光电传感器与反射板之间存在透射率高且形状复杂的检测体的情况下的一个例子的图。图5是说明在一般的回归反射型光电传感器的光学系统中当在回归反射型光电传感器与反射板之间没有任何检测体的状态下从正面看反射板的情况下的投光区域、受光区域、交错区域的一个例子的图。图6是说明在一般的回归反射型光电传感器的光学系统中发生投光光束的折射等并且在交错区域以上的区域进行受光的一个例子的图。图7是说明一般的单筒式的回归反射型光电传感器的光学系统的一个例子的图。图8是本专利技术的实施方式1的回归反射型光电传感器的结构图。图9是说明在实施方式1中通过将遮光部与透镜体一体成型而形成的一个例子的图。图10是说明在实施方式1中在回归反射型光电传感器的外部的投光透镜和受光透镜上设置了遮光部的结构的一个例子的结构图。图11是说明在实施方式1中用密封件形成遮光部的一个例子的图。图12是本专利技术的实施方式2的回归反射型光电传感器的结构图。具体实施方式首先，使用附图，说明作为本专利技术的前提的一般的回归反射型光电传感器60的结构以及该一般的回归反射型光电传感器60中的问题。图1是说明一般的回归反射型光电传感器60的光学系统的一个例子的图。图2是说明一般的异轴式的回归反射型光电传感器60的结构的一个例子的图。作为一般的回归反射型光电传感器60的光学系统，如图1所示，有异轴式、即将投光轴与受光轴不是同轴的回归反射型光电传感器60与反射板61组合而得到的光学系统。异轴式的回归反射型光电传感器60如图2所示，在设置于支撑部50的背面侧的投光元件安装部51上安装投光元件52，在设置于支撑部50的背面侧的受光元件安装部53上安装受光元件54，在设置于支撑部50的前表面部的透镜安装部63上安装将投光透镜64与受光透镜65一体成形而得到的透镜体55。此外，使投光元件52的中心与投光透镜64的中心一致，使受光元件54的中心与受光透镜65的中心一致。如图1所示，投光元件52发出的光通过投光透镜64而作为形成规定的投光区域E1的投光光束射出。该投光光束入射到反射板61的表面的三角锥并被反射，但作为该反射光的受光光束形成规定的受光区域E2，投光区域E1、受光区域E2的重叠的部分E3的回归光通过受光透镜65而到达受光元件54。此外，此处将该重叠的部分E3设为交错区域E3。使用图3，说明在以上那样的以往的一般的回归反射型光电传感器60的光学系统中对检测体进行检测的构造。图3的(a)是说明在回归反射型光电传感器60与反射板61之间没有检测体的状态的一个例子的图，图3的(b)是说明在回归反射型光电传感器60与反射板61之间有透射率低的检测体x的状态的一个例子的图，图3的(c)是说明在回归反射型光电传感器60与反射板61之间有透射率高的检测体y的状态的一个例子的图。此外，在图3中，为方便说明，简化地记载了回归反射型光电传感器60，但回归反射型光电传感器60的结构如使用图2来说明的那样。如图3的(a)所示，当在回归反射型光电传感器60与反射板61之间没有检测体的状态下，关于回归反射型光电传感器60的投光元件52发出的光，如果将从被射出的光中的与受光区域E2交错的交错区域E3回归的光设为100％，则100％的光全部成为受光光束而到达受光元件54。另一方面，当在回归反射型光电传感器60与反射板61之间有检测体的情况下，由于由该检测体遮挡光路，入射到受光元件54的光量减少。如图3的(b)所示，在有透射率低的检测体x的情况下，例如，来自交错区域E3的100％的光变成10％的光的受光光束而到达受光元件54。另外，如图3的(c)所示，在有透射率高的检测体y的情况下，例如，来自交错区域E3的100％的光变成80％的光的受光光束而到达受光元件54。这样，在一般的回归反射型光电传感器60中，当检测体进入作为投光区域E1、受光区域E2的重叠部分的交错区域E3时，由于由该检测体遮挡光路，入射到受光元件54的光量变化，将光电转换的量的减少输出为检测信号。然而，在上述那样的一般的回归反射型光电传感器60中，如图4所示，当在回归反射型光电传感器60与反射板61之间存在空的塑料瓶、瓶子等透射率高且形状复杂的检测体z的情况下，存在例如100％的光变成110％的光的受光光束而到达受光元件54等无法对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种回归反射型光电传感器，其是在回归反射型的光学系统中使用的、投光轴与受光轴不是同轴的回归反射型光电传感器，在所述回归反射型的光学系统中，通过投光透镜将从投光元件出来的光射出，从该投光透镜射出了的光在反射板上反射而成为回归光，使该回归光通过受光透镜而由受光元件进行受光，所述回归反射型光电传感器的特征在于，具备：第一遮光部，其形成于所述投光透镜的与所述受光元件侧相反的一侧的面；以及第二遮光部，其形成于所述受光透镜的与所述投光元件侧相反的一侧的面。

【技术特征摘要】
2015.08.05 JP 2015-1550251.一种回归反射型光电传感器，其是在回归反射型的光学系统中使用的、投光轴与受光轴不是同轴的回归反射型光电传感器，在所述回归反射型的光学系统中，通过投光透镜将从投光元件出来的光射出，从该投光透镜射出了的光在反射板上反射而成为回归光，使该回归光通过受光透镜而由受光元件进行受光，所述回归反射型光电传感器的特征在于，具备：第一遮光部，其形成于所述投光透镜的与所述受光元件侧相反的一侧的面；以及第二遮光部，其形成于所述受光透镜的与所述投光元件侧相反的一侧的面。2.根据权利要求1所述的回归反射型光电传感器，其特征在于，所述第一遮光部形成于所述投光透镜的、与所述投光元件的发光面对置并且与所述受光元件侧相反的一侧的面，所述第二遮光部形成于所述受光透镜的、与所述受光元件的发光面对置并且与所述投光元件侧相反的一侧的面。3.根据权利要求1所述的回归反射型光电传感器，...

【专利技术属性】
技术研发人员：细井贵之，沟渕学，
申请(专利权)人：阿自倍尔株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP