用于I/O AC定时的基于占空比的定时余量调整制造技术

对具有反向调制的选通或时钟信号的接口测试I/O（输入/输出）眼宽。I/O接口包含多个信号线，各带有具有定时特性的硬件I/O缓冲器。系统生成选通信号，其具有触发写的触发沿和通过调整选通信号的占空比来调制的后沿。系统将调制的选通信号反向以生成反向选通信号，其中反向选通信号具有从将调制的后沿反向中生成的调制的触发沿。测试中的装置基于原始选通信号的触发沿写测试数据，并基于反向选通信号的触发沿读测试数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的实施例一般涉及装置I/O（输入/输出），并且更具体地说，涉及测试I/O信令定时参数。版权声明/许可此专利文档的公开部分可含有受到版权保护的资料。版权拥有人不反对任何人复制该专利文档或专利公开，因为它出现在专利和商标局专利文件或记录中，但否则无论什么都保留所有版权权利。版权声明应用于如下面以及在所附的附图中所描述的所有数据，以及应用于下面描述的任何软件：版权©2014，英特尔公司，保留所有权利。
技术介绍
计算和电子装置继续变得更小，甚至同时性能保持不变或增加。通过更小的电子组件（由于组件上的几何构型越小）使更小的计算和电子装置成为可能。制造工艺当前能生成在I/O接口中具有大量I/O（输入/输出）信号线的组件，并且具有信号线之间的比对于直接AC和DC性能测试实际上有可能接触的间距（pitch）更小的间距。DC（直流）性能设置指的是与信令关联的偏置和/或电压电平，而AC（交流）性能指的是接口上的信号沿的定时，其中对于AC性能的测试可被称为余量调整（margining）。逐渐减小的电子组件的大小以及信号线之间的间距增大了测试装置的困难性。对于许多装置，信号线的数量和小间距使得直接测试I/O接口不实际。缺乏直接测试已经增大了装置制造商将不能够用传统测试实现超低每百万缺陷（DPM）目标的风险。当前正在呈现此类风险的一个特定
是具有广泛接口的存储器装置。可用的测试方法在批量生产（例如HVM（大规模制造））中是不实际的，其中串行测试装置所需的时间会是让人望而却步的。电子组件芯片的制造商（例如诸如DRAM（动态随机存取存储器）供应商）测试I/O接口或I/O信号阵列。用于测试I/OAC定时的传统方法是尝试训练（exercise）具体电子组件块的结构测试。结构测试对于电路块的每个不同组件和/或元件需要不同的测试。结构测试不捕获噪声，使测试结果乐观，如果不是完全不正确的话。传统测试依赖于突发模式内单个数据位上的余量调整。传统测试方法筛查AC定时中的离群值（例如在接收器处的设立和保持定时余量(margin)），但非常慢且成本高。附图说明如下描述包含具有作为实现本专利技术实施例的实现的示例给出的说明的附图的论述。附图应该作为示例而非作为限制进行理解。如本文所使用的，对一个或多个“实施例”的提及要理解为描述包含在本专利技术至少一个实现中的具体特征、结构和/或特性。从而，在本文中出现的诸如“在一个实施例中”或“在备选实施例中”的短语描述了本专利技术的各种实施例和实现，并且不一定全都指的是同一实施例。然而，它们也不一定是相互排他的。图1是为间接I/O测试提供基于占空比的余量调整的系统的实施例的框图。图2是为I/O测试提供基于占空比的余量调整的系统的实施例的框图，其中测试中的装置生成反向（inverted）调制时钟信号。图3是给I/O接口测试的基于占空比的余量调整提供不同定时设置的系统的实施例的时序图表示。图4是用基于占空比的余量调整测试保持时间的实施例的时序图表示。图5是用基于占空比的余量调整测试设立时间的实施例的时序图表示。图6是用于间接I/O接口测试的过程的实施例的流程图。图7是可实现基于占空比的余量调整的计算系统的实施例的框图。图8是可实现基于占空比的余量调整的移动装置的实施例的框图。下面描述某些细节和实现，包含附图的描述，附图可描绘一些或所有下面描述的实施例，以及论述本文呈现的专利技术概念的其它潜在实施例或实现。具体实施方式如本文所描述的，系统实现测试接口的I/O（输入/输出）眼宽(eyewidth)。系统生成反向调制的选通或时钟信号以触发接收操作，而在非反向选通或时钟信号上触发传送操作。I/O接口包含多个信号线，各带有具有定时特性的硬件I/O缓冲器。I/O接口的AC（交流）余量调整指的是触发信号沿的定时。测试可通过编译具体的测试中装置（DUT）的眼宽大小的预期值并将I/O通道的操作相对预期的眼宽大小进行比较来检测离群值。预期在相同电路处理中创建的大多数通道将导致几乎相同的I/O眼宽（具有最小数量的离群值）。按照本文所描述的，测试是功能的，并且测试DUT的功能能力代替评估每个单独组件的每个单独操作的严格结构测试。通过功能测试，测试系统发送测试数据并评估DUT是否能以各种不同的定时设置写和读测试数据。预期某些定时设置引起I/O中的失败，而预期其它定时设置引起通过操作。下面更详细描述失败和通过的使用。离群电路可以是当预期它们失败时记录通过和/或预期它们通过时记录失败的电路。测试系统生成选通信号或时钟信号以及测试数据。通过让测试系统生成时钟信号，DUT不用必须包含生成定时信号的电路，这可节省不动产和成本。此外，来自测试系统的时钟信号实现了I/O眼宽的功能测试，如下面更详细描述的。测试系统选通信号具有触发传送或写的触发沿和通过调整选通信号的占空比来调制的后沿。在一个实施例中，触发沿是上升沿，并且后沿是选通信号的下降沿；然而，将理解，系统可设计成在下降沿上触发。系统将调制的选通信号反向以生成反向选通信号，其中反向选通信号具有从将调制的后沿反向中生成的调制的触发沿。测试系统或测试中的装置可生成反向选通信号。测试中的装置基于原始选通信号的触发沿写测试数据，并基于反向选通信号的触发沿读测试数据。在一个实施例中，测试中的装置包含记录I/O错误的错误检测电路。在一个实施例中，余量调整测试允许采纳与传统上使用的不同的通过/失败方法论。代替直接试图测量具体电路元件的操作，或直接测量眼宽，系统可单独测试I/O眼的前沿和I/O眼的后沿。将理解到，眼的前沿和眼的后沿不与时钟信号的触发沿或前沿以及时钟信号的后沿混淆，尽管它们可能对齐。在双数据速率实现中，眼的前沿和后沿都与时钟信号的前沿或触发沿对齐。在工业中，前沿通常被称为“左”沿，并且后沿是“右”沿（参考观察I/O眼模式图）。作为描述的简洁而非作为限制，本文参考I/O信令眼使用“左沿”和“右沿”术语。在一个实施例中，系统采用第一失败方法论来识别眼的通过右沿，其指示数据信号的保持时间。在一个实施例中，系统采用全通过方法论来识别眼的通过左沿，其指示数据信号的设立时间。在一个实施例中，系统在测试眼的左沿之前测试眼的右沿。第一失败方法论是指所检测的第一失败用于指示能用于眼的右沿的最长时间的测试。最长时间可被称为允许的最长保持时间。全通过方法论是指当所有电路都记录通过时的时间点用于指示能用于眼的左沿的最早时间的测试。最长时间可被称为允许的最短设立时间。在右沿的第一失败与左沿的全通过之间是在设立与保持时间窗口之间的亚稳态窗口，其通常被假定是小的。该假定通常导致窗口为了测试目的而被忽略。标准双稳态触发器中的亚稳态窗口可能是几皮秒宽，并且可作为过程、电压和温度的函数而变。从而，将理解，满足保持时间的失败不一定意味着，一旦所有I/O通道都失败了保持时间，随后数据的设立时间就被满足。全通过方法论没有进行关于亚稳态窗口宽度的假定，从而移除了关于余量测量的乐观假定。将理解，当测试系统调制测试时钟的占空比时，不存在对于执行I/O余量调整的片上时钟的需要。测试系统可允许测试中的自动化和排序，其与HVM（大规模制造）兼容。测试的其它方法太慢，太带本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试I/O（输入/输出）接口的方法，包括：生成选通信号作为时钟信号以传送和接收测试数据信号，所述选通信号具有触发写的触发沿和后沿；通过调整所述选通信号的占空比来调制所述选通信号的所述后沿；用所述调制的后沿将所述选通信号反向以生成反向选通信号，其中所述反向选通信号具有调制的触发沿；在所述选通信号的所述触发沿上触发测试数据传送；以及在所述反向选通信号的所述触发沿上触发测试数据接收。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.06.30 US 14/3195281.一种用于测试I/O（输入/输出）接口的方法，包括：生成选通信号作为时钟信号以传送和接收测试数据信号，所述选通信号具有触发写的触发沿和后沿；通过调整所述选通信号的占空比来调制所述选通信号的所述后沿；用所述调制的后沿将所述选通信号反向以生成反向选通信号，其中所述反向选通信号具有调制的触发沿；在所述选通信号的所述触发沿上触发测试数据传送；以及在所述反向选通信号的所述触发沿上触发测试数据接收。2.如权利要求1所述的方法，其中生成进一步包括生成双数据速率装置的差分选通信号，并且其中调制所述选通信号的所述后沿进一步包括调制所述选通信号及其互补的所述后沿，并且其中将所述选通信号反向进一步包括生成反向互补选通信号。3.如权利要求1至2中任一项所述的方法，其中调制所述选通信号的所述后沿包括调整所述选通信号的占空比以调整测试数据传送与测试数据接收之间的偏斜来调整I/O眼宽。4.如权利要求3所述的方法，其中调整所述占空比包括减小所述占空比以使所述反向选通信号引起所述I/O眼宽使保持时间参数失败。5.如权利要求3所述的方法，其中调整所述占空比包括增大所述占空比以使所述反向选通信号引起所述I/O眼宽使设立时间参数失败。6.如权利要求5所述的方法，进一步包括：使数据捕获偏移一延迟以测试所述设立时间参数。7.如权利要求1至6中任一项所述的方法，其中调整所述占空比包括调整所述I/O眼宽以对于第一失败条件测试所述I/O眼的后沿。8.如权利要求1至7中任一项所述的方法，其中调整所述占空比包括调整所述I/O眼宽以对于全通过条件测试所述I/O眼的前沿。9.一种具有要测试的I/O（输入/输出）接口的电路装置，所述电路装置包括：多个信号线，每个都对接到所述I/O接口的硬件I/O缓冲器，其中每个所述信号线都从测试源接收分布到所述多个信号线的测试数据信号的位；硬件接口，选通信号作为所述测试数据信号的时钟信号，所述选通信号具有触发写的触发沿和后沿，所述选通信号具有调整成调制所述选通信号的后沿的占空比；以及错误检测逻辑，用于检测由违反定时参数的I/O眼宽引起的I/O错误，包含比较预期数据位与基于所述选通信号的所述触发沿写到所述I/O缓冲器的以及基于具有调制的触发沿的反向选通信号从所述I/O缓冲器读的数据位，其中所述反向选通信号是所述接收的选通信号的反向版本。10.如权利要求9所述的电路装置，其中所述错误检测逻辑检测由反向选通信号以写触发与读触发之间的选择的偏斜引起的I/O错误以设置I/O眼宽。11.如权利要求10所述的电路装置，其中所述错误检测逻辑基于来自具有减小的占空比的选通信号的所述反向选通信号对于保持时间参数违反进行测试，或者基于来自具有增大的占空比的选通信号的所述反向选通信号对于设立时间参数违反进行测试。12.如权利要求9至11中任一项所述的电路装置，其中所述错误检测逻辑对于第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：B蒂鲁文加达姆，C纳尔逊，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：美国;US