玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备技术

本发明专利技术提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备，所述方法包括：用三坐标测量仪的摄像装置获取玻璃基板断面的图像；将所述图像数据传输至三坐标测量软件，其中，在获取所述图像时，所述玻璃基板断面的放置需使得所获取的所述玻璃基板断面的融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水平功能线或垂直功能线平行；通过所述三坐标测量软件获取所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板断面的两侧边缘线之间的距离。本发明专利技术提供的玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备能够测量玻璃基板融合线两侧玻璃的厚度，且测量快速，测量精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及玻璃制造
，具体地，涉及一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备。
技术介绍
玻璃基板成型时，采用在热态下将两片玻璃液自粘在一起，形成一片玻璃，在粘合面上对同一条光线的折射角度会有不同，从玻璃基板断面上看粘合面(尤其在强光条件下)，会出现一条隐约可见的线条，该线条就叫融合线。玻璃融合线会反映溢流法玻璃基板产线中溢流砖的水平情况，会影响到玻璃的品质，因此融合线是玻璃基板制造过程中的重要数据，需要进行精确测量，具体是测量融合线两侧玻璃的厚度。因此，需要一种能够精确测量融合线两侧玻璃厚度的测量方法和测量设备。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备，能够精确测量玻璃基板融合线两侧玻璃厚度。为了实现上述目的，本专利技术提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法，所述方法包括：用三坐标测量仪的摄像装置获取玻璃基板断面的图像；将所述图像数据传输至三坐标测量软件，其中，在获取所述图像时，所述玻璃基板断面的放置需使得所获取的所述玻璃基板断面的融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水平功能线或垂直功能线平行；通过所述三坐标测量软件获取所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板断面的两侧边缘线之间的距离。优选地，在获取所述图像时，所述玻璃基板竖直放置，并使得待测的所述玻璃基板的断面朝上。优选地，所述玻璃基板的放置具体包括：将待测玻璃基板竖直固定于样品台上，并将所述样品台放置于载物台上；在获取所述图像时，微调所述样品台使得所述融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水平功能线或垂直功能线平行。优选地，所述样品台上和所述载物台上分别设置有标记，在将所述样品台放置于所述载物台上时，首先使得所述样品台的标记与所述载物台的标记对准。本专利技术还提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量设备，所述测量设备包括三坐标测量仪，所述三坐标测量仪包括能够获取玻璃基板断面图像的摄像装置以及能够根据所述摄像装置获取的所述玻璃基板的断面图像测量所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板的两侧边缘线之间的距离的三坐标测量软件。优选地，所述测量设备还包括能够使得所述玻璃基板竖直固定以通过所述摄像装置进行摄像的样品台。优选地，所述样品台包括底座及固定于所述底座上的样品架，所述样品架具有用于竖直固定所述玻璃基板的固定平面。优选地，所述样品架的所述固定平面上设置有能够粘结所述玻璃基板的粘结层。优选地，所述底座为能够水平放置的第一板体，所述样品架为垂直于所述第一板体的第二板体。优选地，所述测量设备还包括承载所述样品台的载物台，所述样品台和所述载物台上分别设置有能够对准的标记。通过本专利技术提供的玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备能够测量玻璃基板融合线两侧玻璃的厚度，且测量快速，测量精度高。本专利技术的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法。图2为样品台的结构示意图。附图标记说明1-底座；2-样品架；3-粘结层。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。本专利技术提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法，如图1所示，该方法包括如下步骤：用三坐标测量仪的摄像装置获取玻璃基板断面的图像；将所述图像数据传输至三坐标测量软件，其中，在获取所述图像时，玻璃基板断面的放置需使得所获取的所述玻璃基板断面的融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水平功能线或垂直功能线平行；通过所述三坐标测量软件获取所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板断面的两侧边缘线之间的距离；本专利技术提供的玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法能够测量玻璃基板融合线两侧玻璃的厚度，且测量快速，测量精度高。下面通过具体实施方式详细描述如上所述的测量方法。用三坐标测量仪的摄像装置获取玻璃基板断面的图像的步骤具体包括：首先取样，由横切机切割玻璃，获取待测的玻璃基板样品，切割的断面为测量融合线的断面，保持待测的玻璃基板断面清洁；将要测量的玻璃基板样品固定于样品台上，样品台设置为使得玻璃基板能够竖直放置，并使得待测的所述玻璃基板的断面朝上；将样品台放置于水平的载物台上，为使得样品台上的玻璃横断面能够尽快成像在三坐标测量仪的摄像装置中，可在样品台和载物台上各设置有标记(标记的位置可通过试验获得)，在样品台放置于载物台上时，使得样品台的标记与载物台上的标记对准，从而使得样品快速初步定位，操作人员能够迅速找到所测的样品。用三坐标测量仪的摄像装置照射样品，具体可用三坐标测量仪的同轴轮廓光照射样品的断面表面，调整三坐标仪的摄像机，使摄像机在断面的表面成像，找到清晰的融合线。然后自动调整光源，让摄像机自动对焦，并进行手动的微调，使所述的玻璃基板的融合线呈现出来。将获得的玻璃断面的图像数据传输至三坐标测量软件。根据三坐标测量软件中玻璃基板断面中融合线的图像，可以人工对样品台进行微调，使得玻璃基板断面的玻璃融合线图像与软件里面的水平功能线或垂直功能线平行，测量软件通过测量水平线之间的间距来获得融合线与两侧玻璃基板的边缘线之间的间距，可提高测量的准确性。三坐标测量软件具有自动寻边功能，通过该自动寻边功能获取玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板断面的两侧边缘线，然后通过所述三坐标测量软件的测距功能获取所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板断面的两侧边缘线之间的距离，由此获取玻璃融合线两侧玻璃的厚度。本专利技术提供的测量融合线两侧玻璃厚度的方法稳定可靠，测量准确快速，测量精度可达到0.002mm。本专利技术另一方面还提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量设备，该测量设备包括三坐标测量仪，所述三坐标测量仪包括能够获取玻璃基板断面图像的摄像装置以及能够根据所述摄像装置获取的所述玻璃基板的断面图像测量所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板的两侧边缘线之间的距离的三坐标测量软件。在本实施方式中，所述测量设备还包括能够使得所述玻璃基板竖直固定的样品台。在通过摄像装置获取玻璃基板断面的图像时，玻璃基板样品竖直固定在该样品台上，以使得获得的玻璃基板的融合本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法，其特征在于，所述方法包括：用三坐标测量仪的摄像装置获取玻璃基板断面的图像；将所述图像数据传输至三坐标测量软件，其中，在获取所述图像时，所述玻璃基板断面的放置需使得所获取的所述玻璃基板断面的融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水平功能线或垂直功能线平行；通过所述三坐标测量软件获取所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板断面的两侧边缘线之间的距离。

【技术特征摘要】
1.一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法，其特征在于，所述方法包括：
用三坐标测量仪的摄像装置获取玻璃基板断面的图像；
将所述图像数据传输至三坐标测量软件，其中，在获取所述图像时，所述玻璃基板断面
的放置需使得所获取的所述玻璃基板断面的融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水
平功能线或垂直功能线平行；
通过所述三坐标测量软件获取所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板断面的两
侧边缘线之间的距离。
2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，在获取所述图像时，所述玻璃基板竖
直放置，并使得待测的所述玻璃基板断面朝上。
3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述玻璃基板的放置具体包括：
将待测玻璃基板竖直固定于样品台上，并将所述样品台放置于载物台上；在获取所述
图像时，微调所述样品台使得所述融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水平功能线或
垂直功能线平行。
4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述样品台上和所述载物台上分别设
置有标记，在将所述样品台放置于所述载物台上时，首先使得所述样品台的标记与所述载
物台的标记对准。
5.一种玻...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志勇，张广涛，李俊锋，闫冬成，王丽红，胡恒广，
申请(专利权)人：芜湖东旭光电装备技术有限公司，东旭科技集团有限公司，东旭集团有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34