【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于过程控制领域，尤其是涉及一种包装缺陷检测系统。
技术介绍
目前，产品生产过程中设备的自动化程度很高，但是对于产品包装的检测主要通过人工目测来判断包装是否完整，长时间观察容易造成视觉疲劳，影响检测效率和准确性，严重影响了产品合格率，不合格品出厂会降低用户满意度，削弱品牌价值降低公司信誉，因此对包装缺陷进行检测并剔除不合格品有着重要的意义。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术旨在提出一种包装缺陷检测系统，以检测出包装存在缺陷的产品，并将其剔除。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：一种包装缺陷检测系统，包括中央处理器、X光扫描系统、线性陈列探测器、缺陷产品剔除装置、图像处理系统、图像采集系统和LED光源，所述线性陈列探测器通过广电传感器连接中央处理器，所述图像采集系统通过图像处理系统连接中央处理器，所述中央处理器分别连接缺陷产品剔除装置、X光扫描系统和计数器。进一步的，所述图像处理系统包括依次相连的背景分离模块、滤波降噪模块和变换检测模块。进一步的，所述图像采集系统连接LED光源。相对于现有技术，本专利技术所述的一种包装缺陷检测系统具有以下优势：本专利技术所述的一种包装缺陷检测系统能够通过图像检测包装外观是否存在缺陷；通过X光检测包装结构是否存在缺陷和是否漏装、少装产品，通过缺陷产品剔除装置将存在问题的产品剔除，并统计数量。附图说明构成本专...
【技术保护点】
一种包装缺陷检测系统，其特征在于：包括中央处理器、X光扫描系统、线性陈列探测器、缺陷产品剔除装置、图像处理系统、图像采集系统和LED光源，所述线性陈列探测器通过广电传感器连接中央处理器，所述图像采集系统通过图像处理系统连接中央处理器，所述中央处理器分别连接缺陷产品剔除装置、X光扫描系统和计数器。
【技术特征摘要】
1.一种包装缺陷检测系统，其特征在于：包括中央处理器、X光扫描系
统、线性陈列探测器、缺陷产品剔除装置、图像处理系统、图像采集系统和
LED光源，所述线性陈列探测器通过广电传感器连接中央处理器，所述图像
采集系统通过图像处理系统连接中央处理器，所述中央处理器分别连接缺陷
...
【专利技术属性】
技术研发人员：李伟，
申请(专利权)人：天津天佑润德新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
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