【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子电路
,具体涉及例如在上电或启动时检测集成电路信号环路完整性的检测电路及方法。
技术介绍
众所周知,同一款芯片,由于生产工艺的细微不同,不同生产批次的芯片性能会有所差异,进而影响芯片的功能,导致芯片最终的良率很低。在测试阶段,可以通过调整芯片的初始化配置参数,改善芯片的性能,提高良率。但是在使用阶段,芯片的初始化配置信息不希望被更改,以免影响芯片的正常功能。这样,我们希望在生产测试阶段开放芯片初始化配置参数的修改权限,而在正常使用阶段禁止对其进行修改。一般,会通过一个控制信号来管理芯片的访问权限。可以通过很多手段产生这样一个控制信号,但是,最可靠、最简单的办法是通过一根物理信号连线的状态来产生此控制信号。在生产测试阶段保持物理信号环路完整,在芯片测试完成后,切断此物理信号连线,使信号环路断开。这样,芯片内部就需要一个信号环路检测电路,根据信号环路完整性的状态,产生一个控制信号。
技术实现思路
本专利技术提供了一种信号环路检测电路及方法,通过检测信号环路的断开或连接状态,产生相应控制信号,从而使集成电路完成不同的功能。本专利技术的目的由以下技术方案实现:一种信号环路检测电路,用于在上电或启动时对集成电路信号环路完整性进行检测,其特征在于:包括时钟单元、计数器和逻辑运算电路;时钟单元为计数器提供时钟,计数器在集成电路复位完成后开始计数,依次产生:01、00、10、1 ...
【技术保护点】
一种信号环路检测电路,用于在上电或启动时对集成电路信号环路完整性进行检测,其特征在于:包括时钟单元、计数器和逻辑运算电路;时钟单元为计数器提供时钟,计数器在集成电路复位完成后开始计数,依次产生:01、00、10、11的计数信号,计数器的高位计数信号check_cnt[1]作为输出检测信号check_out提供给信号环路的输入端;逻辑运算电路对计数器的低位计数信号check_cnt[0]、高位计数信号check_cnt[1]、所述检测信号check_out及信号环路输出端提供的输入检测信号check_in进行逻辑运算并输出控制信号check_ok和检测完成信号check_ready,逻辑运算电路设计为:在集成电路上电或启动时,输出的控制信号check_ok=1;信号环路为完整状态时,检测完成后输出的控制信号check_ok=1;信号环路为切断状态时,检测完成后输出的控制信号check_ok=0;仅在计数器的计数信号为11时,输出的检测完成信号check_ready=1,此时输出的控制信号check_ok有效。
【技术特征摘要】
1.一种信号环路检测电路,用于在上电或启动时对集成电路信号环路完整
性进行检测,其特征在于:包括时钟单元、计数器和逻辑运算电路;时钟单元
为计数器提供时钟,计数器在集成电路复位完成后开始计数,依次产生:01、
00、10、11的计数信号,计数器的高位计数信号check_cnt[1]作为输出检测信号
check_out提供给信号环路的输入端;逻辑运算电路对计数器的低位计数信号
check_cnt[0]、高位计数信号check_cnt[1]、所述检测信号check_out及信号环路
输出端提供的输入检测信号check_in进行逻辑运算并输出控制信号check_ok和
检测完成信号check_ready,逻辑运算电路设计为:在集成电路上电或启动时,
输出的控制信号check_ok=1;信号环路为完整状态时,检测完成后输出的控制
信号check_ok=1;信号环路为切断状态时,检测完成后输出的控制信号
check_ok=0;仅在计数器的计数信号为11时,输出的检测完成信号check_ready=
1,此时输出的控制信号check_ok有效。
2.根据权利要求1所述的信号环路检测电路,其特征在于:所述逻辑运算
电路包括异或门、异或非门、或门、第一与门、第二与门及D触发器;所述计
数器的低位计数信号check_cnt[0]和高位计数信号check_cnt[1]分别接入异或门
的两个输入,异或非门的两个输入端分别接所述高位计数信号check_cnt[1]和输
入检测信号check_in,异或门的输出和异或非门的输出连接或门的两个输入端,
或门的输出作为第一与门的一个输入;所述时钟单元的输出连接D触发器的CP
端,D触发器的Q端连接第一与门的另一个输入,第一与门的输出连接D触发
器的D端,D触发器的Q端作为控制信号check_ok的输出端;计数器的低位计
数信号check_cnt[0]和高位计数信号check_cnt[1]分别接入第二与门,第二与门
的输出端作为检测完成信号check_ready的输出端。
3.一...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵旺,
申请(专利权)人:珠海市一微半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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