【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量设备应用领域，尤其涉及一种双面图形位置相对偏差的测量设备。
技术介绍
目前，对于双面图形位置的测量大多采用X-RAY光透射设备进行测量或3D量测仪器进行测量，X-RAY设备因为X射线存在安全健康隐患，不利于长时间使用，并且背光量测技术的误差也比较大；而3D量测仪器成本比较高,且测量时通常只能单面测量，需对产品的不同面分别测量后再进行偏差计算，最终得出偏移量结果，操作比较繁琐。
技术实现思路
为克服上述缺点，本专利技术的目的在于提供一种双面图形位置相对偏差的测量设备，已达到简易、快速、直接地对双面图形位置进行测量，提高测量准确性的目的。为了解决上述技术问题，本专利技术提供双面图形位置相对偏差的测量设备，包括台面，所述台面为大理石量具专用台面，其上设置有放置双面图形产品的工作台，所述工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机，所述上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点，所述台面的一侧设置有用于获取所述上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑，所述微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。通过两个相配合的CCD摄像机同时对双面图形位置的两面进行测量，再将测量所得图像和数据通过微型电脑内的软件进行位置偏差的计算，得出偏差结果，本设备可简易、快速、直接地对双面图形位置进行测量，提高测量准确性和精准度，降低成本。进一步地，所述台面为大理石000级量具专用台面。使其工作台面保持平整，便于产品的放置。进一步地，所述上CCD摄像机通过固定在台面顶端的上支架固定。便于对上CC...
【技术保护点】
双面图形位置相对偏差的测量设备，包括台面，其特征在于：所述台面为大理石量具专用台面，其上设置有放置双面图形产品的工作台，所述工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机，所述上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点，所述台面的一侧设置有用于获取所述上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑，所述微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。
【技术特征摘要】
1.双面图形位置相对偏差的测量设备，包括台面，其特征在于：所述台面为大理石量具专用台面，其上设置有放置双面图形产品的工作台，所述工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机，所述上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点，所述台面的一侧设置有用于获取所述上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑，所述微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。2.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡茂尚，徐登峰，
申请(专利权)人：昆山昆尚电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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