一种功率放大装置制造方法及图纸

技术编号:14510456 阅读:210 留言:0更新日期:2017-02-01 03:04
本发明专利技术公开了一种功率放大装置,该装置包括:并联的电流检测电路和电流镜电路,所述电流检测电路依次串联第一功率放大器、第二功率放大器,所述电流镜电路包括串联的第一晶体管和第二晶体管;所述的电流检测电路用于检测输入电流大小和功率,所述第二功率放大器输出电流随输入功率的变化而变化。通过本发明专利技术得到一种具有高效率、高线性、同时集成化容易、而且低成本的功率放大装置等。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体领域,具体涉及一种功率放大装置
技术介绍
在现有的
里,很多通常用于探测电磁波的光电转换器件都是已知的,例如将在紫外线到红外线的范围具有灵敏度的光电辐射区内具有灵敏度的光传感器具体成为可见光传感器,大量的可见光传感器被应用于需要根据人的生活环境进行亮度调节或者开启、关闭控制住装置。在这样的传感装置器中,将光电二极管用于感测部分,在放大器电路中对光电二极管的输出电流放大。目前存在扩大输出电流的范围,就会降低电压,在成分辨率变差,噪声提高的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种功率放大装置,利用该方法能够解决目前的扩大输出电流的范围,就会降低电压,在成分辨率变差,噪声提高的问题。为解决上述问题,本专利技术提出一种功率放大装置,该装置包括如下:该装置包括并联的电流检测电路和电流镜电路,所述电流检测电路依次串联第一功率放大器、第二功率放大器,所述电流镜电路包括串联的第一晶体管和第二晶体管;所述的电流检测电路用于检测输入电流大小和功率,所述第二功率放大器输出电流随输入功率的变化而变化。进一步,该装置还包括第一恒流源、第一处理器,所述第一恒流源与所述第一晶体管的漏极或源极连接,所述第一处理器与所述第一晶体管的栅极连接。进一步,该装置还包括谐振电路,所述谐振电路连接于第一晶体管或第二晶体管集电极和基准电源线之间。进一步,所述的第一晶体管和/或第二晶体管为薄膜晶体管。进一步,所述第一晶体管和第二晶体管均具有源极区、漏极区、沟道形成区。进一步,所述的第一功率放大器、第二功率放大器和直流电流放大器由双极性晶体管构成。进一步,由直流电流放大器对第二功率放大器的电源电流进行检测及放大,将该电流供给第一功率放大器的输入端。有益效果:能够实现性能高、低失真、高效率工作,减少器件数量,实现小型化,降低成本,提高了分辨率,降低了噪声,拓宽了可探测光强范围的优点。附图说明图1为本专利技术的一种功率放大装置示意图。图中1、电流检测电路,2、电流镜电路,3、第一功率放大器,4、第二功率放大器,5、第一晶体管,6、第二晶体管。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本专利技术,并非用于限定本专利技术的范围。如图1中所示,一种功率放大装置,其该装置包括如下该装置包括并联的电流检测电路和电流镜电路,所述电流检测电路依次串联第一功率放大器、第二功率放大器,所述电流镜电路包括串联的第一晶体管和第二晶体管;所述的电流检测电路用于检测输入电流大小和功率,所述第二功率放大器输出电流随输入功率的变化而变化。该装置还包括第一恒流源、第一处理器,所述第一恒流源与所述第一晶体管的漏极或源极连接,所述第一处理器与所述第一晶体管的栅极连接。该装置还包括谐振电路,所述谐振电路连接于第一晶体管或第二晶体管集电极和基准电源线之间。所述的第一晶体管和/或第二晶体管为薄膜晶体管。所述第一晶体管和第二晶体管均具有源极区、漏极区、沟道形成区。所述的第一功率放大器、第二功率放大器和直流电流放大器由双极性晶体管构成。由直流电流放大器对第二功率放大器的电源电流进行检测及放大,将该电流供给第一功率放大器的输入端。实施例:比较电路的示意图,比较电路由分差电路和电流反射镜电路组成。晶体管、晶体管和电流源电阻器配置形成分差电路。由晶体管配置形成的电流反射镜电路。当连接到电阻器和晶体管的栅极电势高于连接到电源的晶体管的栅极电势时,流到晶体管的电流量变得大于流到晶体管的电流量,导致晶体管的尺寸足够大且熔丝连接到输出端子,则熔丝可以被晶体管的输出电流熔化。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。尽管上面已经示出和描述了本专利技术的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本专利技术的限制,本领域的普通技术人员在本专利技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。本文档来自技高网...
一种功率放大装置

【技术保护点】
一种功率放大装置,其特征在于,该装置包括并联的电流检测电路和电流镜电路,所述电流检测电路依次串联第一功率放大器、第二功率放大器,所述电流镜电路包括串联的第一晶体管和第二晶体管;所述的电流检测电路用于检测输入电流大小和功率,所述第二功率放大器输出电流随输入功率的变化而变化。

【技术特征摘要】
1.一种功率放大装置,其特征在于,该装置包括并联的电流检测电路和电流镜电路,所述电流检测电路依次串联第一功率放大器、第二功率放大器,所述电流镜电路包括串联的第一晶体管和第二晶体管;所述的电流检测电路用于检测输入电流大小和功率,所述第二功率放大器输出电流随输入功率的变化而变化。2.根据权利要求1所述的一种功率放大装置,其特征在于,该装置还包括第一恒流源、第一处理器,所述第一恒流源与所述第一晶体管的漏极或源极连接,所述第一处理器与所述第一晶体管的栅极连接。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵飚钟胜
申请(专利权)人:桂林市晶准测控技术有限公司
类型:发明
国别省市:广西;45

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