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一种金属双张检测电路制造技术

技术编号:14499276 阅读:107 留言:0更新日期:2017-01-30 02:40
本实用新型专利技术公开了一种金属双张检测电路;属于金属双张检测技术领域;其技术要点包括主控制芯片,其中所述主控制芯片通过驱动电路与发送传感器连接;主控制芯片通过模数转换模块连接有与发送传感器相配合的接收传感器;所述主控制芯片连接有光耦输出电路,所述光耦输出电路与外部PLC电气连接;所述主控制芯片连接有LCD显示屏;本实用新型专利技术旨在提供一种使用方便、效果良好的金属双张检测电路;用于检测金属张数。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种检测电路,更具体地说,尤其涉及一种金属双张检测电路
技术介绍
现有的金属双张检测器是利用led二极管灯亮灯数量表示检测信号的强弱,用这种方法精度差,用数码管显示检测张量,显示信息量少,不能让用户充分了解检测器当前运行状态,不利于用户对设备进行示教设置以及纠偏,容易导致检测器产生误判断,损伤模具,降低生产效率。而且现有的检测器不具备数字通讯功能,不能满足系统集成化需求,智能化水平低,使用领域受限。
技术实现思路
本技术的目的在于针对上述现有技术的不足,提供一种使用方便、效果良好的金属双张检测电路。本技术的技术方案是这样实现的:一种金属双张检测电路,包括主控制芯片,其中所述主控制芯片通过驱动电路与发送传感器连接;主控制芯片通过模数转换模块连接有与发送传感器相配合的接收传感器;所述主控制芯片连接有光耦输出电路,所述光耦输出电路与外部PLC电气连接;所述主控制芯片连接有LCD显示屏。上述的一种金属双张检测电路中,在主控制芯片和LCD显示屏之间连接有从控制芯片;所述从控制芯片连接有晶振电路。上述的一种金属双张检测电路中,所述主控制芯片通过TLL转485模块与外部上位机通讯连接,所述TLL转485模块采用MAX485芯片。上述的一种金属双张检测电路中,主控制芯片连接有电压转换模块,所述电压转换模块采用XL4015芯片。上述的一种金属双张检测电路中,所述主控制芯片连接有稳压模块,所述稳压模块采用ASM1117芯片。上述的一种金属双张检测电路中,所述主控制芯片连接有零张按钮、单张按钮、双张按钮、复位按钮以及选频按钮。上述的一种金属双张检测电路中,所述光耦输出电路由电阻R9、LED5、第一光耦芯片串联的支路和电阻R12、LED6、第二光耦芯片串联的支路并联而成,第一光耦芯片和第二光耦芯片的发射极连接后与外部PLC的com端口连接,第一光耦芯片集电极端X1与外部PLC电气连接,第二光耦芯片集电极端X2与外部PLC电气连接。上述的一种金属双张检测电路中,所述主控制芯片采用MEGA16L芯片。上述的一种金属双张检测电路中,所述从控制芯片采用89C51芯片。本技术采用上述结构后,通过设置LCD显示屏,能够将零张数值、1张数值、2张数值、当前检测到的数据清晰地显示在LCD显示屏上,同时以信号条的形式显示出来,更加直观、明显;本技术通过操作面板上的按键,直接作为检测装置,检测后的结果直接显示在LCD显示屏上;也可以通过TLL转485模块与外部上位机(如工控触摸屏,文本显示器等)通信连接,通过直接操作外部上位机实现检测、较零等工作,智能化程度高,还能简化用户示教过程,增强了设备的适用性和实用性;增加了从单片机,通过从单片机驱动LCD显示屏,反应速度快,灵活性大,与外部上位机通讯连接时,可断开从单片机部分电路,检测结果直接输出在外部上位机上。附图说明下面结合附图中的实施例对本技术作进一步的详细说明,但并不构成对本技术的任何限制。图1是本技术的电路原理示意图;图2是主控制芯片电路原理示意图;图3是从控制芯片电路原理图。图中:主控制芯片1、驱动电路2、发送传感器3、模数转换模块4、接收传感器5、光耦输出电路6、LCD显示屏7、从控制芯片8、晶振电路9、TLL转485模块10、电压转换模块11、稳压模块12。具体实施方式参阅图1至图3所示,本技术的一种金属双张检测电路,包括主控制芯片1,所述主控制芯片1采用Atmel的MEGA16L芯片。所述主控制芯片1通过驱动电路2与发送传感器3连接,驱动电路2为三极管放大电路,主控制芯片1调出PWM波经三极管放大电路放大后驱动发送传感器3工作,优选的,主控制芯片1通过PB3OC0/AINT1管脚与驱动电路2连接。主控制芯片1通过模数转换模块4连接有与发送传感器3相配合的接收传感器5,模数转换模块4采用TexasInstruments的LM358双电源电路,优选的,主控制芯片1通过ADC3PA3管脚与模数转换模块4连接。发送传感器3发送信号至接收传感器5,两个传感器之间为检测区域,将待检测材料放置在检测区域内,即可进行检测工作。同时,所述主控制芯片1连接有光耦输出电路6,所述光耦输出电路6与外部PLC电气连接,所述光耦输出电路由电阻R9、LED5、第一光耦芯片串联的支路和电阻R12、LED6、第二光耦芯片串联的支路并联而成,第一光耦芯片和第二光耦芯片的发射极端连接后与外部PLC的com端口连接,第一光耦芯片集电极端X1与外部PLC电气连接,第二光耦芯片集电极端X2与外部PLC电气连接。检测到的数据通过光耦输出电路6输出到外部PLC中,实现信号输出。所述主控制芯片1连接有LCD显示屏7,优选的,LCD显示屏7型号为LCD1602。在主控制芯片1和LCD显示屏7之间连接有从控制芯片8,所述从控制芯片8采用Atmel的89C51芯片,主控制芯片1与从控制芯片8通过RXD、TXD进行通讯。所述从控制芯片8连接有晶振电路9。主控制芯片1与从控制芯片8之间通过10P排线通讯连接。图中B2、B13为10P线的连接端口。同时,为了增强电路的适用性,所述主控制芯片1通过TLL转485模块10与外部上位机通讯连接,所述TLL转485模块10采用MAX485芯片,主控制芯片1与TLL转485模块10通过RXD、TXD进行通讯,图中通讯端AB为与外部上位机连接的端口。优选的,主控制芯片1连接有电压转换模块11,所述电压转换模块11采用XL4015芯片,电压转换模块11能将24V直流电压转换为5V直流电压。优选的,所述主控制芯片1连接有稳压模块12,所述稳压模块12采用ASM1117芯片,为本技术提供稳定电压,保证电路正常工作。优选的,所述主控制芯片1连接有零张按钮、单张按钮、双张按钮、复位按钮以及选频按钮。TLL转485模块不与外部上位机通信连接时,通过操作零张按钮、单张按钮、双张按钮、复位按钮以及选频按钮将检测数值直接显示在LCD显示屏7上。LCD显示屏7能将当前频道参数、零张数值、单张数值、双张数值、输出张数以及当前检测数值进行显示,同时在LCD显示屏7上显示出信号条表示不同检测结果。在使用时,先通过选频按钮根据不同材料进行选频,选频是通过改变主控制芯片1输出PWM波频率实现的,接着进行零张校正,零张校正即观察并比较在不放入材料的情况下,当前检测数值和按下零张按钮后的数值,两个数值差值小于20即表示读取正常;然后依次放入单张、双张材料进行参数读取,读取后的数据分别存储后显示在LCD显示屏7上,接下来即可进行材料检测。当前检测数值>(零张数值+单张数值)/2时,输出张数结果为0;(零张数值+单张数值)/2>当前检测数值>(单张数值+双张数值)/2时,输出张数结果为1;(单张数值+双张数值)/2>当前检测数值时,输出张数结果为2。本技术通过TLL转485模块10与外部上位机通讯连接时,在外部上位机上实现控制、显示等操作。以上所举实施例为本技术的较佳实施方式,仅用来方便说明本技术,并非对本技术作任何形式上的限制,任何所属
中具有通常知识者,若在不脱离本技术所提技术特征的范围内,利用本技术所揭示技术本文档来自技高网
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一种金属双张检测电路

【技术保护点】
一种金属双张检测电路,包括主控制芯片(1),其特征在于,所述主控制芯片(1)通过驱动电路(2)与发送传感器(3)连接;主控制芯片(1)通过模数转换模块(4)连接有与发送传感器(3)相配合的接收传感器(5);所述主控制芯片(1)连接有光耦输出电路(6),所述光耦输出电路(6)与外部PLC电气连接;所述主控制芯片(1)连接有LCD显示屏(7)。

【技术特征摘要】
1.一种金属双张检测电路,包括主控制芯片(1),其特征在于,所述主控制芯片(1)通过驱动电路(2)与发送传感器(3)连接;主控制芯片(1)通过模数转换模块(4)连接有与发送传感器(3)相配合的接收传感器(5);所述主控制芯片(1)连接有光耦输出电路(6),所述光耦输出电路(6)与外部PLC电气连接;所述主控制芯片(1)连接有LCD显示屏(7)。2.根据权利要求1所述的一种金属双张检测电路,其特征在于,在主控制芯片(1)和LCD显示屏(7)之间连接有从控制芯片(8);所述从控制芯片(8)连接有晶振电路(9)。3.根据权利要求1所述的一种金属双张检测电路,其特征在于,所述主控制芯片(1)通过TLL转485模块(10)与外部上位机通讯连接,所述TLL转485模块(10)采用MAX485芯片。4.根据权利要求1所述的一种金属双张检测电路,其特征在于,主控制芯片(1)连接有电压转换模块(11),所述电压转换模块(11)采用XL4...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏杰生郑耽忠董晓庆谢森林
申请(专利权)人:苏杰生
类型:新型
国别省市:广东;44

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