光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法技术方案

技术编号:14458209 阅读:8 留言:0更新日期:2017-01-19 15:20
本发明专利技术提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。光学特性测定系统包括第一测定装置。第一测定装置包括:第一检测元件,其配置在壳体内;第一冷却部,其至少局部与第一检测元件接合,用于冷却检测元件;以及抑制机构,其用于抑制在壳体内的检测元件的周围产生的温度变化。

光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法

【技术实现步骤摘要】

光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法

本技术涉及一种能够测定光学特性的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。
技术介绍
存在如下需求:为了对含有光敏物质的材料或试剂的特性进行评价而想要对这些物质发出的微弱的光进行测定。例如,日本特开平09-159604号公报公开了一种纯态氧测定装置,其对于含有对从紫外区域到可视区域的任意的波长都具有光吸收特性的光敏物质的试样、对光直接或间接地不稳定且只能得到少量的试样也能够进行测定。另外,日本特开平09-292281号公报、国际公开第2010/084566号以及日本特开2011-196735号公报公开了一种测定量子效率的测定装置和测定方法,其中,该量子效率表示含有荧光发光物质的试样所吸收的光量子量与从试样产生的荧光的光量子量之间的比。在日本特开平09-159604号公报所公开的纯态氧测定装置中,为了提高检测灵敏度而使用了液氮冷却型锗探测器。通过使用液氮等来冷却检测元件,能够使检测元件稳定化,能够扩大检测动态范围。另一方面,为了用液氮冷却检测元件,将预冷等也包括在内到达能够实际使用的状态为止需要进行几个小时的准备,因此不实用。
技术实现思路
希望实现一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统。按照本专利技术的某个方面,提供一种具备第一测定装置的光学特性测定系统。第一测定装置包括:第一检测元件,其配置在壳体内;第一冷却部,其至少局部与第一检测元件接合,用于冷却第一检测元件;以及抑制机构,其用于抑制在壳体内的第一检测元件的周围产生的温度变化。优选的是,抑制机构包括第二冷却部,该第二冷却部至少局部与壳体接合,用于将壳体内的热向壳体的外部排出。优选的是,抑制机构包括隔热机构,该隔热机构配置在壳体的周围,用于抑制热从壳体的周围向壳体内侵入。优选的是,光学特性测定系统还包括第二测定装置。第一测定装置还包括第一衍射光栅,该第一衍射光栅与第一检测元件相对应地配置,构成为将第一波长范围的光引导至第一检测元件。第二测定装置包括:第二检测元件,其配置在壳体内;以及第二衍射光栅,其与第二检测元件相对应地配置,构成为将第二波长范围的光引导至第二检测元件。第一测定装置的第一检测元件构成为检测灵敏度比第二测定装置的第二检测元件的检测灵敏度高。优选的是,光学特性测定系统还包括分枝光纤,该分枝光纤将来自测定对象的光分枝后分别引导至第一测定装置和第二测定装置。优选的是,第一测定装置构成为对近红外区域的波长分量具有检测灵敏度。第二测定装置构成为对包含在从紫外区域到可视区域的范围内的至少一部分的波长分量具有检测灵敏度。按照本专利技术的另一方面,提供一种具备第一测定装置以及第二测定装置的光学特性测定系统的校正方法,其中,该第二测定装置构成为检测灵敏度比第一测定装置的检测灵敏度低。光学特性测定系统的校正方法包括以下步骤:按照第一设置条件配置第二测定装置和预先被赋予了能量值的光源,基于通过第二测定装置接收来自光源的光而得到的输出值来决定第二测定装置的能量校正系数;按照第二设置条件配置光源和第二测定装置,基于通过第二测定装置接收来自光源的光而得到的输出值以及第二测定装置的能量校正系数,来决定与第二设置条件对应的光源的能量的换算值;以及按照第二设置条件配置光源和第一测定装置,基于通过第一测定装置接收来自光源的光而得到的输出值以及与第二设置条件对应的光源的能量的换算值,来决定第一测定装置的能量校正系数。根据本专利技术的某个实施方式,提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统。另外,根据本专利技术的某个实施方式,提供一种包括第一测定装置以及第二测定装置的光学特性测定系统的校正方法,其中,第二测定装置构成为检测灵敏度比第一测定装置的检测灵敏度低。根据与附图关联地理解的同本专利技术有关的以下的详细说明,能够明确本专利技术的上述及其它目的、特征、方面以及优点。附图说明图1是表示包括本实施方式的光学特性测定装置的光学特性测定系统的结构例的示意图。图2A和图2B是用于说明使用了图1所示的光学特性测定系统的光学特性的测定方法图。图3是表示构成图1所示的光学特性测定系统的数据处理装置的装置结构的示意图。图4是表示构成图1所示的光学特性测定系统的测定装置的装置结构的示意图。图5是表示对图4所示的测定装置的温度漂移的影响进行评价所得到的结果的图表。图6是表示适于量子效率的测定的光学特性测定系统的装置结构的主要部分的示意图。图7是表示使用了本实施方式的测定装置的测定方法的过程的流程图。图8A和图8B是表示使用图6所示的光学特性测定系统来从溶剂中的富勒烯(C60)产生纯态氧时的测定结果例的图。图9是表示用于对本实施方式的光学特性测定系统进行校正的过程的流程图。图10A~图10C是用于说明用于对本实施方式的光学特性测定系统进行校正的过程的示意图。附图标记说明1、1A:光学特性测定系统;2:系统主体;4:光源;5、7、71、72:光纤;6:积分器;50:投光光学系统;52:聚光透镜;61:半球部;61a:光漫反射层;62:平面镜;62a:光漫反射层;63:试样保持件;64:投光窗;65、66:试样窗;67:观测窗;68:光取出部;69:标准反射构件;73:分枝部;100、100A:测定装置;102:壳体;104:光学狭缝;106:凹面衍射光栅;108:检测元件;110:基部;111、130:电子冷却元件;112:冷却翅片;113:接合层;114、134:冷却控制器;116:连接构件;120:隔热件;132:散热板;136:制冷剂循环泵;138、139:制冷剂路径;150:标准灯;152、154:遮光板单元;156:减光网;200:数据处理装置;202:CPU;204:主存储器;206:硬盘;208:测定程序;210:CD-ROM驱动器;212:CD-ROM;214:网络接口;216:显示器;218:输入部;220:总线。具体实施方式参照附图来详细说明本专利技术的实施方式。此外,对图中的相同或相当的部分标注相同标记且不重复进行其说明。<A.系统结构例>首先,对包括本实施方式的光学特性测定装置(以下也简称为“测定装置”)的光学特性测定系统1进行说明。图1是表示包括本实施方式的光学特性测定装置的光学特性测定系统1的结构例的示意图。参照图1,光学特性测定系统1包括数据处理装置200以及收纳有光源4、积分器6及测定装置100的系统主体2。图1示出将光源4、积分器6以及测定装置100收纳在一个壳体中的结构例,但并不限于此,也可以将一部分组件构成为另外的装置。在该情况下,也有时只由一个或多个测定装置100构成光学特性测定系统。图1所示的光学特性测定系统1能够测定各种光学特性。作为光学特性,例如包括总光通量、照度(或光谱辐射照度)、亮度(或光谱辐射亮度)、光度、颜色显色(色度坐标、激发纯度、相关色温、显色性)、吸收率、透过率、反射率、发光光谱(以及峰值波长、半波值)、激发光谱、外部量子效率(或外部量子产率)、内部量子效率(或内部量子产率)等。在以下的说明中,主要例示以下情况:对含有荧光发光物质的试样照射规定波长的激励光(典型的是紫外区域~可视区域的光),检测从该试样产生的荧光(典型的是近红外区域~红外区域的光)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学特性测定系统,具备第一测定装置,该光学特性测定系统的特征在于,所述第一测定装置具备:第一检测元件,其配置在壳体内;第一冷却部,其至少局部与所述第一检测元件接合,用于冷却所述第一检测元件;以及抑制机构,其用于抑制在所述壳体内的所述第一检测元件的周围产生的温度变化。

【技术特征摘要】
2015.07.07 JP 2015-1360361.一种光学特性测定系统,具备第一测定装置,该光学特性测定系统的特征在于,所述第一测定装置具备:第一检测元件,其配置在壳体内;第一冷却部,其至少局部与所述第一检测元件接合,用于冷却所述第一检测元件;以及抑制机构,其用于抑制在所述壳体内的所述第一检测元件的周围产生的温度变化。2.根据权利要求1所述的光学特性测定系统,其特征在于,所述抑制机构具备第二冷却部,该第二冷却部至少局部与所述壳体接合,用于将所述壳体内的热向所述壳体的外部排出。3.根据权利要求1或2所述的光学特性测定系统,其特征在于,所述抑制机构还具备隔热机构,该隔热机构配置在所述壳体的周围,用于抑制热从所述壳体的周围向所述壳体内侵入。4.根据权利要求3所述的光学特性测定系统,其特征在于,所述光学特性测定系统还具备第二测定装置,所述第一测定装置还具备第一衍射光栅,该第一衍射光栅与所述第一检测元件相对应地配置,构成为将第一波长范围的光引导至所述第一检测元件,所述第二测定装置具备:第二检测元件,其配置在壳体内;以及第二衍射光栅,其与所述第二检测元件相对应地配置,构成为将第二波长范围的光引导至所述第二检测元件,所述第一测定装置的所述第一检测元件构成为检测灵敏度比所述第二测定装置的所述第二检...

【专利技术属性】
技术研发人员:大泽祥宏水口勉野口宗裕
申请(专利权)人:大塚电子株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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