一种用于光谱检测晶体切换装置的定位装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于光谱检测晶体切换装置的定位装置，包括定位机构，支撑框架，定位机构安装在支撑框架上，定位机构包括定位基座，定位模块以及回弹机构，定位基座中心轴安装在支撑框架上且具有基座定位结构，定位模块一端联接在支撑框架上，另一端具有模块定位结构，基座定位结构与模块定位结构紧密配合，回弹机构一端固定联接在支撑框架上，另一端与定位模块相联，定位基座为圆盘结构，基座定位结构位于圆盘结构边缘，基座定位结构为凹槽或凸起，模块定位结构为与凹槽或凸起精确配合的定位凸起或定位凹槽；本发明专利技术采用定位基座、定位模块和回弹机构的结合，在晶体切换的过程中，确保切换晶体前后的定位位置误差很低，因此具有明显的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光谱检测仪器领域，尤其涉及一种光谱仪晶体切换装置的定位装置。
技术介绍
光谱仪需要测量数十个元素的特征谱线；而单独一块晶体只能检测有限数量的特征谱线，只有通过晶体切换装置将多个晶体逐个切换，才能实现全部谱线的测量。光谱仪是精密测量仪器，工业现场使用频率高；这就要求晶体切换装置切换定位精度高，动作可靠，使用寿命长；实际工作中还要求满足真空条件下的工作需要，因此迫切需要寻找一种能够解决此问题且用于晶体切换结构的定位装置。
技术实现思路
有鉴于此，需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个。本专利技术提供了一种用于光谱检测晶体切换装置的定位装置，其特征在于,包括定位机构，支撑框架；所述定位机构安装在所述支撑框架上，所述定位机构包括定位基座，定位模块以及回弹机构；所述定位基座中心轴安装在所述支撑框架上且具有基座定位结构，所述定位模块一端联接在所述支撑框架上，另一端具有模块定位结构，所述基座定位结构与所述模块定位结构紧密配合，所述回弹机构一端固定联接在所述支撑框架上，另一端与所述定位模块相联；所述定位基座为圆盘结构，所述基座定位结构位于所述圆盘结构边缘，所述基座定位结构为凹槽或凸起，所述模块定位结构为与所述凹槽或凸起精确配合的定位凸起或定位凹槽。根据本专利
技术介绍
中对现有技术所述，光谱仪在工业现场的高频率使用，而单独的晶体只能检测有限数量的特征谱线，当切换晶体时需要拆卸设备，且人工多次操作必然会降低其精确度，进而降低定位准确度；而本专利技术公开的用于光谱仪检测晶体切换装置的定位装置，通过采用定位基座、定位模块和回弹机构的结合，在晶体切换的过程中，能够确保切换晶体前后的定位位置误差很低，因此具有明显的优点。另外，根据本专利技术公开的用于光谱检测晶体切换装置的定位装置还具有如下附加技术特征：进一步地，所述凹槽或所述凸起为圆弧形凹槽或圆弧形凸起，所述定位凸起或所述定位凹槽为与对应的所述凹槽或所述凸起精密配合的圆弧形凸起或圆弧形凹槽。进一步地，所述基座定位结构和所述模块定位结构精密配合且所述基座定位结构数量为大于等于1的自然数。进一步地，所述基座定位结构数量为2、4、6、8个。更进一步地，所述凹槽或所述定位凹槽边缘为圆角。进一步地，所述支撑框架为包括上边、下边、左边和右边构成的四边结构，所述定位基座中心轴转动安装在通过所述支撑框架的所述上边和所述下边的中心轴上。更进一步地，所述支撑框架一体成型。进一步地，所述支撑框架还包括齿轮，所述齿轮转动安装在所述支撑架上且与所述定位基座同轴并固定联结。由于齿轮本身并不具有定位功能，因此在用于光谱仪的晶体切换过程中需要进行精确定位。进一步地，所述模块定位结构为转动部件。本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是用于光谱检测晶体切换装置的定位装置的整体装配图；图2是用于光谱检测晶体切换装置的定位装置的示意图。图中，支撑框架100，回弹机构201，定位基座202，定位模块203，齿轮301，模块定位结构2031，基座定位结构2021。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能解释为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“底”、“顶”、“前”、“后”、“内”、“外”、“横”、“竖”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“连通”、“相连”、“连接”、“配合”应做广义理解，例如，可以是固定连接，一体地连接，也可以是可拆卸连接；可以是两个元件内部的连通；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连；“配合”可以是面与面的配合，也可以是点与面或线与面的配合，也包括孔轴的配合，对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。本专利技术的专利技术构思如下，通过采用定位基座、定位模块和回弹机构的结合，在晶体切换的过程中，能够确保切换晶体前后的定位位置误差很低，因此具有明显的优点。下面将参照附图来描述本专利技术，其中图1是用于光谱检测晶体切换装置的定位装置的整体装配图；图2是用于光谱检测晶体切换装置的定位装置的示意图。如图1-2所示，根据本专利技术的实施例，所述用于光谱检测晶体切换装置的定位装置包括：包括定位机构（包括回弹机构201，定位基座202，定位模块203），支撑框架100；所述定位机构（包括回弹机构201，定位基座202，定位模块203）安装在所述支撑框架100上，所述定位机构（包括回弹机构201，定位基座202，定位模块203）包括定位基座202，定位模块203以及回弹机构201；所述定位基座202中心轴安装在所述支撑框架100上且具有基座定位结构2021，所述定位模块203一端联接在所述支撑框架100上，另一端具有模块定位结构2031，所述基座定位结构2021与所述模块定位结构2031紧密配合，所述回弹机构201一端固定联接在所述支撑框架100上，另一端与所述定位模块203相联；所述定位基座202为圆盘结构，所述基座定位结构2021位于所述圆盘结构边缘，所述基座定位结构2021为凹槽或凸起，所述模块定位结构2031为与所述凹槽或凸起精确配合的定位凸起或定位凹槽。根据本专利
技术介绍
中对现有技术所述，光谱仪在工业现场的高频率使用，而单独的晶体只能检测有限数量的特征谱线，当切换晶体时需要拆卸设备，且人工多次操作必然会降低其精确度，进而降低定位准确度；而本专利技术公开的用于光谱仪检测晶体切换装置的定位装置，通过采用定位基座、定位模块和回弹机构的结合，在晶体切换的过程中，能够确保切换晶体前后的定位位置误差很低，因此具有明显的优点。另外，根据本专利技术公开的用于光谱检测晶体切换装置的定位装置还具有如下附加技术特征：根据本专利技术的一些实施例，所述凹槽或所述凸起为圆弧形凹槽或圆弧形凸起，所述定位凸起或所述定位凹槽为与对应的所述凹槽或所述凸起精密配合的圆弧形凸起或圆弧形凹槽。根据本专利技术的一些实施例，所述基座定位结构2021和所述模块定位结构2031精密配合且所述基座定位结构2021数量为大于等于1的自然数。根据本专利技术的一些实施例，所述基座定位结构2021数量为2、4、6、8个。根据本专利技术的一个实施例，所述凹槽或定位凹槽边缘为圆角。根据本专利技术的一些实施例，所述支撑框架100为包括上边、下边、左边和右边构成的四边结构，所述定位基座202中心轴转动安装在通过所述支撑框架100的所述上边和所述下边的中心轴上。根据本专利技术的一个实施例，所述支撑框架100一体成型。根据本专利技术的一些实施例，所述支撑框架100还包括齿轮301，所述齿轮301转动安装在所述支撑架100上且与所述定位基座202同轴并固定联结。根据本专利技术的一些实施例，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光谱检测晶体切换装置的定位装置，其特征在于,包括定位机构，支撑框架；所述定位机构安装在所述支撑框架上，所述定位机构包括定位基座，定位模块以及回弹机构；所述定位基座中心轴安装在所述支撑框架上且具有基座定位结构，所述定位模块一端联接在所述支撑框架上，另一端具有模块定位结构，所述基座定位结构与所述模块定位结构紧密配合，所述回弹机构一端固定联接在所述支撑框架上，另一端与所述定位模块相联；所述定位基座为圆盘结构，所述基座定位结构位于所述圆盘结构边缘，所述基座定位结构为凹槽或凸起，所述模块定位结构为与所述凹槽或凸起精确配合的定位凸起或定位凹槽。

【技术特征摘要】
1.一种用于光谱检测晶体切换装置的定位装置，其特征在于,包括定位机构，支撑框架；所述定位机构安装在所述支撑框架上，所述定位机构包括定位基座，定位模块以及回弹机构；所述定位基座中心轴安装在所述支撑框架上且具有基座定位结构，所述定位模块一端联接在所述支撑框架上，另一端具有模块定位结构，所述基座定位结构与所述模块定位结构紧密配合，所述回弹机构一端固定联接在所述支撑框架上，另一端与所述定位模块相联；所述定位基座为圆盘结构，所述基座定位结构位于所述圆盘结构边缘，所述基座定位结构为凹槽或凸起，所述模块定位结构为与所述凹槽或凸起精确配合的定位凸起或定位凹槽。2.根据权利要求1所述的用于光谱检测晶体切换装置的定位装置，其特征在于，所述凹槽或所述凸起为圆弧形凹槽或圆弧形凸起，所述定位凸起或所述定位凹槽为与对应的所述凹槽或所述凸起精密配合的圆弧形凸起或圆弧形凹槽。3.根据权利要求1所述的用于光谱检测晶体切换装置的定位装置，其特征在于，所述基座定位结构和所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘召贵，黄冲，吴娜，朱刚，
申请(专利权)人：江苏天瑞仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32