一种金属化薄膜缺陷的在线检测-裁切方法技术

本发明专利技术涉及一种金属化薄膜缺陷的在线检测‑裁切方法，属于电容器检测方法技术领域，包括以下步骤：步骤一，激光检测步骤；步骤二，镀层观察步骤；步骤三，激光裁切步骤。上述技术方案通过设置在金属化薄膜两侧的激光发射装置和激光接收装置对膜厚进行检测，当膜厚正常时，激光接收装置将在同一位置接收到稳定的激光信号，当膜厚异常时，则激光接收装置的接收位置将发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量；然后通过发光装置背光显示金属化薄膜的缺陷，提高缺陷的辨别几率，实现缺陷的精确定位，减少检测所需的人力投入，提高了缺陷检出效率，有益效果显著。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种金属化薄膜缺陷的在线检测-裁切方法，属于电容器检测方法

技术介绍
目前电容器在电力电子、通讯设施及轨道运输等领域应用广泛，随着科技水平的发展，电容器凭借其良好的电力性能和高可靠性，成为推动上述行业领域更新换代不可或缺的电子元件，其中薄膜电容器由于体积小、安全性高，极大的推动了电容器
的发展。现有技术中薄膜电容器的通用制法是将金属薄膜与聚乙酯、聚丙烯、聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜从两端重叠后，卷绕成圆筒状的金属化薄膜电极，然后放置到电容器外壳中，注入绝缘油和环氧树脂，再经过组装后得到薄膜电容器。其中，金属化薄膜在蒸镀过程中会出现镀层厚薄不均、飞溅点、蛇纹、氧化层等缺陷，该类缺陷薄膜在卷绕成薄膜电极后容易出现损耗过大，产品质量难以控制，严重时甚至引发电容器爆炸。其中，电容器厚度检测设备可以分为在线测厚设备和非在线测厚设备两大类。这两类测厚设备如果能够配合使用是最理想的，但是在线测厚设备检测设备较为复杂，并且采用非接触式检测，容易出现薄膜表面平整性不好而引起的数据波动较大的情况，而非在线测厚设备可以提供接触式测量方法，有效弥补了在线测厚的这一不足。目前，在线检测设备大都通过人工进行视觉检测，该检测方法需要投入较大人力，并且对于厚度变化不明显的缺陷难以检出，电容器产品质量存在安全隐患。
技术实现思路
未解决现有技术中存在的问题，本专利技术提供了一种金属化薄膜缺陷的在线检测-裁切方法，具体技术方案如下：一种金属化薄膜缺陷的在线检测-裁切方法，包括以下步骤：步骤一，激光检测步骤；步骤二，镀层观察步骤；步骤三，激光裁切步骤；所述步骤一中，激光检测步骤包括激光检测装置，所述激光检测装置包括透光板，所述透光板上铺设有金属化薄膜，所述透光板上位于金属化薄膜两侧分别设置有对称的激光发射装置和激光接收装置，所述检测平台一侧的激光发射装置向金属化薄膜发射激光后反射到激光接收装置上，所述透光板上设置有多组激光发射装置和激光接收装置，各组中的激光发射装置发射到金属化薄膜上的检测点位置相异，当激光接收装置接收到的激光信号与正常金属化薄膜厚度相应的信号相异时，则开启步骤二；所述步骤二中，镀层观察步骤包括镀层观察装置，所述镀层观察装置包括设置在透光板下方的发光装置，所述发光装置外套有透光的感光盒，当步骤一中激光接收装置接收到的激光信号与正常金属化薄膜厚度相应的信号相异时，发光装置开启后其发出的光线依次穿过透光板照射到金属化薄膜背面，对金属化薄膜的缺陷进行背光显示；所述步骤三中，激光裁切步骤包括激光裁切装置，所述激光裁切装置包括支撑架，所述支撑架上设置有活动臂，所述活动臂上设置有激光器，当发光装置对金属化薄膜的缺陷进行缺陷显示时，开启激光器对缺陷所在的区域进行选择性裁切。作为上述技术方案的改进，所述步骤三后还包括步骤四：薄膜切断步骤，所述步骤四中，薄膜切断步骤包括薄膜切断装置，所述薄膜切断装置包括龙门架，所述龙门架上悬挂有驱动机构，所述驱动机构下方设置有刀架，所述刀架下方固定有刀头，当金属化薄膜出现大面积缺陷时，通过薄膜切断装置进行切断操作。上述技术方案通过设置在金属化薄膜两侧的激光发射装置和激光接收装置对膜厚进行检测，当膜厚正常时，激光接收装置将在同一位置接收到稳定的激光信号，当膜厚异常时，则激光接收装置的接收位置将发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量；然后通过发光装置背光显示金属化薄膜的缺陷，提高缺陷的辨别几率，实现缺陷的精确定位，减少检测所需的人力投入，提高了缺陷检出效率。附图说明图1为本专利技术一种金属化薄膜缺陷的在线检测-裁切方法中各步骤使用的装置的结构示意图；图2为本专利技术一种金属化薄膜缺陷的在线检测-裁切方法中各步骤使用的装置在俯视时的示意图。具体实施方式如图1、图2所示，本专利技术提供了一种金属化薄膜缺陷的在线检测-裁切方法分为四个步骤：步骤一，激光检测步骤；步骤二，镀层观察步骤；步骤三，激光裁切步骤；步骤四，薄膜切断步骤；其中，四个步骤均利用到相应的装置。在步骤一中，激光检测步骤包括激光检测装置，所述激光检测装置包括透光板20，所述透光板20上铺设有金属化薄膜10，所述透光板20上位于金属化薄膜10两侧分别设置有对称的激光发射装置40和激光接收装置41，所述检测平台20一侧的激光发射装置40向金属化薄膜10发射激光后反射到激光接收装置41上，所述透光板20上设置有多组激光发射装置40和激光接收装置41，各组中的激光发射装置40发射到金属化薄膜10上的检测点位置相异，当激光接收装置41接收到的激光信号与正常金属化薄膜10厚度相应的信号相异时，则开启步骤二。在步骤二中，镀层观察步骤包括镀层观察装置，所述镀层观察装置包括设置在透光板20下方的发光装置31，所述发光装置31外套有透光的感光盒30，当步骤一中激光接收装置41接收到的激光信号与正常金属化薄膜10厚度相应的信号相异时，发光装置31开启后其发出的光线依次穿过透光板20照射到金属化薄膜10背面，对金属化薄膜10的缺陷进行背光显示。在步骤三中，激光裁切步骤包括激光裁切装置，所述激光裁切装置包括支撑架60，所述支撑架60上设置有活动臂61，所述活动臂61上设置有激光器62，当发光装置31对金属化薄膜10的缺陷进行缺陷显示时，开启激光器62对缺陷所在的区域进行选择性裁切。在步骤四中，薄膜切断步骤包括薄膜切断装置，所述薄膜切断装置包括龙门架50，所述龙门架50上悬挂有驱动机构51，所述驱动机构51下方设置有刀架52，所述刀架52下方固定有刀头53，当金属化薄膜10出现大面积缺陷时，通过薄膜切断装置进行切断操作。上述技术方案在使用时，首先通过步骤一中的设置在金属化薄膜10两侧的激光发射装置40和激光接收装置41对膜厚进行检测，当膜厚正常时，激光接收装置41将在同一位置接收到稳定的激光信号；当膜厚异常时，则激光接收装置41的接收位置将发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量；然后通过步骤二中的发光装置31背光显示金属化薄膜10的缺陷，提高缺陷的辨别几率，实现缺陷的精确定位，减少检测所需的人力投入，提高了缺陷检出效率；再然后，在缺陷检出后金属化薄膜10进入到步骤三的激光裁切步骤，进行激光裁切装置的裁切，由于活动臂61灵活性好，能够携带激光器62进行快速移动，由于一块金属化薄膜10上并且有多条待分切的电容器膜电极，因此激光器62可以选择性的将缺陷所在的那一条电容器膜电极所在区域裁切掉，保证金属化薄膜10整体的连续性，提高了连续生产的效率。最后，通过步骤四的薄膜切断装置，在缺陷面积较大时能够直接进行截断，由于缺陷面积较大，再使用激光器62进行选择性切割效率不高，因而在本专利技术中选用切断速度更快的刀头53结构。该步骤四能够实现切膜机构与激光裁切装置的相互配合、替换使用，实际使用过程中薄膜切断装置并不是必须的，因为激光裁切可以实现薄膜截断的操作，只是其截断速度较薄膜切断装置较慢而已。以上对本专利技术的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本专利技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本专利技术的实施范围，凡依本专利技术范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利技术涵盖范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种金属化薄膜缺陷的在线检测‑裁切方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，激光检测步骤；步骤二，镀层观察步骤；步骤三，激光裁切步骤；所述步骤一中，激光检测步骤包括激光检测装置，所述激光检测装置包括透光板（20），所述透光板（20）上铺设有金属化薄膜（10），所述透光板（20）上位于金属化薄膜（10）两侧分别设置有对称的激光发射装置（40）和激光接收装置（41），所述检测平台（20）一侧的激光发射装置（40）向金属化薄膜（10）发射激光后反射到激光接收装置（41）上，所述透光板（20）上设置有多组激光发射装置（40）和激光接收装置（41），各组中的激光发射装置（40）发射到金属化薄膜（10）上的检测点位置相异，当激光接收装置（41）接收到的激光信号与正常金属化薄膜（10）厚度相应的信号相异时，则开启步骤二；所述步骤二中，镀层观察步骤包括镀层观察装置，所述镀层观察装置包括设置在透光板（20）下方的发光装置（31），所述发光装置（31）外套有透光的感光盒（30），当步骤一中激光接收装置（41）接收到的激光信号与正常金属化薄膜（10）厚度相应的信号相异时，发光装置（31）开启后其发出的光线依次穿过透光板（20）照射到金属化薄膜（10）背面，对金属化薄膜（10）的缺陷进行背光显示；所述步骤三中，激光裁切步骤包括激光裁切装置，所述激光裁切装置包括支撑架（60），所述支撑架（60）上设置有活动臂（61），所述活动臂（61）上设置有激光器（62），当发光装置（31）对金属化薄膜（10）的缺陷进行缺陷显示时，开启激光器（62）对缺陷所在的区域进行选择性裁切。...

【技术特征摘要】
1.一种金属化薄膜缺陷的在线检测-裁切方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，激光检测步骤；步骤二，镀层观察步骤；步骤三，激光裁切步骤；所述步骤一中，激光检测步骤包括激光检测装置，所述激光检测装置包括透光板（20），所述透光板（20）上铺设有金属化薄膜（10），所述透光板（20）上位于金属化薄膜（10）两侧分别设置有对称的激光发射装置（40）和激光接收装置（41），所述检测平台（20）一侧的激光发射装置（40）向金属化薄膜（10）发射激光后反射到激光接收装置（41）上，所述透光板（20）上设置有多组激光发射装置（40）和激光接收装置（41），各组中的激光发射装置（40）发射到金属化薄膜（10）上的检测点位置相异，当激光接收装置（41）接收到的激光信号与正常金属化薄膜（10）厚度相应的信号相异时，则开启步骤二；所述步骤二中，镀层观察步骤包括镀层观察装置，所述镀层观察装置包括设置在透光板（20）下方的发光装置（31），所述发光装置（31）外套有透光的感光盒（30），当步...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈艺辉，
申请(专利权)人：铜陵市铜创电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34