芯片端口频率测试方法技术

本发明专利技术提供了一种芯片端口频率测试方法，包括：定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置(ATE)的测试频率；运行其他测试向量；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。本发明专利技术为了实现在测试向量频率超出所使用ATE在频率测试模式下可提供最高频率的情况下，通过对测试向量进行拆分，以及并发测试技术实现芯片端口输出频率的测试，解决了现有方案一中需升级硬件，额外花费的问题，解决现有方案二中需外挂其他测试设备，测试时间长，且硬件连接不方便的问题。本发明专利技术在ATE硬件不变的条件下，利用并发测试技术实现芯片端口较高频率的测试，提高了较高芯片端口输出频率测试便捷性与测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片端口频率测试方法。
技术介绍
在芯片测试中，端口频率测试是非常重要的部分。进行端口频率测试时，自动测试装置(ATE)向芯片的输入端口施加输入信号，让电路进入相应工作状态，然后抓取被测输出端口上的响应信号，ATE对该输出信号进行采样，计算程序限定的一段时间t内，输出信号的上升沿个数n，得到该被测端口的输出频率为f＝n/t,将f与端口期望输出频率值比较，如果一致就判断芯片该端口输出频率正确，如果不一致就判断芯片该端口输出频率异常。在现有芯片端口输出频率测试时，通常采用一个测试向量来完成该测试项，用来设置状态的输入端口与用来测试的输出端口都放在这个测试向量中，测试向量示例如下所示。该测试向量的频率通常不能超过该ATE在频率测试模式下允许的最大频率f，如采用ATE测试频率时，该最大频率为如下测试向量中执行每行vector的时间周期tset不能小于t＝1/f。当测试向量频率超出所使用ATE频率测试模式下可提供的最高频率时，通常有如下做法：现有技术一：升级硬件；更换更高等级的ATE，但这往往价格不菲，需要付出额外很高的花费；现有技术二：不使用ATE直接进行芯片输出端口频率测试，在跑测试向量的同时，通过ATE外挂示波器，进行输出端口频率测试；ATE与外挂示波器通讯会加长测试时间，且外挂示波器测试在硬件连接上也不方便。综上所述，随着集成电路的迅速发展，使得其端口频率越来越高，采用现有技术，或提高了测试成本，或无法高效率地进行大规模量产测试。
技术实现思路
为了解决现有技术存在的问题，本专利技术提供一种芯片端口频率测试方法，包括：定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置的测试频率；运行其他测试向量；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。可选的，所述自动测试装置的测试频率低于所述其他测试向量的频率。可选的，所述输出管脚的测试向量和其他测试向量在所述自动测试装置的不同部分运行。可选的，进行所述芯片端口频率测试的方法是，得到一段时间t内输出管脚的输出信号的上升沿个数n，计算得到该被测端口的输出频率为f＝n/t。可选的，在所述芯片端口频率测试完成后，停止运行所述输出管脚的测试向量，其他测试向量继续运行。可选的，所述其他测试向量为时钟和设置管脚向量。可选的，所述输出管脚的测试向量为时钟和设置管脚向量。可选的，通过不同的测试项运行所述输出管脚的测试向量和其他测试向量。可选的，所述自动测试装置的测试频率为该自动测试装置在频率测试模式下的频率。可选的，所述自动测试装置在测试模式下的频率低于其在普通模式下支持的测试向量的最高频率。本专利技术提供了一种芯片端口频率测试方法，包括：定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置(ATE)的测试频率；运行其他测试向量；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。本专利技术为了实现在测试向量频率超出所使用ATE在频率测试模式下可提供最高频率的情况下，通过对测试向量进行拆分，以及并发测试技术实现芯片端口输出频率的测试，解决了现有方案一中需升级硬件，额外花费的问题，解决现有方案二中需外挂其他测试设备，测试时间长，且硬件连接不方便的问题。本专利技术在ATE硬件不变的条件下，利用并发测试技术实现芯片端口较高频率的测试，提高了较高芯片端口输出频率测试便捷性与测试效率。附图说明图1为本专利技术一实施例所述的芯片端口频率测试方法的流程图；图2为本专利技术一实施例所述的芯片端口频率测试方法的具体实现示意图。具体实施方式针对芯片端口输出频率进行测试时，通常需要先跑测试向量，使芯片进入测试所需的工作状态，此时，被测端口有频率输出，抓取该信号进行分析，得到一段时间t内，输出信号的上升沿个数n，计算得到该被测端口的输出频率为f＝n/t。当测试向量的频率超出自动测试装置(ATE)在频率测试模式下可提供的最高频率fc时，ATE不支持直接在同一个测试项里测试端口输出频率。如现有的自动测试装置本身支持测试向量最高频率为fo＝400MHz，但在频率测试模式下仅支持测试向量最高频率为fc＝200MHz，现在需要测试期望值为350MHz的端口输出频率，采用自动测试装置的频率测试模式已经无法直接实现。以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。本专利技术的一种芯片端口频率测试方法，如图1所示，包括：定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置(ATE)的测试频率；运行其他测试向量；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。通常，所述自动测试装置的测试频率低于所述其他测试向量的频率。上述自动测试装置的测试频率即为该自动测试装置(ATE)在测试模式下的频率，该频率低于其支持测试向量的最高频率。在本实施例中，可直接将进行端口频率测试的测试向量分成输出管脚的测试向量和其他测试向量，本实施例中为两个部分。其中，原测试向量“pat_0”如下所示，其中执行每行向量的时间周期为tset＝1/350MHz；pat_0：分拆为其他测试向量和输出管脚的测试向量。输出管脚的测试向量为“pat_fcp”，其他测试向量为时钟和设置管脚向量“pat_clk_set”，分别如下：pat_clk_set：其中每行向量的时间周期为tset1＝1/350MHz；pat_fcp：其中每行向量的时间周期为tset2＝1/50MHz；另外，所述输出管脚的测试向量和其他测试向量在所述自动测试装置的不同部分运行，具体而言，分拆的两个测试向量所用的通道资源须分布在自动测试装置不同的Engine上。然后设置测试流程如下，先通过测试项Test_setup来跑第一个测试向量“pat_clk_set”，使芯片被测端口输出待测频率，且该向量在后台一直跑，时钟不会停止，被测端口一直有频率输出，然后通过测试项Test_Meas来跑第二个测试向量“pat_fcp”,在此测试项中按照自动测试装置频率测试方法测得芯片端口输出频率。测试源代码如下：PublicFunctionBackGround_test_setup()AsLongDimtest_setup_PATAsString(定义设置用测试向量)test_setup_PAT＝\.\\patterns\\pat_clk_set.PAT\If(TheExec.Flow.IsTestBPStart＝True)Then(如果测试flow中opcode为“TestBPStart”，则通过测试向量“pat_clk_set”设置芯片进入相应工作状态，并让该测试向量一直跑，时钟不会停止，被测端口一直有频率输出)(如果测试flow中opcode为“TestBPEnd”，则将“pat_clk_set”测试向量停下，测试结束)本实施例的一种芯片端口频率测试方法具体如图2所示，包括：1.芯片加电，给芯片的电源施加规定的电压；2.通过跑测试向量“pat_clk_set”，设置芯片进入相应工作状态，芯片被测端口开始有频率输出，设定向量“pat_clk_se本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片端口频率测试方法，其特征在于，包括：定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置的测试频率；运行其他测试向量；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。

【技术特征摘要】
1.一种芯片端口频率测试方法，其特征在于，包括：定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置的测试频率；运行其他测试向量；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。2.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，所述自动测试装置的测试频率低于所述其他测试向量的频率。3.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，所述输出管脚的测试向量和其他测试向量在所述自动测试装置的不同部分运行。4.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，进行所述芯片端口频率测试的方法是，得到一段时间t内输出管脚的输出信号的上升沿个数n，计算得到该被测端口的输出频率为f＝n/t。5.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方...

【专利技术属性】
技术研发人员：余琨，刘远华，汤雪飞，王华，牛勇，
申请(专利权)人：上海华岭集成电路技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31