一种数据校正的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种数据校正的方法和装置，属于医学领域。所述方法包括：获取正电子发射断层显像PET设备在对第一待检测对象进行检测时，检测到的正弦图数据和所述PET设备中的每个晶体的第一单举计数率；根据所述每个晶体的第一单举计数率和预先存储所述每个晶体对应的建模参数，确定所述每个晶体对应的校正因子，根据所述每个晶体对应的校正因子，生成校正矩阵；基于所述校正矩阵，对所述正弦图数据进行校正。采用本发明专利技术，可以避免因待检测对象的位置调整不准确，而导致校正矩阵的准确度较低的情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及医学领域，特别涉及一种数据校正的方法和装置。
技术介绍
在医学领域中，可以通过PET/CT(positronemissiontomography/computedtomography，正电子发射断层显像/计算机断层扫描)设备对人体或动物体肿瘤、心脏系统疾病和神经系统疾病进行早期诊断，即可以通过PET/CT设备对被扫描对象扫描得到的图像确定发生病灶的位置。PET设备中会设置有探测部件，探测部件可以包括多个晶体(Crystal)、光电转换器件(如光电倍增管)，以及电子学电路板等。在探测时，被检查者体内会预先注射弱放射性药物(如FDG等)，弱放射性药物中的放射性核素发射出正电子会与周围的电子湮灭产生一对能量为511keV的光子。探测部件的晶体则会探测到这些光子。在探测511keV光子的过程中，会出现堆积效应和死时间的现象，堆积效应和死时间会导致PET的成像质量较差。为了避免死时间和堆积效应带来的影响，通常会对探测到的数据进行校正。在PET设备中，晶体在横断面方向上是成圆形对称排列的。通常的校正方法是使放射源(即待检测对象)精确位于该圆形的中心位置。其中，任意两个晶体可以组成一个晶体对。对于一个晶体对包含的两个晶体，可以确定每个晶体在单位时间内探测到的511keV的光子，以及各光子的接收时间，进而可以在这些511keV的光子中，确定接收时间的时间差小于预设阈值的光子对的数目，得到该光子对的符合计数率。对于圆形中的任意一个晶体对，其包含的两个晶体所连线段的长度可以可以称为相对位置，基于现有的校正算法，相对位置相同的晶体对对应的符合计数率越接近，得到的校正矩阵的准确度越高，因此，技术人员需要将待检测对象的位置调整在圆形的正中心，以使放射源发出的光子与周围各晶体的距离是相等的，从而使得相对位置相同的晶体对对应的符合计数率比较接近。技术人员可以检测放射性药物在不同活度下，晶体对对应的符合计数率，根据检测到的符合计数率，以及预设的校正算法，生成校正矩阵。在对人体或动物体进行检测的过程中，根据该校正矩阵，对检测到的正弦图数据进行校正，以提高PET的成像质量。其中，正弦图数据由所有晶体对的符合计数率组成的。在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术至少存在以下问题：对检测对象的位置调整是由人工操作的，会存在一些误差，造成待检测对象的位置偏离圆形的正中心，使得放射源发出的光子与周围各晶体的距离不相等，导致校正矩阵的准确度较低。
技术实现思路
为了解决现有技术的问题，本专利技术实施例提供了一种数据校正的方法和装置。所述技术方案如下：第一方面，提供了一种数据校正的方法，所述方法包括：获取正电子发射断层显像PET设备在对第一待检测对象进行检测时，检测到的正弦图数据和所述PET设备中的每个晶体的第一单举计数率；根据所述每个晶体的第一单举计数率和预先存储所述每个晶体对应的建模参数，确定所述每个晶体对应的校正因子，根据所述每个晶体对应的校正因子，生成校正矩阵；基于所述校正矩阵，对所述正弦图数据进行校正。可选的，所述根据所述每个晶体对应的校正因子，生成校正矩阵，包括：确定所述各晶体组成的晶体对，根据每个晶体对包含的晶体的校正因子，确定所述每个晶体对对应的校正因子，根据所述每个晶体对对应的校正因子，生成校正矩阵。可选的，所述方法还包括：获取所述PET设备在对第二待检测对象进行检测时，不同时间段检测到的所述PET设备中的每个晶体的第二单举计数率，以及所述第二待检测对象在所述不同时间段对应的放射性的等效活度；根据预先存储的等效活度与理想单举计数率的对应关系，分别确定所述不同时间段的放射性的等效活度对应的理想单举计数率；根据确定出的所述不同时间段的放射性的等效活度对应的理想单举计数率，以及所述不同时间段检测到的每个晶体的第二单举计数率，确定所述每个晶体对应的建模参数。可选的，所述方法还包括：将低等效活度下所述各晶体对应的第二单举计数率，作为所述各晶体对应的理想单举计数率；根据所述低等效活度下所述各晶体对应的理想单举计数率，以及对应的放射性的等效活度，确定等效活度与理想单举计数率的对应关系。可选的，所述获取第二待检测对象在所述不同时间段对应的放射性的等效活度，包括：根据所述第二待检测对象的放射性的初始活度值、所述初始活度的测量时间、所以不同时间段中每个时间段对应的起始时间和时长，确定所述第二待检测对象在所述不同时间段对应的放射性的等效活度。第二方面，提供了一种数据校正的装置，所述装置包括：第一获取模块，用于获取正电子发射断层显像PET设备在对第一待检测对象进行检测时，检测到的正弦图数据和所述PET设备中的每个晶体的第一单举计数率；第一确定模块，用于根据所述每个晶体的第一单举计数率和预先存储所述每个晶体对应的建模参数，确定所述每个晶体对应的校正因子，根据所述每个晶体对应的校正因子，生成校正矩阵；校正模块，用于基于所述校正矩阵，对所述正弦图数据进行校正。可选的，所述第一确定模块，用于：确定所述各晶体组成的晶体对，根据每个晶体对包含的晶体的校正因子，确定所述每个晶体对对应的校正因子，根据所述每个晶体对对应的校正因子，生成校正矩阵。可选的，所述装置还包括：第二获取模块，用于获取所述PET设备在对第二待检测对象进行检测时，不同时间段检测到的所述PET设备中的每个晶体的第二单举计数率，以及所述第二待检测对象在所述不同时间段对应的放射性的等效活度；第二确定模块，用于根据预先存储的等效活度与理想单举计数率的对应关系，分别确定所述不同时间段的放射性的等效活度对应的理想单举计数率；第三确定模块，用于根据确定出的所述不同时间段的放射性的等效活度对应的理想单举计数率，以及所述不同时间段检测到的每个晶体的第二单举计数率，确定所述每个晶体对应的建模参数。可选的，所述装置还包括：第四确定模块，用于将低等效活度下所述各晶体对应的第二单举计数率，作为所述各晶体对应的理想单举计数率；第五确定模块，用于根据所述低等效活度下所述各晶体对应的理想单举计数率，以及对应的放射性的等效活度，确定等效活度与理想单举计数率的对应关系。可选的，所述第二获取模块，用于：根据所述第二待检测对象的放射性的初始活度值、所述初始活度的测量时间、所以不同时间段中每个时间段对应的起始时间和时长，确定所述第二待检测对象在所述不同时间段对应的放射性的等效活度。本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是：本专利技术实施例中，获取正电子发射断层显像PET设备在对第一待检测对象进行检测时，检测到的正弦图数据和PET设备中的每个晶体的第一单举计数率，根据每个晶体的第一单举计数率和预先存储每个晶体对应的建模参数，确定每个晶体对应的校正因子，根据每个晶体对应的校正因子，生成校正矩阵，基于校正矩阵，对正弦图数据进行校正，在上述处理中，根据每个晶体的单举计数率来确定校正矩阵，无需检测符合计数率，因此，无需将待检测对象的位置调整在圆形的正中心，所以，可以避免因位置调整不准确，而导致校正矩阵的准确度较低的情况。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数据校正的方法，其特征在于，所述方法包括：获取正电子发射断层显像PET设备在对第一待检测对象进行检测时，检测到的正弦图数据和所述PET设备中的每个晶体的第一单举计数率；根据所述每个晶体的第一单举计数率和预先存储所述每个晶体对应的建模参数，确定所述每个晶体对应的校正因子，根据所述每个晶体对应的校正因子，生成校正矩阵；基于所述校正矩阵，对所述正弦图数据进行校正。

【技术特征摘要】
1.一种数据校正的方法，其特征在于，所述方法包括：获取正电子发射断层显像PET设备在对第一待检测对象进行检测时，检测到的正弦图数据和所述PET设备中的每个晶体的第一单举计数率；根据所述每个晶体的第一单举计数率和预先存储所述每个晶体对应的建模参数，确定所述每个晶体对应的校正因子，根据所述每个晶体对应的校正因子，生成校正矩阵；基于所述校正矩阵，对所述正弦图数据进行校正。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个晶体对应的校正因子，生成校正矩阵，包括：确定所述各晶体组成的晶体对，根据每个晶体对包含的晶体的校正因子，确定所述每个晶体对对应的校正因子，根据所述每个晶体对对应的校正因子，生成校正矩阵。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述PET设备在对第二待检测对象进行检测时，不同时间段检测到的所述PET设备中的每个晶体的第二单举计数率，以及所述第二待检测对象在所述不同时间段对应的放射性的等效活度；根据预先存储的等效活度与理想单举计数率的对应关系，分别确定所述不同时间段的放射性的等效活度对应的理想单举计数率；根据确定出的所述不同时间段的放射性的等效活度对应的理想单举计数率，以及所述不同时间段检测到的每个晶体的第二单举计数率，确定所述每个晶体对应的建模参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将低等效活度下所述各晶体对应的第二单举计数率，作为所述各晶体对应的理想单举计数率；根据所述低等效活度下所述各晶体对应的理想单举计数率，以及对应的放射性的等效活度，确定等效活度与理想单举计数率的对应关系。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取第二待检测对象在所述不同时间段对应的放射性的等效活度，包括：根据所述第二待检测对象的放射性的初始活度值、所述初始活度的测量时间、所以不同时间段中每个时间段对应的起始时间和时长，确定所述第二待检测对象在所述不同时间段对应的放射性的等效活度。6.一种数据校正的装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱程，李楠，
申请(专利权)人：赛诺联合医疗科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11