测试装置的测试单元定位机构及其应用的测试设备制造方法及图纸

技术编号:14335453 阅读:56 留言:0更新日期:2017-01-04 09:06
本发明专利技术提供一种测试装置的测试单元定位机构及其应用的测试设备,该测试装置在机台的底面装配定位机构,该定位机构设有具有容置空间的固定板,固定板上设有至少一动力源,该动力源驱动至少一顶抵件作至少一方向位移,该测试单元设有装配测试座的承载器,并由测试装置的测试机构带动位移至固定板的容置空间内,该定位机构以动力源驱动顶抵件位移而卡掣顶撑承载器确实贴合机台,以定位具测试座的测试单元,更换测试座时,定位机构以动力源驱动顶抵件脱离承载器,而卸除具测试座的测试单元,使测试机构带动测试单元离开机台;如此,可利用定位机构自动化定位或卸除具测试座的测试单元,而节省更换作业时间,达到提升使用便利性及生产效能的实用效益。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种可自动化定位或卸除具测试座的测试单元,而节省更换测试座的作业时间,以提升使用便利性及生产效能的定位机构。
技术介绍
在现今,电子元件于制作完成后,系运送至测试设备进行测试作业,以淘汰出不良品,请参阅第1、2、3图,该测试设备设有具开口111的机台11,并在机台11的上方设有具出入口121的外罩12,另于机台11的下方配置有测试电子元件的测试装置13,该测试装置13设有一连接中央控制装置(图未示出)的测试器131,该测试器131由移送结构(图未示出)带动作第一、二方向(如X、Y方向)位移,以及由二移送臂132带动作第三方向(如Z方向)位移,又该测试器131上系装设有测试电路板133及测试单元,该测试电路板133系电性连接测试器131,该测试单元是在一基板134上装配复数个具探针的测试座135,测试座135的探针系电性连接测试电路板133,该测试装置13系以移送结构带动测试器131作第一、二方向位移,令测试单元的测试座135对应于机台11的开口111,再以移送臂132带动测试器131及其上的测试电路板133、测试单元作第三方向向上位移,令测试单元的基板134顶置于机台11的底面,并使复数个测试座135穿置于机台11的开口111中,由于移载待测电子元件15的压取机构14,为了使待测电子元件15的电性接点与测试座135的探针确实接触,是在将待测电子元件15放置在测试座135内时,并对待测电子元件15施以一下压力,而压抵电子元件15执行测试作业,工作人员为避免测试单元的测试座135因承受此一下压力而向下位移以影响测试品质,工作人员系利用复数个栓具136将测试单元的基板134锁固定位于机台11的底面,使测试座135不会作第三方向位移,因此,当压取机构14压抵电子元件15于测试座135内执行测试作业时,由于测试单元的基板134已固定于机台11的底面,进而可使测试座135稳固执行测试作业;请参阅图4,欲测试另一批次不同类型的电子元件,而更换测试座135时,工作人员必须将复数个栓具136拆卸,令测试单元的基板134与机台11分离,方可使测试器131带动具测试座135及基板134的测试单元作第三方向向下位移而离开机台11,以供工作人员更换具测试座135的测试单元;然而,此一测试单元的定位方式于使用上具有如下缺失:1.由于测试单元的基板134系锁固于测试器131上,而测试器131又装配于机台11下方,导致机台11的下方已无空间可供工作人员进行锁固基板134作业,以致工作人员必须由外罩12的出入口121处进行锁固基板134作业,但外罩12的内部也因配置有其他装置,以致空间有限,使得工作人员于狭小空间处进行锁固基板134作业上相当不便。2.于更换测试单元的测试座135时,工作人员必须将测试设备停机,再一一拆卸机台11上的复数个栓具136,方可卸除测试单元的基板134,于固定新测试单元的基板时,再利用复数个栓具134将新的基板锁固定位于机台11,使得整台测试设备必须等待反复装拆复数个栓具136作业后,才可开机执行测试作业,不仅耗费作业时间,也无法提升生产效能。
技术实现思路
针对现有技术的不足,本专利技术的目的在于:提供一种测试装置的测试单元定位机构及其应用的测试设备,可自动化定位或卸除具测试座的测试单元,而节省更换测试座的作业时间。为实现上述目的,本专利技术采用的技术方案是:一种测试装置的测试单元定位机构,包含:机台:具有至少一开口;测试单元:设有具至少一基板的承载器,并在该至少一基板装配至少一具探针的测试座,该测试座测试电子元件;定位机构:装配于该机台,并设有至少一动力源,该动力源驱动至少一顶抵件作至少一方向位移,该顶抵件的至少一端设有顶掣部件,用以定位或卸除该测试单元的承载器。所述的测试装置的测试单元定位机构,该定位机构设有具有容置空间的固定板,该固定板固设于该机台的底面,并装配有该动力源。所述的测试装置的测试单元定位机构,该定位机构是在该固定板开设有滑槽,以供放置该顶抵件。所述的测试装置的测试单元定位机构,该定位机构的固定板是在该顶抵件的移动路径设有支撑部件,以支撑该顶抵件。所述的测试装置的测试单元定位机构,该定位机构设有至少一启闭开关,用以启闭该动力源。所述的测试装置的测试单元定位机构,该测试单元的承载器设有第一基板及第二基板,该第一基板开设有至少一装配该测试座的承置部,该第二基板开设有通口,并装配于该第一基板的上方,且供该测试座置入于该通口处。所述的测试装置的测试单元定位机构,该测试单元的承载器是在该第二基板上设有至少一承顶部件,以供该定位机构的顶抵件卡掣或脱离。所述的测试装置的测试单元定位机构,该测试装置设有测试机构、测试电路板及导引结构,该测试机构设有具有台座的测试器,该测试电路板装配于该测试器的台座上,并电性连接该测试器及该测试单元的测试座,该导引结构是在该定位机构的固定板与该测试机构的测试器间设有相互配合的导接件及接合件。所述的测试装置的测试单元定位机构,该导引结构是在该机台与该测试单元的承载器间设有相互配合的嵌接件及插合部件。为实现上述目的,本专利技术采用的技术方案还包括:一种应用测试装置的测试设备,包含:机台;供料装置:装配于该机台,并设有至少一供料机构,用以容置待测的电子元件;收料装置:装配于该机台,并设有至少一收料机构,用以容置已测的电子元件;至少一前述测试装置的测试单元定位机构:装配于该机台,并设有该测试单元及该定位机构,该测试单元用以测试电子元件,该定位机构用以定位或卸除该测试单元;输送装置:装配于该机台,并设有至少一移料机构,用以移载电子元件;中央控制装置:用以控制及整合各装置作动,以执行自动化作业。本专利技术的优点之一,系提供一种测试装置的测试单元定位机构,该测试装置是在机台的底面装配定位机构,该定位机构设有具有容置空间的固定板,并在固定板上设有至少一动力源,该动力源系驱动至少一顶抵件作至少一方向位移,该测试单元设有装配测试座的承载器,并由测试装置的测试机构带动位移至固定板的容置空间内,该定位机构系以动力源驱动顶抵件位移而卡掣顶撑承载器确实贴合机台,以定位具测试座的测试单元,于更换测试座时,定位机构系以动力源驱动顶抵件脱离承载器,而卸除具测试座的测试单元,使测试机构带动测试单元离开机台;如此,可利用定位机构自动化定位或卸除具测试座的测试单元,而节省更换作业时间,达到提升使用便利性及生产效能的实用效益。本专利技术的优点之二,系提供一种测试装置的测试单元定位机构,其中,该定位机构系自动化控制动力源驱动顶抵件位移而定位或卸除测试单元,使得工作人员毋须于狭小空间处装拆栓具,达到提升作业便利性的实用效益。本专利技术的优点之三,系提供一种测试装置的测试单元定位机构,其中,该定位机构与测试机构间设有导引结构,该导引结构是在定位机构的固定板与测试机构的测试器间设有相互配合的导接件及接合件,使得测试器可带动具测试座的测试单元准确装配于定位机构上,以利定位机构的顶抵件将测试单元的承载器卡掣定位,达到提升作业便利性的实用效益。本专利技术的优点之四,系提供一种测试装置的测试单元定位机构,其中,该定位机构是在顶抵件的移动路径设有支撑部件,以支撑顶抵件稳固卡掣测试单元的承载器,使承载器稳固贴本文档来自技高网
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测试装置的测试单元定位机构及其应用的测试设备

【技术保护点】
一种测试装置的测试单元定位机构,其特征在于,包含:机台:具有至少一开口;测试单元:设有具至少一基板的承载器,并在该至少一基板装配至少一具探针的测试座,该测试座测试电子元件;定位机构:装配于该机台,并设有至少一动力源,该动力源驱动至少一顶抵件作至少一方向位移,该顶抵件的至少一端设有顶掣部件,用以定位或卸除该测试单元的承载器。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置的测试单元定位机构,其特征在于,包含:机台:具有至少一开口;测试单元:设有具至少一基板的承载器,并在该至少一基板装配至少一具探针的测试座,该测试座测试电子元件;定位机构:装配于该机台,并设有至少一动力源,该动力源驱动至少一顶抵件作至少一方向位移,该顶抵件的至少一端设有顶掣部件,用以定位或卸除该测试单元的承载器。2.根据权利要求1所述的测试装置的测试单元定位机构,其特征在于,该定位机构设有具有容置空间的固定板,该固定板固设于该机台的底面,并装配有该动力源。3.根据权利要求2所述的测试装置的测试单元定位机构,其特征在于,该定位机构是在该固定板开设有滑槽,以供放置该顶抵件。4.根据权利要求2所述的测试装置的测试单元定位机构,其特征在于,该定位机构的固定板是在该顶抵件的移动路径设有支撑部件,以支撑该顶抵件。5.根据权利要求1所述的测试装置的测试单元定位机构,其特征在于,该定位机构设有至少一启闭开关,用以启闭该动力源。6.根据权利要求1所述的测试装置的测试单元定位机构,其特征在于,该测试单元的承载器设有第一基板及第二基板,该第一基板开设有至少一装配该测试座的承置部,该第二基板开设有通口,并装配于该第一基板的上方,且供该测试座置入于该通口处。7.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:余俊宏
申请(专利权)人:鸿劲科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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