一种具有高触感的复位按键与测试按键组合结构制造技术

技术编号:14324448 阅读:121 留言:0更新日期:2017-01-01 10:47
本实用新型专利技术公开了一种具有高触感的复位按键与测试按键组合结构,包括:复位按键、测试按键、复位触片、测试触片、复位弹簧、测试弹簧、按键支架和固定支架,复位按键和测试按键均为立方体,其底部向下方延伸有一导向柱,导向柱上设置有一台阶结构;复位触片为扁状且两端向下弯曲,其剖面呈跑道型,其顶部中央设有与导向柱相嵌套的通孔;测试触片为扁状且两端向下弯折,其剖面呈八字型,其顶部中央设有与导向柱相嵌套的通孔;复位弹簧套设于复位按键中台阶结构下端的外侧;测试弹簧套设于测试按键中台阶结构下端的外侧;固定支架设置于组合结构的底部,固定支架上设有两个与导向柱相匹配的通孔;按键支架设置于固定支架与复位按键和测试按键之间。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种按键,具体而言,涉及一种具有高触感的复位按键与测试按键组合结构
技术介绍
现有的电气设备中,为了保障设备平稳、稳定运行以及在设备发生暂时性故障时对其进行复位,往往需要设置复位按键与测试按键。但是,目前大多数电气设备中安装的复位按键与测试按键存在组装操作不便、易松动、安装易偏位、松动且单边向上翘起、安装费时、工作不平稳等不足,进而导致使用者按下按键时手感缺佳及用户体验感不强。
技术实现思路
本技术提供了一种具有高触感的复位按键与测试按键组合结构,其应用于一电气设备中并控制电气设备执行复位及执行测试功能。为了达到上述目的,本技术提供了一种具有高触感的复位按键与测试按键组合结构,其包括:复位按键、测试按键、复位触片、测试触片、复位弹簧、测试弹簧、按键支架和固定支架,其中:所述复位按键和所述测试按键均为立方体,其底部向下方延伸有一导向柱,所述导向柱上设置有一台阶结构,所述导向柱的底部分别与电气设备中的复位机构和测试机构连接;所述复位触片为扁状且两端向下弯曲,其剖面呈跑道型,其顶部中央设有与所述导向柱相嵌套的通孔;所述测试触片为扁状且两端向下弯折,其剖面呈八字型,其顶部中央设有与所述导向柱相嵌套的通孔;所述复位弹簧套设于所述复位按键中台阶结构下端的外侧;所述测试弹簧套设于所述测试按键中台阶结构下端的外侧;所述固定支架设置于所述组合结构的底部,所述固定支架上设有两个与所述导向柱相匹配的通孔;所述按键支架设置于所述固定支架与所述复位按键和所述测试按键之间。在本技术的一实施例中,所述复位按键和所述测试按键的四周设有卡勾,相应的,所述复位触片和所述测试触片的顶部设有与卡勾相匹配的卡孔。在本技术的一实施例中,所述复位按键和所述测试按键上的卡勾数量为均为4个,相应的,所述复位触片和所述测试触片顶部的卡孔数量也均为4个。本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构中设置有导向柱以及导向柱的外侧套设有弹簧,从而能够保证复位按键和测试按键下行时运行平稳,并且复位触片和测试触片能够对下行的复位按键和测试按键起到缓冲作用,进而能够使得按键时具有较佳的手感、用户体验性强。另外,本技术中的元件组装方便、不易发生按键松动及按键单边翘起等现象。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构的整体示意图;图2为本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构的纵向剖视图;图3为本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构的俯视图;图4为本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构中测试按键的横向剖视图;图5为本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构中复位按键的横向剖视图;图6为本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构的仰视图;图7a为测试按键的整体视图;图7b为测试按键的纵向剖视图;图7c为测试按键的仰视图;图7d为测试按键的横向剖视图;图7e为测试按键的俯视图;图8a为复位按键的整体视图;图8b为复位按键的纵向剖视图;图8c为复位按键的仰视图;图8d为复位按键的横向剖视图;图8e为复位按键的俯视图;图9a为复位触片的整体视图;图9b为复位触片的纵向剖视图;图9c为复位触片的俯视图;图10a为测试触片的整体视图;图10b为测试触片的纵向剖视图;图10c为测试触片的俯视图;图11a为按键支架的整体视图;图11b为按键支架的纵向剖视图;图11c为按键支架的仰视图;图11d为按键支架的横向剖视图;图11e为按键支架的俯视图;图12为固定支架的整体视图。附图标记说明:1-复位按键;11、21-导向柱;2-测试按键;110、210-台阶结构;3-复位触片;4-测试触片;5-复位弹簧;6-测试弹簧;7-按键支架;8-固定支架;A-卡勾;B-卡孔。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。如图1~图12所示,本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构包括:复位按键1、测试按键2、复位触片3、测试触片4、复位弹簧5、测试弹簧6、按键支架7和固定支架8,其中:复位按键1和测试按键2均为立方体,其底部向下方延伸有一导向柱11、21,导向柱11、21上设置有一台阶结构110、210,导向柱11、21的底部分别与电气设备中的复位机构和测试机构连接(图中未示出);复位触片3为扁状且两端向下弯曲,其剖面呈跑道型,其顶部中央设有与导向柱相嵌套的通孔;测试触片4为扁状且两端向下弯折,其剖面呈八字型,其顶部中央设有与导向柱相嵌套的通孔;复位弹簧5套设于复位按键中台阶结构110下端的外侧;测试弹簧6套设于测试按键中台阶结构210下端的外侧;固定支架8设置于组合结构的底部,固定支架8上设有两个与导向柱相匹配的通孔。按键支架7设置于固定支架8与复位按键1和测试按键2之间。复位按键1和测试按键2的四周设有卡勾A,相应的,复位触片3和测试触片4的顶部设有与卡勾相匹配的卡孔B。复位按键1和测试按键2上的卡勾A的数量可以设置为4个,相应的,复位触片3和测试触片4顶部的卡孔B的数量也设置为4个。在实际实施时,也可以根据需要对卡孔和卡勾的数量进行增减,本技术不以此为限。本技术提供的具有高触感的复位按键与测试按键组合结构中设置有导向柱以及导向柱的外侧套设有弹簧,从而能够保证复位按键和测试按键下行时运行平稳,并且复位触片和测试触片能够对下行的复位按键和测试按键起到缓冲作用,进而能够使得按键时具有较佳的手感、用户体验性强。另外,本技术中的元件组装方便、不易发生按键松动及按键单边翘起等现象。本领域普通技术人员可以理解:附图只是一个实施例的示意图,附图中的模块或流程并不一定是实施本技术所必须的。本领域普通技术人员可以理解:实施例中的装置中的模块可以按照实施例描述分布于实施例的装置中,也可以进行相应变化位于不同于本实施例的一个或多个装置中。上述实施例的模块可以合并为一个模块,也可以进一步拆分成多个子模块。最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本技术的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本技术实施例技术方案的精神和范围。本文档来自技高网...
一种具有高触感的复位按键与测试按键组合结构

【技术保护点】
一种具有高触感的复位按键与测试按键组合结构,其应用于一电气设备中并控制电气设备执行复位及执行测试功能,其特征在于,包括:复位按键、测试按键、复位触片、测试触片、复位弹簧、测试弹簧、按键支架和固定支架,其中:所述复位按键和所述测试按键均为立方体,其底部向下方延伸有一导向柱,所述导向柱上设置有一台阶结构,所述导向柱的底部分别与电气设备中的复位机构和测试机构连接;所述复位触片为扁状且两端向下弯曲,其剖面呈跑道型,其顶部中央设有与所述导向柱相嵌套的通孔;所述测试触片为扁状且两端向下弯折,其剖面呈八字型,其顶部中央设有与所述导向柱相嵌套的通孔;所述复位弹簧套设于所述复位按键中台阶结构下端的外侧;所述测试弹簧套设于所述测试按键中台阶结构下端的外侧;所述固定支架设置于所述组合结构的底部,所述固定支架上设有两个与所述导向柱相匹配的通孔;所述按键支架设置于所述固定支架与所述复位按键和所述测试按键之间。

【技术特征摘要】
1.一种具有高触感的复位按键与测试按键组合结构,其应用于一电气设备中并控制电气设备执行复位及执行测试功能,其特征在于,包括:复位按键、测试按键、复位触片、测试触片、复位弹簧、测试弹簧、按键支架和固定支架,其中:所述复位按键和所述测试按键均为立方体,其底部向下方延伸有一导向柱,所述导向柱上设置有一台阶结构,所述导向柱的底部分别与电气设备中的复位机构和测试机构连接;所述复位触片为扁状且两端向下弯曲,其剖面呈跑道型,其顶部中央设有与所述导向柱相嵌套的通孔;所述测试触片为扁状且两端向下弯折,其剖面呈八字型,其顶部中央设有与所述导向柱相嵌套的通孔;所述复位弹簧套设于所述复位按键中台阶结...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈恒陈伍胜严华戴勇
申请(专利权)人:江苏通领科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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