一种激光轴与反射镜法线平行的检校方法技术

本发明专利技术涉及一种激光轴与反射镜法线平行的检校方法，包括：先将被测组件上激光器的激光轴通过二维辅助反射镜的法线引出；再将自准直经纬仪Ⅱ调水平，用其对二维辅助反射镜自准，调整自准直经纬仪Ⅱ的方位；然后调整自准直经纬仪Ⅱ的俯仰，使自准直经纬仪Ⅰ对准自准直经纬仪Ⅱ将激光器的激光轴引出，再根据需要对被测组件上的被测反射镜调校，直至被测反射镜的法线与激光器的激光轴平行。本发明专利技术可以非常便捷的实现激光器的激光轴与被测反射镜法线平行的检校；特别是能够实现激光器的激光轴与被测反射镜法线纵向间距较大时二者平行性的检校；还解决激光不能用通用前置镜直接接收的问题；另外，该方法可将二者的平行性精度校正至5角秒，检校精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学检校
，尤其是一种激光轴与反射镜法线平行的检校方法，可应用于各类飞机校靶设备中激光轴引出到反射镜上。
技术介绍
随着科学技术的不断发展，激光技术的应用在各个行业、领域都日益广泛。激光发射原理及产生过程的特殊性决定了激光具有普通光所不具有的特点，即单色性、相干性、方向性、高亮度。而在飞机校靶设备中，将飞机姿态轴用激光轴表征，利用高亮度适应不同亮度环境。但是激光轴的方向性不能通过仪器设备直接读取，则需要将激光轴的指向用反射镜的法线来代替，以便校靶装置提取、使用，这就涉及到激光轴和反射镜法线平行性的检校方法。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种激光轴与反射镜法线平行的检校方法，具有简单易行、可操作性强、检校精度高、安全性高的特点。为了解决上述技术问题，本专利技术提供了如下的技术方案：本专利技术一种激光轴与反射镜法线平行的检校方法，包括以下步骤：(1)先将被测组件上激光器的激光轴通过二维辅助反射镜的法线引出；(2)再将自准直经纬仪Ⅱ调水平，用其对二维辅助反射镜自准，调整自准直经纬仪Ⅱ的方位；(3)然后调整自准直经纬仪Ⅱ的俯仰，使自准直经纬仪Ⅰ对准自准直经纬仪Ⅱ将激光器的激光轴引出，再根据需要对被测组件上的被测反射镜调校，直至被测反射镜的法线与激光器的激光轴平行。进一步地，步骤(1)中先取下自准直经纬仪Ⅰ和自准直经纬仪Ⅱ，使被测组件上的激光器激光束出射到二维辅助反射镜的中心，激光束被反射回到被测组件，再调整二维辅助反射镜的俯仰和方位，使反射激光束的光斑与被测组件出射激光束的光斑重合，此时二维辅助反射镜的法线即代表激光器的激光轴。进一步地，步骤(2)中先放上自准直经纬仪Ⅱ，将自准直经纬仪Ⅱ调水平，用其对二维辅助反射镜正镜自准，记录方位、俯仰读数X1、Y1，然后对二维辅助反射镜倒镜自准，记录方位、俯仰读数X2、Y2，得出读数X＝1/2(X1+X2)、Y＝1/2(Y1+Y2)；将自准直经纬仪Ⅱ方位转至读数X，然后使用正镜和倒镜方法分别在方位方向转180°，记录方位读数X3、X4，得出读数XⅡ＝1/2(X3+X4)，把自准直经纬仪Ⅱ方位转至读数XⅡ，再将自准直经纬仪Ⅱ方位转180°，俯仰不限。进一步地，步骤(3)中先放上自准直经纬仪Ⅰ，自准直经纬仪Ⅱ4的俯仰根据自准直经纬仪Ⅰ3来调整，使自准直经纬仪Ⅰ正镜对准自准直经纬仪Ⅱ，将自准直经纬仪Ⅰ方位转180°，俯仰调整值为180°-Y，从自准直经纬仪Ⅰ里看被测组件上被测反射镜的自准直像，如果自准直像与自准直经纬仪Ⅰ分划重合，则说明被测反射镜的法线与激光器的激光轴平行，否则不平行；然后使自准直经纬仪Ⅰ倒镜对准自准直经纬仪Ⅱ，按上述方法再次测量，如果自准直像与自准直经纬仪Ⅰ分划重合，则说明被测反射镜的法线与激光器的激光轴平行，否则不平行，需要对被测反射镜调校，直至重合或到合理范围内。进一步地，自准直经纬仪Ⅰ的放置位置与自准直经纬仪Ⅱ的放置位置在纵向形成高度差。本专利技术的有益效果：1、能够实现激光器的激光轴与被测反射镜法线纵向间距较大时二者平行性的检校。2、简单、易行，通用设备即可实现，操作性强。3、不用眼睛直接观察激光，安全性高。4、检校精度高，可达5角秒。附图说明图1为本专利技术检校时所使用的装置的结构示意图。图中：1、工装座，2、被测组件，21、被测反射镜，22激光器，3、自准直经纬仪Ⅰ，4、自准直经纬仪Ⅱ，5、二维辅助反射镜。具体实施方式本专利技术所列举的实施例，只是用于帮助理解本专利技术，不应理解为对本专利技术保护范围的限定，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术思想的前提下，还可以对本专利技术进行改进和修饰，这些改进和修饰也落入本专利技术权利要求保护的范围内。本专利技术检校时所使用的装置主要包括工装座1、被测组件2、自准直经纬仪Ⅰ3、自准直经纬仪Ⅱ4、二维辅助反射镜5，如图1所示，工装座1上安装有被测组件2，被测组件2包括竖直放置的被测反射镜21和水平放置的激光器22，被测组件2前放置有自准直经纬仪Ⅰ3，工装座1、被测组件2、自准直经纬仪Ⅰ3均放置在同一水平高度上，自准直经纬仪Ⅰ3前放置有自准直经纬仪Ⅱ4、二维辅助反射镜5，自准直经纬仪Ⅱ4、二维辅助反射镜5均放置在同一水平高度上，自准直经纬仪Ⅰ3的放置位置与自准直经纬仪Ⅱ4的放置位置在纵向形成高度差，当激光器22的激光轴与被测反射镜21的法线在纵向间距较大时，能够实现二者平行性的检校。本专利技术是将被测组件2中的被测反射镜21与激光器22的激光轴的平行性检校一致。方法步骤如下：(1)取下自准直经纬仪Ⅰ3和自准直经纬仪Ⅱ4，使被测组件2上的激光器22的激光束指示到二维辅助反射镜5的中心，激光束被反射回到被测组件2，调整二维辅助反射镜5的俯仰和方位，使反射激光束光斑与被测组件2出射激光束光斑重合，这时二维辅助反射镜5的法线即代表激光器22的激光轴。(2)将自准直经纬仪Ⅱ4调水平，用其对二维辅助反射镜5正镜自准，记录方位、俯仰读数X1、Y1，然后倒镜对二维辅助反射镜5自准，记录方位、俯仰读数X2、Y2，得出读数X＝1/2(X1+X2)、Y＝1/2(Y1+Y2)；将自准直经纬仪Ⅱ4方位转至读数X，然后使用正镜和倒镜方法分别在方位方向转180°，记录读数X3、X4，得出读数XⅡ＝1/2(X3+X4)，把自准直经纬仪Ⅱ4方位转至读数XⅡ，再将自准直经纬仪Ⅱ4方位转180°，俯仰不限。(3)把自准直经纬仪Ⅰ3放置在如图1位置所示，自准直经纬仪Ⅱ4的俯仰根据自准直经纬仪Ⅰ3来调整，使自准直经纬仪Ⅰ3正镜对准自准直经纬仪Ⅱ4。将自准直经纬仪Ⅰ3方位转180°，俯仰调整值为180°-Y。从自准直经纬仪Ⅰ3里看被测组件2上被测反射镜21的自准直像，如果自准直像与自准直经纬仪Ⅰ3分划重合，则说明被测反射镜21法线与被测激光光束平行，即被测反射镜21的法线与激光器22的激光轴平行，否则不平行。然后使自准直经纬仪Ⅰ3倒镜对准自准直经纬仪Ⅱ4，按上述方法再次测量，如果自准直像与自准直经纬仪Ⅰ3分划重合，则说明被测反射镜21法线与被测激光光束平行，即被测反射镜21的法线与激光器22的激光轴平行，否则不平行，需要对被测反射镜21调校，直至重合或到合理范围内。本专利技术是利用一种光学方法，可以非常便捷的实现激光器22的激光轴与被测反射镜21的法线平行的检校。特别是能够解决当激光器22的激光轴与被测反射镜21的法线在纵向间距较大时，二者不能同时被同一口径的仪器设备所接收，导致无法确定平行性关系的问题；还解决激光不能用通用前置镜直接接收的问题。另外，该方法可将二者的平行性精度校正至5角秒，检校精度高。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光轴与反射镜法线平行的检校方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)先将被测组件(2)上激光器(22)的激光轴通过二维辅助反射镜(5)的法线引出；(2)再将自准直经纬仪Ⅱ(4)调水平，用其对二维辅助反射镜(5)自准，调整自准直经纬仪Ⅱ(4)的方位；(3)然后调整自准直经纬仪Ⅱ(4)的俯仰，使自准直经纬仪Ⅰ(3)对准自准直经纬仪Ⅱ(4)将激光器(22)的激光轴引出，再根据需要对被测组件(2)上的被测反射镜(21)调校，直至被测反射镜(21)的法线与激光器(22)的激光轴平行。

【技术特征摘要】
1.一种激光轴与反射镜法线平行的检校方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)先将被测组件(2)上激光器(22)的激光轴通过二维辅助反射镜(5)的法线引出；(2)再将自准直经纬仪Ⅱ(4)调水平，用其对二维辅助反射镜(5)自准，调整自准直经纬仪Ⅱ(4)的方位；(3)然后调整自准直经纬仪Ⅱ(4)的俯仰，使自准直经纬仪Ⅰ(3)对准自准直经纬仪Ⅱ(4)将激光器(22)的激光轴引出，再根据需要对被测组件(2)上的被测反射镜(21)调校，直至被测反射镜(21)的法线与激光器(22)的激光轴平行。2.根据权利要求1所述的激光轴与反射镜法线平行的检校方法，其特征在于，所述步骤(1)中先取下自准直经纬仪Ⅰ(3)和自准直经纬仪Ⅱ(4)，使被测组件(2)上的激光器(22)激光束出射到二维辅助反射镜(5)的中心，激光束被反射回到被测组件(2)，再调整二维辅助反射镜(5)的俯仰和方位，使反射激光束的光斑与被测组件(2)出射激光束的光斑重合，此时二维辅助反射镜(5)的法线即代表激光器(21)的激光轴。3.根据权利要求1所述的激光轴与反射镜法线平行的检校方法，其特征在于，所述步骤(2)中先放上自准直经纬仪Ⅱ(4)，将自准直经纬仪Ⅱ(4)调水平，用其对二维辅助反射镜(5)正镜自准，记录方位、俯仰读数X1、Y1，然后对二维辅助反射镜(5)倒镜自准，记录方位、俯仰读数X2、Y2，得出读...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝芳，张平，刘效东，王瑶，杨海金，蔡珂珺，殷彤，顾平平，
申请(专利权)人：江苏北方湖光光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32