一种X射线累积大剂量的试验系统技术方案

技术编号:14251994 阅读:145 留言:0更新日期:2016-12-22 14:31
本实用新型专利技术提供一种X射线累积大剂量的试验系统,所述试验系统至少包括:安装平台、X射线发生器、自动曝光控制器以及计算机系统;所述安装平台至少包括外框、两层平板探测器放置平台以及安装底座;所述X射线发生器包括高压发生器和球管,所述球管安装在所述安装底座上,向平板探测器发射X射线;所述自动曝光控制器与所述高压发生器相连,向所述X射线发生器发送相关曝光参数指令;所述计算机系统与所述平板探测器相连,采集并存储所述平板探测器进行曝光后的数据。本实用新型专利技术的试验系统用于X射线平板探测器行业,可有效的检测出平板探测器耐X射线累积大剂量能力和校正模板的有效期,大大降低了产品上市后的可靠性风险。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及平板探测器
,特别是涉及一种X射线累积大剂量的试验系统。
技术介绍
从1995年RSNA上推出第一台平板探测器(Flat Panel Detector)设备以来,随着近年平板探测技术取得飞跃性的发展,在平板探测器的研发和生产过程中,平板探测技术可分为直接和间接两类。平板探测器在使用过程中,会持续的受到X射线的照射,随着时间的推移,照射到平板探测器的累积剂量会不断增大。目前,没有专门用于对平板探测器进行X射线累积大剂量的试验装置和方法,只能通过以下几种途径间接获得数据:1、使用X射线加速器直接对产品进行照射,可短时间内产生很大的剂量,并达到目标计量,但是这种方法所产生的射线能量和强度普遍较高,与常规医疗诊断、工业探伤、自然环境的射线长期持续累积机理不同,不能准确反映平板探测器产品耐射线能力,并且通过加速器进行试验成本非常高,可使用的资源非常少。2、使用现有的民用或工业设备进行试验,这些设备主要是用于医疗诊断和工业探伤,并不是专业用来检测探测器本身的设备,达不到试验检测设备所需要的强度要求,且大部分的部件、结构多余或不适用。如果用于试验检测则会造成资源浪费且故障率较高。3、参考行业经验估计数据,现今电子行业更新换代速度非常的高,新的器件和材料层出不穷,以往的经验已不能准确的反应当前产品的水平,所以估计数据可能偏离较大,给产品上市带来一定的可靠性风险。另外,还可以进行人工试验操作,但是这种方法将使操作人员所受的X射线累积计量增加,对操作人员的身体造成伤害。还有,平板探测器在客户端使用时一般需要先生成校正模板,该模板可以保证多长的使用有效期是非常关键的一个性能,目前没有专门的平台和方法来提前检测校正模板的有效期,往往都是在客户使用的现场收集数据,导致数据收集严重滞后,且数据准确性无法保证,使产品投入市场后存在风险。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点,本技术的目的在于提供一种X射线累积大剂量的试验系统,用于解决现有技术中无法提前准确检测平板探测器性能的问题。为实现上述目的及其他相关目的,本技术提供一种X射线平板探测器累积大剂量的试验系统,所述试验系统至少包括:安装平台、X射线发生器、自动曝光控制器以及计算机系统;所述安装平台至少包括外框、设置在所述外框中的两层平板探测器放置平台以及设置在所述外框顶部的安装底座;所述X射线发生器包括高压发生器和与所述高压发生器相连的球管,所述球管安装在所述安装底座上,向所述平板探测器放置平台上的平板探测器发射X射线;所述自动曝光控制器与所述高压发生器相连,向所述X射线发生器发送相关曝光参数指令;所述计算机系统与所述平板探测器相连,采集并存储所述平板探测器进行曝光后的数据。作为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验系统的一种优化的方案,所述试验系统还包括一用于容纳所述安装平台的屏蔽箱。作为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验系统的一种优化的方案,所述屏蔽箱中设置有用于监测屏蔽箱内温度和湿度的温湿度检测模块。作为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验系统的一种优化的方案,所述安装平台中,所述平板探测器放置平台的下方设有配重模块放置平台。作为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验系统的一种优化的方案,所述两层平板探测器放置平台之间设置有过滤板作为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验系统的一种优化的方案,所述外框的底部设有活动轮。作为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验系统的一种优化的方案,所述平板探测器放置平台为外框上的横梁,所述横梁内侧设有卡槽,所述平板探测器放置于所述卡槽中。本技术还提供一种上述试验系统进行X射线平板探测器累积大剂量的试验方法,所述试验方法至少包括:1)将曝光控制参数输入自动曝光控制器,所述自动曝光控制器根据所述曝光控制参数控制X射线发生器向放置在平板探测器放置平台上的平板探测器发射X射线;2)利用计算机系统采集并存储所述平板探测器进行曝光后的数据。作为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验方法的一种优化的方案,所述曝光控制参数包括单次曝光量、曝光间隔和曝光总次数。如上所述,本技术的X射线平板探测器累积大剂量的试验系统,具有以下有益效果:1、该实验系统搭建灵活方便,设计了专用的平板探测器安装平台,比使用医疗或工业的商用平台节约50%的成本,实用性强。2、试验效率高,既定目标的累积试验剂量,相比从客户端收集现场数据,试验时间减少约90%。3、可以模拟出平板探测器在使用的过程中的真实X射线累积照射环境,解决了使用加速器试验结果偏离度较大的问题。4、利用自动曝光控制器,可自动化进行试验,最大限度地减少人员所受的累积剂量。5、可为各种材料、产品、仪器提供耐X射线累积照射的验证实验,弥补行业空白。6、可在平板探测器上市前提供校正模板有效期的检测试验,弥补行业空白。7、通过该试验系统,平板探测器的生产者和使用者可在产品投入市场之前,预知累积剂量对产品的功能、性能、校正有效性以及安全方面的影响,做出风险评估。附图说明图1为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验系统示意图。图2为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验系统中安装平台的结构示意图。图3为本技术X射线平板探测器累积大剂量的试验方法工作流程示意图。元件标号说明1 安装平台11 外框12 平板探测器放置平台13 安装底座14 配重模块放置平台21 高压发生器22 球管3 自动曝光控制器4 计算机系统5 屏蔽箱6 温湿度检测模块7 活动轮81,82 平板探测器9 过滤板具体实施方式以下通过特定的具体实例说明本技术的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点与功效。本技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本技术的精神下进行各种修饰或改变。请参阅附图。需要说明的是,本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本技术的基本构想,遂图式中仅显示与本技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制,其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变,且其组件布局型态也可能更为复杂。如图1和2所示,本技术提供一种X射线平板探测器累积大剂量的试验系统,所述试验系统至少包括:安装平台1、X射线发生器、自动曝光控制器3以及计算机系统4。所述安装平台1至少包括外框11、两层平板探测器放置平台12以及安装底座13。所述两层平板探测器放置平台12设置在所述外框11中,所述安装底座13设置在所述外框11顶部。所述安装平台1用来安装X射线球管(用于发射X射线)和放置试验用的平板探测器样品,为整个试验系统提供支撑框架。所述安装平台1优选采用铝合金型材,重量轻且稳固。具体地,如图2所示,所述安装平台1的外框11包括四根支撑柱。所述两层平板探测器放置平台12分别用于放置累积大剂量试验的平板探测器样品84和用于校正有效期试验的平板探测器样品82,并且用于放置累积大剂量试验的平板探测器样品81放在上层,用本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种X射线累积大剂量的试验系统,其特征在于,所述试验系统至少包括:安装平台、X射线发生器、自动曝光控制器以及计算机系统;所述安装平台至少包括外框、设置在所述外框中的两层平板探测器放置平台以及设置在所述外框顶部的安装底座;所述X射线发生器包括高压发生器和与所述高压发生器相连的球管,所述球管安装在所述安装底座上,向所述平板探测器放置平台上的平板探测器发射X射线;所述自动曝光控制器与所述高压发生器相连,向所述X射线发生器发送相关曝光参数指令;所述计算机系统与所述平板探测器相连,采集并存储所述平板探测器进行曝光后的数据。

【技术特征摘要】
1.一种X射线累积大剂量的试验系统,其特征在于,所述试验系统至少包括:安装平台、X射线发生器、自动曝光控制器以及计算机系统;所述安装平台至少包括外框、设置在所述外框中的两层平板探测器放置平台以及设置在所述外框顶部的安装底座;所述X射线发生器包括高压发生器和与所述高压发生器相连的球管,所述球管安装在所述安装底座上,向所述平板探测器放置平台上的平板探测器发射X射线;所述自动曝光控制器与所述高压发生器相连,向所述X射线发生器发送相关曝光参数指令;所述计算机系统与所述平板探测器相连,采集并存储所述平板探测器进行曝光后的数据。2.根据权利要求1所述的X射线累积大剂量的试验系统,其特征在于:所述试验系统还包括一用于容纳所述安装平台...

【专利技术属性】
技术研发人员:于龙金利波曹文浩
申请(专利权)人:奕瑞影像科技太仓有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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