一种数模转换器老炼测试板及装置制造方法及图纸

技术编号:14229233 阅读:275 留言:0更新日期:2016-12-20 10:00
本实用新型专利技术公开了一种数模转换器老炼测试板及装置,属于电路测试技术领域。本实用新型专利技术专门用于对AD7247型数模转换器的老化中测试,具有结构简单、使用方便的特点,其中数模转换器老炼测试板上设置有若干工位,可以同时对多个数模转换器进行老化中测试,工位的周围电路用于将被测数模转换器的引脚引导至数模转换器老炼测试板的接口处,并通过接口与老化箱连接。本实用新型专利技术能够快速验证并剔除数模转换器的偶然性异常转换故障,及早发现故障元件,大大提高了该型号数模转换器的质检效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路测试
,特别是指一种数模转换器老炼测试板及装置
技术介绍
老炼又称老化(burn-in),是指通过工作环境和电气性能两方面对半导体器件进行苛刻的试验,以使其故障尽早出现。一般来说,老化通常是在高温环境下使器件长期运行,因此需要配备专门的老化房。以往老化和测试一般被分成两个过程,即先把一个器件插入老化板并放入老化室,在老化室内进行一段时间的老化,然后再将器件取出进行测试。如果测试后发现器件运行良好,就可以保证器件质量可靠并送入下游环节。如果经检测发现器件出现故障,则会将其送去故障分析实验室进行分析,这可能会需要几周的时间。这种方式存在的问题是,一个器件不管在什么时候出现故障,都必须等待预设的老化时间完成才能够被取出检测,这大大增加了每个器件的平均老化时间,拉低了质检效率。为此,现有技术中出现了一种所谓“老化中测试”(TDBI,Test During Burn-In)的新技术,即在器件老化的过程中同时对每个器件的参数进行检测,这样就可以及早发现出现故障的器件。显然,这种技术必然需要一种与之相配的新装备。数模转换器(Digital to analog converter,DAC)是电子设备中常用的一种元件,其使用广泛,作用重大,因此对数模转换器的质量检测就显得尤为重要。当前,数模转换器在进行元器件筛选试验时,元器件功能测试与老炼试验分开进行,通过在老炼试验前后进行功能性能参数测试来验证并剔除老炼试验后出现的不合格品。但随着应用环境的复杂化,元器件在复杂环境下出现偶然性的异常转换现象,该种缺陷无法通过正常的功能测试与老炼试验进/>行剔除,需要在老炼试验过程中进行功能测试,以剔除存在该种缺陷的器件,消除缺陷芯片在装机使用后所存在的潜在风险。但是,现有技术中还没有这样一种针对数模转换器的TDBI装置,尤其是专门针对AD7247型数模转换器的TDBI装置。
技术实现思路
有鉴于此,本技术的目的在于提出一种数模转换器老炼测试板及装置,它能够对AD7247型数模转换器进行老化中测试,从而发现元器件在复杂环境下出现的偶然性的异常转换现象,及时剔除存在该种缺陷的器件,大大提高质检效率。基于上述目的,本技术提供的技术方案是:一种数模转换器老炼测试板,其包含测试板接口以及至少两个用于安置被测数模转换器的工位,每个工位具有用于与被测数模转换器的引脚电连接的触点,每个工位均具有周围电路,被测数模转换器为AD7247型数模转换器;测试板接口包含IO输入接点、IO输出接点、IO控制接点、模拟信号输入接点、接地接点、VSS接点、VDD接点和电源接点;周围电路包含将工位的REFOUT触点和REFIN触点、Rofsb触点和Voutb触点、Rofsa触点和Vouta触点以及CSA触点和CSB触点分别短接的短接线路;周围电路还包含以下电路结构:工位的DB11、DB10、DB9、DB8、DB7、DB6、DB5、DB4、DB3、DB2、DB1、DB0、CSB、CSA和WR触点分别与测试板接口的IO控制接点电连接,其中CSB和CSA触点连接同一个IO控制接点;工位的GND、VSS和VDD触点分别与测试板接口的接地接点、VSS接点和VDD接点电连接;Rofsb触点和Voutb触点之间的短接线路通过第一电阻与测试板接口的接地接点电连接,Rofsa触点和Vouta触点之间的短接线路通过第二电阻与测试板接口的接地接点电连接,Rofsa触点和Vouta触点之间的短接线路还与测试板接口的模拟信号输入接点电连接,工位的WR触点还通过第三电阻与测试板接口的电源接点电连接,CSA触点和CSB触点之间的短接线路通过第四电阻与测试板接口的电源接点电连接,工位的VDD触点还通过第一电容与测试板接口的接地接点电连接,工位的
VSS触点还通过第二电容与测试板接口的接地接点电连接。具体地,第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻的阻值可以是10千欧。具体地,第一电容和第二电容的电容量可以为0.1微法。具体地,测试板接口可以采用金手指。具体地,工位可以设为四个、八个、十六个或三十二个。具体地,该老炼测试板可以为双层布线结构。一种数模转换器老炼测试装置,其包含老化箱,老化箱内设有电源、驱动器、检测器,以及如上所述的数模转换器老炼测试板;电源、驱动器和检测器均与数模转换器老炼测试板电联接。具体地,该装置还包含老化箱接口,电源、驱动器和检测器均与老化箱接口连接,老化箱接口与数模转换器老炼测试板的测试板接口匹配并连接。从上面所述可以看出,本技术提供的有益效果在于:本技术的数模转换器老炼测试板及数模转换器老炼测试装置专门用于对AD7247型数模转换器的老化中测试,具有结构简单、使用方便的特点,其中数模转换器老炼测试板上设置有若干DUT(Device Under Test,被测设备)工位,可以同时对多个数模转换器进行老化中测试,DUT工位的周围电路用于将被测数模转换器的引脚引导至数模转换器老炼测试板的接口处,并通过接口与老化箱连接。该技术能够快速验证并剔除数模转换器的偶然性异常转换故障,及早发现故障元件,大大提高了该型号数模转换器的质检效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例中数模转换器老炼测试板的结构示意图;图2为本技术实施例中第一部分测试板接口的结构示意图;图3为本技术实施例中第二部分测试板接口的结构示意图;图4为本技术实施例中第三部分测试板接口的结构示意图;图5为本技术实施例中第四部分测试板接口的结构示意图;图6为本技术实施例中第五部分测试板接口的结构示意图;图7为本技术实施例中第六部分测试板接口的结构示意图;图8为本技术实施例中周围电路的电路结构图;图9为本技术实施例中数模转换器老炼测试装置的结构框图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本技术进一步详细说明。一种数模转换器老炼测试板,其包含测试板接口以及至少两个用于安置被测数模转换器的工位,每个工位具有用于与被测数模转换器的引脚电连接的触点,每个工位均具有周围电路,被测数模转换器为AD7247型数模转换器;测试板接口包含IO输入接点、IO输出接点、IO控制接点、模拟信号输入接点、接地接点、VSS接点、VDD接点和电源接点;周围电路包含将工位的REFOUT触点和REFIN触点、Rofsb触点和Voutb触点、Rofsa触点和Vouta触点以及CSA触点和CSB触点分别短接的短接线路;周围电路还包含以下电路结构:工位的DB11、DB10、DB9、DB8、DB7、DB6、DB5、DB4、DB3、DB2、DB1、DB0、CSB、CSA和WR触点分别与测试板接口的IO控制接点电连接,其中CSB和CSA触点连接同一个IO控制接点;工位的GND、VSS和VDD触点分别与测试板接口的接地接点、VSS接点和VDD接点电连接;R本文档来自技高网...
一种数模转换器老炼测试板及装置

【技术保护点】
一种数模转换器老炼测试板,其特征在于,包含测试板接口以及至少两个用于安置被测数模转换器的工位,每个工位具有用于与被测数模转换器的引脚电连接的触点,每个工位均具有周围电路,所述被测数模转换器为AD7247型数模转换器;所述测试板接口包含IO输入接点、IO输出接点、IO控制接点、模拟信号输入接点、接地接点、VSS接点、VDD接点和电源接点;所述周围电路包含将所述工位的REFOUT触点和REFIN触点、Rofsb触点和Voutb触点、Rofsa触点和Vouta触点以及CSA触点和CSB触点分别短接的短接线路;所述周围电路还包含以下电路结构:所述工位的DB11、DB10、DB9、DB8、DB7、DB6、DB5、DB4、DB3、DB2、DB1、DB0、CSB、CSA和WR触点分别与所述测试板接口的IO控制接点电连接,其中CSB和CSA触点连接同一个IO控制接点;所述工位的GND、VSS和VDD触点分别与所述测试板接口的接地接点、VSS接点和VDD接点电连接;Rofsb触点和Voutb触点之间的短接线路通过第一电阻与所述测试板接口的接地接点电连接,Rofsa触点和Vouta触点之间的短接线路通过第二电阻与所述测试板接口的接地接点电连接,Rofsa触点和Vouta触点之间的短接线路还与所述测试板接口的模拟信号输入接点电连接,所述工位的WR触点还通过第三电阻与所述测试板接口的电源接点电连接,CSA触点和CSB触点之间的短接线路通过第四电阻与所述测试板接口的电源接点电连接,所述工位的VDD触点还通过第一电容与所述测试板接口的接地接点电连接,所述工位的VSS触点还通过第二电容与所述测试板接口的接地接点电连接。...

【技术特征摘要】
1.一种数模转换器老炼测试板,其特征在于,包含测试板接口以及至少两个用于安置被测数模转换器的工位,每个工位具有用于与被测数模转换器的引脚电连接的触点,每个工位均具有周围电路,所述被测数模转换器为AD7247型数模转换器;所述测试板接口包含IO输入接点、IO输出接点、IO控制接点、模拟信号输入接点、接地接点、VSS接点、VDD接点和电源接点;所述周围电路包含将所述工位的REFOUT触点和REFIN触点、Rofsb触点和Voutb触点、Rofsa触点和Vouta触点以及CSA触点和CSB触点分别短接的短接线路;所述周围电路还包含以下电路结构:所述工位的DB11、DB10、DB9、DB8、DB7、DB6、DB5、DB4、DB3、DB2、DB1、DB0、CSB、CSA和WR触点分别与所述测试板接口的IO控制接点电连接,其中CSB和CSA触点连接同一个IO控制接点;所述工位的GND、VSS和VDD触点分别与所述测试板接口的接地接点、VSS接点和VDD接点电连接;Rofsb触点和Voutb触点之间的短接线路通过第一电阻与所述测试板接口的接地接点电连接,Rofsa触点和Vouta触点之间的短接线路通过第二电阻与所述测试板接口的接地接点电连接,Rofsa触点和Vouta触点之间的短接线路还与所述测试板接口的模拟信号输入接点电连接,所述工位的WR触点还通过...

【专利技术属性】
技术研发人员:梅亮常成杨慧勤
申请(专利权)人:航天科工防御技术研究试验中心
类型:新型
国别省市:北京;11

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