一种用于继电器的测试设备制造技术

本发明专利技术涉及一种用于继电器的测试设备，包括继电器测试主板电路及MCU单元，所述继电器测试主板电路的输入端与电源单元的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与扩展/驱动电路的输入端相连，所述继电器测试主板电路的输入端与测试兼容治具的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与MCU单元的输入端相连，所述MCU单元的输入端还与电源单元、扩展/驱动电路及测试兼容治具的输出端相连，所述MCU单元的输出端与上位机的输入端相连。本发明专利技术通过检测能有效降低应用成本，有助于缩短测试周期，降低测试成本。

Testing device for relay

The invention relates to a test device for relay relay test, including circuit board and MCU unit, the output input end and the power unit of the relay circuit test board is connected with the output end of circuit board relay test and the expansion / drive circuit is connected with the input end, the input end and the test of relay test motherboard circuit compatible fixture is connected to the output end of the output end of the relay test circuit board with the MCU unit is connected with the input end, the input end of the MCU unit and power supply unit, the expansion / drive circuit and test compatible fixture is connected to the output end and the output end of the MCU PC unit input connected. The invention can effectively reduce the application cost through testing, and is helpful to shorten the test period and reduce the test cost.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试设备，尤其涉及一种用于继电器的测试设备，属于半导体领域。
技术介绍
通常在半导体领域，一颗芯片的成本大多集中在半导体测试带来的压力。在半导体测试时，会有大量的继电器应用到FT与CP测试的接口电路板上。用于切换测试通道，调整电路等诸多功能。而继电器的好坏，会直接影响测试的质量和测试的效率。所以，为了对测试时所需要的基本检测，开发一款继电器测试设备是必不可少的，用于排除所需继电器的不良品。降低由此而导致的测试成本。有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的用于继电器的测试设备，使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供一种用于继电器的测试设备。为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种用于继电器的测试设备，包括继电器测试主板电路及MCU单元，所述继电器测试主板电路的输入端与电源单元的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与扩展/驱动电路的输入端相连，所述继电器测试主板电路的输入端与测试兼容治具的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与MCU单元的输入端相连，所述MCU单元的输入端还与电源单元、扩展/驱动电路及测试兼容治具的输出端相连，所述MCU单元的输出端与上位机的输入端相连。进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述继电器测试主板电路包括继电器芯片，所述继电器芯片的第一引脚与DC5V相连，并且还与二极管D33的阴极相连，二极管D33的阳极与继电器芯片的第八引脚相连，继电器芯片的第八引脚外接第一信号接线端，所述继电器芯片的第二引脚与二极管D32的阳极相连，二极管的D32的阴极通过电阻R41接地，继电器芯片的第二引脚外接第二信号接线端，所述继电器芯片的第三引脚外接第三信号接线端，所述继电器芯片的第四引脚与二极管D34的阳极相连，所述二极管D34的阴极通过电阻R42接地，且继电器芯片的第四引脚外接第四信号接线端，所述继电器芯片的第五引脚与二极管D36的阳极相连，二极管D36的阴极通过电阻R44接地，继电器芯片的第五引脚外接第五信号接线端，所述继电器芯片的第六引脚外接第六信号接线端，所述继电器的第七引脚与二极管D35的阳极相连，二极管D35的阴极通过电阻43接地，且继电器芯片的第七引脚外接第七信号接线端。再进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述二极管D32、二极管D34、二极管D35、二极管D36均为发光二极管。更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述扩展/驱动电路为74HC373驱动电路，或为74HC238IO扩展电路。再更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述测试兼容治具为兼容PCB接口/插槽式的治具。再更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述继电器测试主板电路与被测产品之间连接有传输线。再更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述传输线设有延时时间T，其公式如下： T = L / ( C ϵ ) ]]>其中，L：传输线的总长；C：光速3×108m/s；ε：PCB介质的介电常数。再更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，还包括过流保护单元，所述过流保护单元与继电器测试主板电路相连。借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：1)对入库继电器进行检测，排除不合格继电器，避免不合格继电器对后续产品的功能和故障排查造成直接或间接的影响，降低应用成本。2)帮助测试人员解决了测试时，对继电器的故障排查，减轻了测试人员的工作量，有助于缩短测试周期，降低测试成本。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1是本专利技术的结构示意图；图2是继电器测试主板电路的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例如图1所示，一种用于继电器的测试设备，包括继电器测试主板电路1及MCU单元2，所述继电器测试主板电路1的输入端与电源单元3的输出端相连，所述继电器测试主板电路1的输出端与扩展/驱动电路4的输入端相连，所述继电器测试主板电路1的输入端与测试兼容治具5的输出端相连，所述继电器测试主板电路1的输出端与MCU单元2的输入端相连，所述MCU单元2的输入端还与电源单元3、扩展/驱动电路4及测试兼容治具5的输出端相连，所述MCU单元2的输出端与上位6机的输入端相连。通过MCU单元与继电器测试主板电路的配合能实现对继电器的自动化的检测，确保使用的继电器的良率，从而降低应用成本及测试成本。如图2所示，本专利技术中所述继电器测试主板电路包括继电器芯片，所述继电器芯片的第一引脚与DC5V相连，并且还与二极管D33的阴极相连，二极管D33的阳极与继电器芯片的第八引脚相连，继电器芯片的第八引脚外接第一信号接线端，所述继电器芯片的第二引脚与二极管D32的阳极相连，二极管的D32的阴极通过电阻R41接地，继电器芯片的第二引脚外接第二信号接线端，所述继电器芯片的第三引脚外接第三信号接线端，所述继电器芯片的第四引脚与二极管D34的阳极相连，所述二极管D34的阴极通过电阻R42接地，且继电器芯片的第四引脚外接第四信号接线端，所述继电器芯片的第五引脚与二极管D36的阳极相连，二极管D36的阴极通过电阻R44接地，继电器芯片的第五引脚外接第五信号接线端，所述继电器芯片的第六引脚外接第六信号接线端，所述继电器的第七引脚与二极管D35的阳极相连，二极管D35的阴极通过电阻43接地，且继电器芯片的第七引脚外接第七信号接线端。通过该装置能检测出继电器的好坏，从而确保所使用继电器的正常使用。本专利技术中所述二极管D32、二极管D34、二极管D35、二极管D36均为发光二极管，采用发光二极管能有效的观看到继电器中哪一路出现问题，方便后期的维修，使之能重复利用，使之达到降低成本的目的。本专利技术中所述扩展/驱动电路4为74HC373驱动电路，或为74HC238IO扩展电路，采用扩展/驱动电路4能在继电器测试主本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于继电器的测试设备，其特征在于：包括继电器测试主板电路及MCU单元，所述继电器测试主板电路的输入端与电源单元的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与扩展/驱动电路的输入端相连，所述继电器测试主板电路的输入端与测试兼容治具的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与MCU单元的输入端相连，所述MCU单元的输入端还与电源单元、扩展/驱动电路及测试兼容治具的输出端相连，所述MCU单元的输出端与上位机的输入端相连。

【技术特征摘要】
1.一种用于继电器的测试设备，其特征在于：包括继电器测试主板电路及MCU单元，所述继电器测试主板电路的输入端与电源单元的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与扩展/驱动电路的输入端相连，所述继电器测试主板电路的输入端与测试兼容治具的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与MCU单元的输入端相连，所述MCU单元的输入端还与电源单元、扩展/驱动电路及测试兼容治具的输出端相连，所述MCU单元的输出端与上位机的输入端相连。2.根据权利要求1所述的用于继电器的测试设备，其特征在于：所述继电器测试主板电路包括继电器芯片，所述继电器芯片的第一引脚与DC5V相连，并且还与二极管D33的阴极相连，二极管D33的阳极与继电器芯片的第八引脚相连，继电器芯片的第八引脚外接第一信号接线端，所述继电器芯片的第二引脚与二极管D32的阳极相连，二极管的D32的阴极通过电阻R41接地，继电器芯片的第二引脚外接第二信号接线端，所述继电器芯片的第三引脚外接第三信号接线端，所述继电器芯片的第四引脚与二极管D34的阳极相连，所述二极管D34的阴极通过电阻R42接地，且继电器芯片的第四引脚外接第四信号接线端，所述继电器芯片的第五引脚与二极管D36的阳极相连，二极管D36的阴极通过电阻R44接地，继电器芯片的第五引脚外接第五信号接线端，所述继电器芯片的第六引...

【专利技术属性】
技术研发人员：施元军，郭靖，刘凯，
申请(专利权)人：苏州韬盛电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32