测量机构精度检测工装制造技术

技术编号:14144238 阅读:95 留言:0更新日期:2016-12-10 20:31
本发明专利技术公开了一种测量机构精度检测工装,包括平尺、定位芯轴、第一支架、第二支架、测距装置和分析系统,所述定位芯轴固定安装于平尺一侧,定位芯轴能够固定安装于轧辊磨床的头架的锥孔内,第一支架和第二支架分别安装于平尺上,第一、二支架之间的距离能够调节,测距装置和轧辊磨床上的测量机构分别能够对第一、二支架间距离进行检测,分析系统能够分析测距装置和轧辊磨床上的测量机构的测量数据确定补偿值,本发明专利技术通过测得的数值对电气系统进行调整、补偿,从而消除零件及装配误差导致的机床测量精度误差,提高机床精度。本发明专利技术的关键原件采用刚性好、硬度高、耐磨性强温度变形小的大理石材质,使本套机构更加精密、稳定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种轧辊表面加工设备,特别涉及一种测量机构精度检测工装
技术介绍
机床在加工以及装配过程中必然会产生误差,对于数控机床来说,通过电气系统的补偿可以最大限度的减小误差,提高进给精度。
技术实现思路
为了弥补以上不足,本专利技术提供了一种测量机构精度检测工装,该测量机构精度检测工装可以对轧辊磨床上的测量机构进行校正,确保工件加工时测量准确,保证加工精度。本专利技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种测量机构精度检测工装,包括平尺、定位芯轴、第一支架、第二支架、测距装置和分析系统,所述定位芯轴固定安装于平尺一侧,定位芯轴能够固定安装于轧辊磨床的头架的锥孔内,第一支架和第二支架分别安装于平尺上,第一、二支架之间的距离能够调节,测距装置和轧辊磨床上的测量机构分别能够对第一、二支架间距离进行检测,分析系统能够分析测距装置和轧辊磨床上的测量机构的测量数据确定补偿值。作为本专利技术的进一步改进,所述定位芯轴上设有与轧辊磨床的头架的锥孔匹配的锥形端部。作为本专利技术的进一步改进,所述平尺为大理石平尺。作为本专利技术的进一步改进,还设有第一滑块和第二滑块,第一、二能够沿平尺长度方向滑动套设于平尺上,第一、二支架分别固定安装于第一、二滑块上,平尺侧壁上设有若干定位基准孔,第一、二滑块上分别设有恰能够与平尺上任意一个定位基准孔位置正对的第一、二销孔,还设有第一定位销和第二定位销,第一定位销能够拆卸的插设于第一销孔和一个定位基准孔内,第二定位销能够拆卸的插设于第二销孔和另一个定位基准孔内。作为本专利技术的进一步改进,所述第一、二定位销为卡簧销。作为本专利技术的进一步改进,所述第一、二滑块为大理石滑块。作为本专利技术的进一步改进,还设有底座,所述底座一侧上设有一供平尺放置的支撑面,平尺放置于该支撑面上,底座的支撑面上还轴向止动且圆周方向能够转动的设有至少两个螺栓,至少两个螺栓分别与平尺螺纹连接,至少两个螺栓沿平尺长度方向排列。作为本专利技术的进一步改进,所述定位芯轴安装于底座另一侧上。作为本专利技术的进一步改进,所述测距装置为分别固定安装于第一、二支架上的一对激光干涉仪。作为本专利技术的进一步改进,还设有用于测量平尺的水平精度的电子水平仪。本专利技术的有益技术效果是:本专利技术通过测得的数值对电气系统进行调整、补偿,从而消除零件及装配误差导致的机床测量精度误差,提高机床精度。本专利技术的关键原件采用刚性好、硬度高、耐磨性强温度变形小的大理石材质,使本套机构更加精密、稳定。附图说明图1为本专利技术的结构原理主视图;图2为图1中A-A向剖视图。具体实施方式实施例:一种测量机构精度检测工装,包括平尺1、定位芯轴2、第一支架3、第二支架4、测距装置和分析系统,所述定位芯轴2固定安装于平尺1一侧,定位芯轴2能够固定安装于轧辊磨床的头架的锥孔内,第一支架3和第二支架4分别安装于平尺1上,第一、二支架之间的距离能够调节,测距装置和轧辊磨床上的测量机构分别能够对第一、二支架间距离进行检测,分析系统能够分析测距装置和轧辊磨床上的测量机构的测量数据确定补偿值。将定位芯轴2与轧辊磨床的头架的锥孔相连,先使用机床的测量机构测得第一、二支架间的距离数据,再用测距装置测得第一、二支架间的距离,分别记录数据,然后调整第一、二支架间距离,按上述方法测得第二组数据,以此类推,最后由分析系统整合数据,分析补偿值,最终以测距装置为基准,将机床测量机构的误差缩小至最小,该检测工装结构简单,使用方便,能够有效检测轧辊磨床上的测量机构的测量精度并对其进行校正,确保工件加工精度.所述定位芯轴2上设有与轧辊磨床的头架的锥孔匹配的锥形端部,通过锥形轴与锥形孔进行定位和安装,安装方便,定位精度高。所述平尺1为大理石平尺1,大理石材质刚性好、硬度高、耐磨性强温度变形小,能确保检测精度。还设有第一滑块5和第二滑块6,第一、二能够沿平尺1长度方向滑动套设于平尺1上,第一、二支架分别固定安装于第一、二滑块上,平尺1侧壁上设有若干定位基准孔7,第一、二滑块上分别设有恰能够与平尺1上任意一个定位基准孔7位置正对的第一、二销孔8、9,还设有第一定位销10和第二定位销11,第一定位销10能够拆卸的插设于第一销孔和一个定位基准孔7内,第二定位销11能够拆卸的插设于第二销孔和另一个定位基准孔7内,通过拔出第一、二定位销实现第一、二滑块与平尺1的脱扣,二者可以相对滑动,当滑动到合适位置后,插入第一、二定位销即可实现二者再次定位,定位方便、准确。所述第一、二定位销为卡簧销,带有卡簧装置的定位销定位安装方便,可自动卡合连接。所述第一、二滑块为大理石滑块,关键零件使用大理石材质,其刚性好、硬度高、耐磨性强温度变形小,能确保检测精度,保证滑动位置精度高。还设有底座12,所述底座12一侧上设有一供平尺1放置的支撑面,平尺1放置于该支撑面上,底座12的支撑面上还轴向止动且圆周方向能够转动的设有至少两个螺栓13,至少两个螺栓13分别与平尺1螺纹连接,至少两个螺栓13沿平尺1长度方向排列,通过底座12固定安装平尺1和定位芯轴2,定位方便。所述定位芯轴2安装于底座12另一侧上。所述测距装置为分别固定安装于第一、二支架上的一对激光干涉仪,激光干涉仪测量精度高,使用方便。还设有用于测量平尺1的水平精度的电子水平仪。本专利技术的操作流程如下:1.先将定位芯轴2的锥端固定于轧辊磨床头架的锥孔中,保证定位芯轴2与头架主轴的同轴度要求;2.使用电子水平仪找正大理石材质的平尺1的水平精度;3.在第一、二支架上分别放置激光干涉仪的检测原件并调整聚焦;4.先将轧辊磨床回参考点,然后用轧辊磨床上的测量机构测得第一、二支架件的距离,并记录;5.使用激光干涉仪测得第一、二支架间的距离,并记录;6.拔出带有卡簧装置的定位销,移动大理石材质的第一、二滑块将定位销移动至下一个孔;参照步骤4、5的方法测得第二组数据并记录,以此类推,将数据测量完整,然后通过分析系统进行比对、分析,确定补偿值,最终以激光干涉仪数据为基准,调整补偿值。本文档来自技高网...
测量机构精度检测工装

【技术保护点】
一种测量机构精度检测工装,其特征在于:包括平尺(1)、定位芯轴(2)、第一支架(3)、第二支架(4)、测距装置和分析系统,所述定位芯轴固定安装于平尺一侧,定位芯轴能够固定安装于轧辊磨床的头架的锥孔内,第一支架和第二支架分别安装于平尺上,第一、二支架之间的距离能够调节,测距装置和轧辊磨床上的测量机构分别能够对第一、二支架间距离进行检测,分析系统能够分析测距装置和轧辊磨床上的测量机构的测量数据确定补偿值。

【技术特征摘要】
1.一种测量机构精度检测工装,其特征在于:包括平尺(1)、定位芯轴(2)、第一支架(3)、第二支架(4)、测距装置和分析系统,所述定位芯轴固定安装于平尺一侧,定位芯轴能够固定安装于轧辊磨床的头架的锥孔内,第一支架和第二支架分别安装于平尺上,第一、二支架之间的距离能够调节,测距装置和轧辊磨床上的测量机构分别能够对第一、二支架间距离进行检测,分析系统能够分析测距装置和轧辊磨床上的测量机构的测量数据确定补偿值。2.根据权利要求1所述的测量机构精度检测工装,其特征是:所述定位芯轴上设有与轧辊磨床的头架的锥孔匹配的锥形端部。3.根据权利要求1所述的测量机构精度检测工装,其特征是:所述平尺为大理石平尺。4.根据权利要求1所述的测量机构精度检测工装,其特征是:还设有第一滑块(5)和第二滑块(6),第一、二能够沿平尺长度方向滑动套设于平尺上,第一、二支架分别固定安装于第一、二滑块上,平尺侧壁上设有若干定位基准孔(7),第一、二滑块上分别设有恰能够与平尺上任意一个定位基准孔位置正对的第一、二销孔(8、9),...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹宇中枚志毅王新鑫袁永斌陆宏斌阚金良顾延群杨之宾苏群泽
申请(专利权)人:昆山华辰重机有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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