一种用于石英晶体测试头的防带料装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及石英晶体的测试设备技术领域，尤其是指一种用于石英晶体测试头的防带料装置。其包括活动外框以及安装在活动外框上的集成测试板，所述集成测试板设置有与其电连接的探针，所述活动外框内安装有内框结构，所述内框结构与活动外框活动连接，所述内框结构设置有伸出活动外框的延伸部，所述延伸部上设置有用于防止探针带料的针孔部，当测试时，所述活动外框带动探针穿过内框结构和针孔部后对产品进行测试。本发明专利技术提供的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，结构简单、设计合理，有效防止探针带料，防止不良产品流出，延长探针的使用寿命，保证装置整体稳定性，降低装置的故障率，提高生产效率，节省成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及石英晶体的测试设备
，尤其是指一种用于石英晶体测试头的防带料装置。
技术介绍
石英晶体谐振器又称为石英晶体，俗称晶振，主要材料是水晶，成分SiO2，它不仅是较好的光学材料，而且是重要的压电材料。随着科技发展，生活水平的提高，对电子产品不断追求质量轻、体积小、外观美等优点的产品。而石英晶体谐振器的压电效应能够为电子产品提供稳定的时钟信号。为满足现工业生产要求，晶体自身体积也不断缩小，才能与智能化的电子产品完美结合。石英晶体在智能电子领域的作用如：1.手机的通话、摄像、卫星定位等功能 ；2.汽车的引擎控制；3.电子手表的计时功能等。从中体现出晶体扮演着不可缺少的重要角色。在测试过程中，测试头会带动探针上升和下降，探针在上升过程中往往会将物料一并带起，这样不利于下次的测试，影响探针的寿命，同时物料打乱后散落在装置内，不利于装置的稳定性，增加装置的故障率。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术的问题提供一种用于石英晶体测试头的防带料装置，可以防止探针带料，延长探针的使用寿命，保证装置整体稳定性，提高生产效率，节省成本。为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：本专利技术提供的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，包括活动外框以及安装在活动外框上的集成测试板，所述集成测试板设置有与其电连接的探针，所述活动外框内安装有内框结构，所述内框结构与活动外框活动连接，所述内框结构设置有伸出活动外框的延伸部，所述延伸部上设置有用于防止探针带料的针孔部，当测试时，所述活动外框带动探针穿过针孔部后对产品进行测试。其中，所述集成测试板、活动外框和内框结构上分别设置有第一螺孔、第二螺孔和导向孔，所述集成测试板通过螺丝与活动外框锁合，所述螺丝上设置有用于与内框结构滑动配合的滑槽，所述活动外框通过螺丝的滑槽与内框结构活动连接。其中，所述内框结构与所述活动外框之间设置有用于使活动外框复位的复位弹簧。进一步的，所述复位弹簧套设于螺丝。其中，所述导向孔内设置有用于与滑槽滑动配合的滚球，当活动外框动作时，内框结构沿着螺丝的滑槽做相对的上下运动。其中，所述滑槽上均匀间隔设置有若干个用于定位滚球的凸条。进一步的，相邻凸条之间的间隔为滚球的直径长度。其中，所述针孔部内环设有用于定位探针穿过针孔部的方位的定位柱。其中，所述定位柱的顶端设置有凹槽，所述凹槽上设置有用于与探针配合的滚珠，当探针穿过针孔部时，所述滚珠与探针滑动连接。其中，所述针孔部的上下两端均设置有用于防止探针带料的挡片，所述挡片上设置有供探针穿过的通孔，所述通孔的直径大小与探针的截面直径相等。本专利技术的有益效果：本专利技术提供的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，结构简单、设计合理，有效防止探针带料，防止不良产品流出，延长探针的使用寿命，保证装置整体稳定性，降低装置的故障率，提高生产效率，节省成本。附图说明图1为本专利技术的一种用于石英晶体测试头的防带料装置的结构示意图。图2为本专利技术的一种用于石英晶体测试头的防带料装置的探针测试时的结构示意图。图3为本专利技术的固定凸块与固定凹槽的结构示意图。图4为本专利技术的内框结构与螺丝配合的结构示意图。图5为本专利技术的螺丝、滑槽、凸条、凹坑的结构示意图。图6为本专利技术的针孔部的截面结构示意图。图7为本专利技术的针孔部的结构示意图。在图1至图7中的附图标记包括：1—活动外框 2—集成测试板 3—探针4—内框结构 5—延伸部 6—针孔部7—螺丝 8—复位弹簧 9—滚球10—滑槽 11—凸条 12—定位柱13—滚珠 14—挡片 15—通孔16—螺头 17—螺杆 18—固定凸块19—固定凹槽 20—凹坑 21—第一螺孔22—第二螺孔 23—导向孔。具体实施方式为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本专利技术作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本专利技术的限定。以下结合附图1-7对本专利技术进行详细的描述。本实施例所述的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，包括活动外框1以及安装在活动外框1上的集成测试板2，所述集成测试板2设置有与其电连接的探针3，所述活动外框1内安装有内框结构4，所述内框结构4与活动外框1活动连接，所述内框结构4设置有伸出活动外框1的延伸部5，所述延伸部5上设置有用于防止探针3带料的针孔部6，当测试时，所述活动外框1带动探针3穿过针孔部6后对产品进行测试。具体地，如图1、图2，当测试时，活动外框1带动探针3做上下运动的动作，当活动外框1带动探针3穿过内框结构4和针孔部6后，对石英产品进行测试，当测试结束时，活动外框1可带动探针3向上运动复位，即探针3无论在测试或复位时都经过针孔部6，所述针孔部6可以防止探针3带料，阻挡料件进入活动外框1内或内框结构4内；其中，如图7，所述针孔部6的上下两端均设置有用于防止探针3带料的挡片14，所述挡片14上设置有供探针3穿过的通孔15，所述通孔15的直径大小与探针3的截面直径相等；进一步地，所述挡片14可以有效防止料件进入装置内，所述通孔15只允许探针3穿过。如图3、图4，本实施例所述的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，所述集成测试板2、活动外框1和内框结构4上分别设置有第一螺孔21、第二螺孔22和导向孔23，所述集成测试板2通过螺丝7与活动外框1锁合，所述螺丝7上设置有用于与内框结构4滑动配合的滑槽10，所述活动外框1通过螺丝7的滑槽10与内框结构4活动连接。具体地，所述第一螺孔21上设置有固定凹槽19，其中，固定凹槽19为环形槽；所述第一螺孔21和第二螺孔22均设置有内螺纹，所述螺丝7包括螺头16和螺杆17，所述螺杆17上设置有与内螺纹配合的外螺纹，所述螺头16设置有与固定凹槽19配合的固定凸块18；具体地，当用螺丝7把集成测试板2与活动外框1锁合时，通过转动压合螺丝7直到螺丝7的固定凸块18进入到固定凹槽19的底部，说明集成测试板2与活动外框1已经锁合完成，此时螺丝7的螺头16位于第一螺孔21内，螺丝7的螺杆17位于第一螺孔21、第二螺孔22与导向孔23内，能够防止继续压合螺丝7使得集成测试板2和活动外框1开裂；所述滑槽10与导向孔23对应设置，当活动外框1运动时，内框结构4沿着螺丝7的滑槽10做相对运动。如图1、图2，本实施例所述的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，所述内框结构4与所述活动外框1之间设置有用于使活动外框1复位的复位弹簧8。具体地，当活动外框1带动探针3向下运动穿过针孔部6对料件进行测试时，内框结构4与活动外框1之间的复位弹簧8被压缩；测试完成后，活动外框1上升，同时带动探针3上升，由于复位弹簧8自身弹力作用下，复位弹簧8伸展，减少活动外框1上升的力，减少损耗，可提高工作效率，延长装置的工作寿命。如图1、图2，本实施例所述的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，所述复位弹簧8套设于螺丝7。具体地，所述复位弹簧8套设于螺丝7中，第一，可以防止复位弹簧8松落的情况下也不会脱离螺丝7，防止复位弹簧8掉落到装置内影响装置性能，保证装置整体稳定性；第二，可以使得复位弹簧8在压缩和伸展的方向均沿着螺丝7，保证复位弹簧8的工作稳定性。如图4、图5本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于石英晶体测试头的防带料装置，其特征在于：包括活动外框以及安装在活动外框上的集成测试板，所述集成测试板设置有与其电连接的探针，所述活动外框内安装有内框结构，所述内框结构与活动外框活动连接，所述内框结构设置有伸出活动外框的延伸部，所述延伸部上设置有用于防止探针带料的针孔部，当测试时，所述活动外框带动探针穿过针孔部后对产品进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种用于石英晶体测试头的防带料装置，其特征在于：包括活动外框以及安装在活动外框上的集成测试板，所述集成测试板设置有与其电连接的探针，所述活动外框内安装有内框结构，所述内框结构与活动外框活动连接，所述内框结构设置有伸出活动外框的延伸部，所述延伸部上设置有用于防止探针带料的针孔部，当测试时，所述活动外框带动探针穿过针孔部后对产品进行测试。2.根据权利要求1所述的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，其特征在于：所述集成测试板、活动外框和内框结构上分别设置有第一螺孔、第二螺孔和导向孔，所述集成测试板通过螺丝与活动外框锁合，所述螺丝上设置有用于与内框结构滑动配合的滑槽，所述活动外框通过螺丝的滑槽与内框结构活动连接。3.根据权利要求2所述的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，其特征在于：所述内框结构与所述活动外框之间设置有用于使活动外框复位的复位弹簧。4.根据权利要求3所述的一种用于石英晶体测试头的防带料装置，其特征在于：所述复位弹簧套设于螺丝。5.根据权利要求2所述的一种用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈凯，
申请(专利权)人：广东惠伦晶体科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44