一种基于X参数的射频放大器互调抑制电平的测量方法技术

本发明专利技术涉及一种基于X参数的射频放大器互调抑制电平的测量方法，步骤1：测量射频放大器的目标X参数；所述目标X参数为一个目标参数集；步骤2：针对目标X参数获取射频放大器散射波波变量；步骤3：构建入射波波变量、散射波波变量与信号功率之间的映射关系：步骤4：根据步骤3的映射关求取射频放大器的互调抑制电平。本发明专利技术从实验设备到实验步骤上都要比现有的GJB151B‑2013中针对互调抑制电平的测量方法要简单便捷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电磁兼容测试领域，涉及一种基于X参数的射频放大器互调抑制电平的测量方法。
技术介绍
X参数是在S参数的基础上发展起来的，它是S参数的超集。X参数的基本物理含义是指由等价于测试激励信号的参考激励信号所产生的参考响应在频域上的分量。X参数以非线性频谱映射的方式描述DUT(Device Under Test，这里指放大器)的非线性行为。X参数表示了DUT稳态非线性行为的基础特性，通常以输入-输出的形式表示。在电磁兼容测试领域，针对射频放大器的互调抑制电平的测量本质上就是测量射频放大器的“无寄生动态范围”。因此，可以在测量X参数的基础上，分析推演得出放大器的互调抑制电平指标也包括放大器的互调抑制电平。现有的射频放大器互调抑制电平测量方法(CS103)主要是国标GJB 151B-2013，该方法从实验设备到实验要求均比较复杂、测量速度慢。
技术实现思路
本专利技术的目的是：克服现有技术的不足，提供一种基于X参数的射频放大器互调抑制电平的测量方法，这种方法可以通过借助非线性矢量网络分析仪(NVNA)以及必要的数据处理即可实现快速测量射频放大器的互调抑制电平，从实验设备到实验步骤上都要比现有的GJB151B-2013中针对互调抑制电平的测量方法要简单便捷。本专利技术技术解决方案：一种基于X参数的射频放大器互调抑制电平的测量方法，包括下列步骤：步骤1：测量射频放大器的目标X参数。步骤2：针对目标X参数获取射频放大器散射波波变量。步骤3：构建入射波波变量、散射波波变量与信号功率之间的映射关系。步骤4：根据步骤3的映射关求取射频放大器的互调抑制电平。所述步骤1：测量射频放大器的目标X参数；所述目标X参数为一个目标参数集，具体如下：射频放大器是一个二端口网络，其所对应的目标参数集列写如下： X 2 , 1 ( F B ) ( { DCS q本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于X参数的射频放大器互调抑制电平的测量方法，其特征在于包括下列步骤：步骤1：测量射频放大器的目标X参数；步骤2：针对目标X参数获取射频放大器散射波波变量；步骤3：构建入射波波变量、散射波波变量与信号功率之间的映射关系；步骤4：根据步骤3的映射关求取射频放大器的互调抑制电平。

【技术特征摘要】
1.一种基于X参数的射频放大器互调抑制电平的测量方法，其特征在于包括下列步骤：步骤1：测量射频放大器的目标X参数；步骤2：针对目标X参数获取射频放大器散射波波变量；步骤3：构建入射波波变量、散射波波变量与信号功率之间的映射关系；步骤4：根据步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴飞，高占威，苏东林，刘泽，郑涛，王顺鑫，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：北京;11