基于PCB/FPCB板测试对位的治具制造技术

技术编号:14072227 阅读:352 留言:0更新日期:2016-11-29 10:12
本实用新型专利技术公开一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具,是由上下两部分组成;上部分包括中板、上治具、探针,该探针有安装于上治具底面,探针至少有两组,每组探针均是由中心针和围绕中心针的多支边沿针组成;下部分包括下板、千分尺、XY平台、下治具和待测PCB,该XY平台安装于下板顶面,该千分尺安装于XY平台的侧面,该下治具安装于XY平台顶面,该待测PCB放置于下治具表面,待测PCB本体周边没有电路区域至少设置有两个对位用的靶标;PCB/FPCB板测试对位时,由上治具下压,使每组探针的中心针扎到对应靶标的中心点,即对位准确;当各组探针的中心针偏离对应靶标的中心点,该XY平台移动或/和旋转,直到对位准确。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及PCB/FPCB板测试领域技术,尤其是指一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具
技术介绍
科学日新月异,电子产品关键部件PC板由早期单面板,双面板,多层板(FR4),进步到今日高密度的软板(FPCB),软硬结合板。由于工艺越来越复杂,质量要求越来越严格。为了提高生产良率,测试工序也变了多样化。因为产品铜泊非常细密,测试治具扎针对位准确便成为测试的重点。一般常用CCD图像处理待测物靶标配合XY平台移动来做上下治具扎针对准。 但是产品大小尺寸不同,CCD固定位置也要变动,又不易安装。而且软件程序还要处理影像图片,也比较复杂。
技术实现思路
有鉴于此,本技术针对现有技术存在之缺失,其主要目的是提供一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具,采用上治具的探针与下治具的靶标对位的方式,当对位不准时,XY平台可沿X轴、Y轴平移并且可以转动角度,直至对准,这种治具能够一次调整完毕,简单好用,从而克服现有技术的不足。为实现上述目的,本技术采用如下之技术方案:一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具,是由上下两部分组成;上部分包括中板、上治具、探针,该上治具安装于中板底面,该探针有安装于上治具底面,探针至少有两组,每组探针均是由中心针和围绕中心针的多支边沿针组成;下部分包括下板、千分尺、XY平台、下治具和待测PCB,该XY平台安装于下板顶面,该千分尺安装于XY平台的侧面,该下治具安装于XY平台顶面,该待测PCB放置于下治具表面,待测PCB本体周边没有电路区域至少设置有两个对位用的靶标;PCB/FPCB板测试对位时,由上治具下压,使每组探针的中心针扎到对应靶标的中心点,即对位准确;当各组探针的中心针偏离对应靶标的中心点,该XY平台移动或/和旋转,直到对位准确。作为一种优选方案,所述靶标为“十”字形、圆形或方形。作为一种优选方案,每组探针是由5PIN独立的探针组成,其中有1支中心针和4支边沿针,4支边沿针在中心针外周均匀分布。作为一种优选方案,所述探针有两组,对应之靶标有两个。作为一种优选方案,所述待测PCB为高密度软电路板。作为一种优选方案,所述探针为钢质探针。作为一种优选方案,所述探针直径为0.2mm时,上治具所开设的用于安装探针的孔直径为0.22~0.25mm,孔与孔之间的距离最小为0.2mm。作为一种优选方案,所述XY平台具有X向平移装置、Y向平移装置和角度转动装置。作为一种优选方案,所述靶标上设置可导电的铜箔层。本技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果,具体而言,由上述技术方案可知,由于下治具有XY平台装置,待测PCB/FPCB放置下治具待测区,待测PCB/FPCB边沿的非使用区域设定可以与探针形成通路的靶标,即靶标,上治具使用对应探针(针数不限,能达到对位目的既可)以探针读取通路杷标,修正偏移方向及角度,达到上下治具与待测产品位置正确的目的。为更清楚地阐述本技术的结构特征和功效,下面结合附图与具体实施例来对本技术进行详细说明。附图说明图1是本技术之实施例的治具示意图。图2是本技术之实施例的待测PCB/FPCB上设置靶标的示意图。图3是本技术之实施例的探针的示意图。图4是本技术之实施例的探针与靶标对正的示意图。图5是本技术之实施例的尺寸关系图。图6是本技术之另一种实施例的靶标与探针示意图。图7是本技术之第三种实施例的靶标与探针示意图。图8是本技术之实施例的探针与靶标正对的示意国。图9从左到右的6种状态是探针向上各偏移0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6的示意图,单位为mm。图10从左到右的6种状态是探针向下各偏移0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6的示意,单位为mm。图11从左到右的6种状态是探针向左各偏移0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6的示意图,单位为mm。图12从左到右的6种状态是探针向右各偏移0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6的示意图,单位为mm。图13从左到右的6种状态是探针向上右各偏移0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6的示意图,单位为mm。图14从左到右的6种状态是探针向上左各偏移0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6的示意图,单位为mm。图15从左到右的6种状态是探针向下右各偏移0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6的示意图,单位为mm。图16从左到右的6种状态是探针向下左各偏移0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6的示意图,单位为mm。图17是探针以上面为圆心向上偏移1°的示意图。图18是探针以上面为圆心向上偏移2°的示意图。图19是探针以上面为圆心向上偏移3°的示意图。图20是探针以上面为圆心向上偏移4°的示意图。图21是探针以上面为圆心向下偏移1°的示意图。图22是探针以上面为圆心向下偏移2°的示意图。图23是探针以上面为圆心向下偏移3°的示意图。图24是探针以上面为圆心向下偏移4°的示意图。附图标识说明:10、上部分 11、中板12、上治具 13、探针131、中心针 132、边沿针20、下部分 21、下板22、千分尺 23、XY平台24、下治具 25、待测PCB/FPCB251、靶标。具体实施方式请参照图1所示,其显示出了本技术之较佳实施例的具体结构,是一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具,是由上下两部分组成。其中,上部分10包括中板11、上治具12、探针13,该上治具12安装于中板11底面,该探针13有安装于上治具12底面,探针13至少有两组,每组探针13均是由中心针131和围绕中心针131的多支边沿针132组成。下部分20包括下板21、千分尺22、XY平台23、下治具24和待测PCB/FPCB 25,该XY平台23安装于下板21顶面,所述XY平台23具有X向平移装置、Y向平移装置和角度转动装置。该千分尺22安装于XY平台23的侧面,该下治具24安装于XY平台23顶面,该待测PCB/FPCB 25放置于下治具24表面,待测PCB/FPCB 25本体周边没有电路区域至少设置有两个对位用的靶标251,靶标251是采用可通电的铜箔或其它材料制成,例如铜箔层。PCB/FPCB板测试对位时,由上治具12下压,使每组探针13的中心针131扎到对应靶标251的中心点,即对位准确;当各组探针13的中心针131偏离对应靶标251的中心点,该XY平台23移动或/和旋转,直到对位准确。如图2所示,所述靶标251为“十”字形,还可以如图6所示,为方形,或者如图7所示,为圆形。当然,还可以是其它形状,只要能实现定位即可。如图3所示,每组探针13是由5PIN独立的探针13组成,其中有1支中心针131和4支边沿针132,4支边沿针132在中心针131外周均匀分布。本实施例中,所述探针13有两组(见图3),对应之靶标251有两个(见图2),形成一一对应的定位结构。所述待测PCB 25为高密度软电路板。由于软电路板工艺越来越复杂,品质要求越来越严格,为了提高生产良率,加之电路的测本文档来自技高网...
基于PCB/FPCB板测试对位的治具

【技术保护点】
一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具,其特征在于:是由上下两部分组成;上部分(10)包括中板(11)、上治具(12)、探针(13),该上治具安装于中板底面,该探针安装于上治具底面,探针至少有两组,每组探针均是由中心针(131)和围绕中心针的多支边沿针(132)组成;下部分(20)包括下板(21)、千分尺(22)、XY平台(23)、下治具(24)和待测PCB (25),该XY平台安装于下板顶面,该千分尺安装于XY平台的侧面,该下治具安装于XY平台顶面,该待测PCB放置于下治具表面,待测PCB本体周边没有电路区域至少设置有两个对位用的靶标(251);PCB/FPCB板测试对位时,由上治具(12)下压,使每组探针的中心针(131)扎到对应靶标(251)的中心点,即对位准确;当各组探针的中心针(131)偏离对应靶标(251)的中心点,该XY平台(23)移动或/和旋转,直到对位准确。

【技术特征摘要】
1.一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具,其特征在于:是由上下两部分组成;上部分(10)包括中板(11)、上治具(12)、探针(13),该上治具安装于中板底面,该探针安装于上治具底面,探针至少有两组,每组探针均是由中心针(131)和围绕中心针的多支边沿针(132)组成;下部分(20)包括下板(21)、千分尺(22)、XY平台(23)、下治具(24)和待测PCB (25),该XY平台安装于下板顶面,该千分尺安装于XY平台的侧面,该下治具安装于XY平台顶面,该待测PCB放置于下治具表面,待测PCB本体周边没有电路区域至少设置有两个对位用的靶标(251);PCB/FPCB板测试对位时,由上治具(12)下压,使每组探针的中心针(131)扎到对应靶标(251)的中心点,即对位准确;当各组探针的中心针(131)偏离对应靶标(251)的中心点,该XY平台(23)移动或/和旋转,直到对位准确。2.根据权利要求1所述的基于PCB/FPCB板测试对位的治具,其特征在于:所述靶标(251)为“十”字形、圆形或方形。3.根据权利要求1所述的基于PCB/FPCB板测试对位的治具...

【专利技术属性】
技术研发人员:周怡歆
申请(专利权)人:昆山耀翊电子有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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