【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于一种光学检测装置与光学检测方法,且特别是有关于一种用于检测光波导(light waveguide)元件的光学检测装置与光学检测方法。
技术介绍
近年来,随着科技产业日益发达,电子产品例如笔记本电脑(notebook computer,简称:NB)、平板电脑(tablet computer)与智能手机(smart phone)已频繁地出现在日常生活中。因此,应用于电子产品中的线路板(circuit board)也成为相关技术中的重要角色。为了增加线路板的应用,可用以增加内部线路布局空间的多层线路板也因应而生,而许多不同种类的电子元件,例如是连接器、芯片或者是光电元件,也可依据需求配置在多层线路板上,以增加多层线路板的使用功能。以在多层线路板中配置光电元件而构成光电线路板(optical-electro circuit board)为例,光电线路板通常是在由核心层与增层结构所构成的多层线路板中埋设光波导元件,并在多层线路板开设凹槽而暴露出光波导元件的相对两端。之后,光电元件进一步配置在凹槽内而面对光波导元件的相对两端,而驱动芯片配置在多层线路板上并电性连接至光电元件,以驱动光电元件将电信号转换成光线并通过光波导元件传递至另一光电元件,或驱动光电元件将通过光波导元件的光线转换成电信号。基于上述,光波导元件将影响光电元件的运作效能。藉此,在光电线路板的制程中或出货前,制造端通常可采用相关光学检测装置与光学检测方法检测光波导元件,例如是检测其光通量。然而,常见的光学检测装置与光学检测方法是以光发送元件直接将光线射入光波导元件后在以光接收元件接收光 ...
【技术保护点】
一种光学检测装置,适于检测至少一光波导元件,其特征在于,所述光学检测装置包括:光发送元件,适于对应于所述光波导元件的第一端,并适于发出光线;第一控制元件,配置于所述光发送元件上;第一反射元件,配置于所述光发送元件上,并连接至所述第一控制元件,其中所述第一控制元件控制所述第一反射元件运动,以将所述光发送元件发出的所述光线反射至所述光波导元件;光接收元件,适于对应于所述光波导元件的第二端,并适于接收所述光线;第二控制元件,配置于所述光接收元件上;以及第二反射元件,配置于所述光接收元件上,并连接至所述第二控制元件,其中所述第二控制元件控制所述第二反射元件运动,以将通过所述光波导元件的所述光线反射至所述光接收元件进行光学检测。
【技术特征摘要】
1.一种光学检测装置,适于检测至少一光波导元件,其特征在于,所述光学检测装置包括:光发送元件,适于对应于所述光波导元件的第一端,并适于发出光线;第一控制元件,配置于所述光发送元件上;第一反射元件,配置于所述光发送元件上,并连接至所述第一控制元件,其中所述第一控制元件控制所述第一反射元件运动,以将所述光发送元件发出的所述光线反射至所述光波导元件;光接收元件,适于对应于所述光波导元件的第二端,并适于接收所述光线;第二控制元件,配置于所述光接收元件上;以及第二反射元件,配置于所述光接收元件上,并连接至所述第二控制元件,其中所述第二控制元件控制所述第二反射元件运动,以将通过所述光波导元件的所述光线反射至所述光接收元件进行光学检测。2.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述第一控制元件控制所述第一反射元件沿水平基准面移动或沿旋转轴向转动,而所述第二控制元件控制所述第二反射元件沿所述水平基准面移动或沿所述旋转轴向转动。3.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述第一反射元件具有第一反射面,面向所述光波导元件的所述第一端,以将所述光发送元件发出的所述光线反射至所述光波导元件,而所述第二反射元件具有第二反射面,面向所述光波导元件的所述第二端,以将通过所述光波导元件的所述光线反射至所述光接收元件。4.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述光波导元件配置于基板上,所述第一反射元件具有连接所述第一反射面的第一底面,所述第二反射元件具有连接所述第二反射面的第二底面,所述第一反射元件与所述第二反射元件以对应的所述第一底面与所述第二底面抵靠所述基板,以使所述第一反射面与所述第二反射面对应面向所述光波导元件的所述第一端与所述第二端。5.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,还包括:分光器,配置于所述光发送元件上,以将所述光发送元件发出的所述光线分成多道光线。6.根据权利要求5所述的光学检测装置,其特征在于,所述至少一光波导元件的数量为多个,而所述光发送元件包括多个光发送部,该些光线通过对应的该些光发送部发出,并经由所述第一反射元件反射至该些光波导元件。7.根据权利要求6所述的光学检测装置,其特征在于,所述光接收元件包括多个光接收部,该些光线通过对应的该些光波导元件,并经由所述第二反射元件反射至对应的该些光接收部。8.根据权利要求7所述的光学检测装置,其特征在于,该些光线彼此平行。9.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述光波导元件平行于水平基准面,而通过所述光发送元件发出的所述光线垂直于所述水平基准面,并在经由所述第一反射元件反射后平行于所述水平基准面,且在通过所述光波导元件后经由所述第二反射元件反射而垂直于所述水平基准面。10.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述光波导元件配置于基板内,且所述基板具有两凹槽,以分别暴露出所述光波导元件的所述第一端与所述第二端,所述第一控制元件与所述第二控制元件对应控制所述第一反射元件与所述第二反射元件运动,以使所述第一反射元件与所述第二反射元件对应伸入所述两凹槽而分别面对所述光波导元件的所述第一端与所述第二端。11.一种光学检测方法,其特征在于,适于检测至少一光波导元件,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄培彰,余丞博,林爱华,
申请(专利权)人:欣兴电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾;71
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