【技术实现步骤摘要】
本技术涉及PCB板过孔阻抗及过孔损耗检测
,尤其涉及一种具可同时测量过孔阻抗及过孔损耗的电路板。
技术介绍
随着高频高速化发展,对PCB过孔阻抗、过孔损耗控制要求也越来越严格。目前业界对于PCB过孔阻抗多采用探针台方式测量,此种方法存在以下问题:1、需要先在图形内找到需要测量的过孔,且需要采用探针台方式测量对于孔的过孔阻抗,此种方法测量效率低下,探针易损坏,成本较高,对人员操作技能要求较高;2、对于传输线上有过孔转层的设计,无法测量过孔的损耗。
技术实现思路
针对上述技术问题,本技术的目的在于提供一种可以测量方便、无需使用探针台的可同时测量过孔阻抗及过孔损耗的电路板。为实现上述目的,本技术采用如下技术方案:一种可同时测量过孔阻抗及过孔损耗的电路板,包括电路板本体,该电路板本体上设有若干个待测过孔,所述待测过孔具有第一开口和第二开口,且第一开口位于电路板本体的一面,第二开口位于电
路板本体的另一面;所述电路板本体的一面还设有第一阻抗线、第三阻抗线、第一连接头、第三连接头和第四连接头,电路板本体的另一面还设有第二阻抗线和第二连接头;该第一阻抗线的一端与第一连接头连接,另一端与第一开口连接;该第二阻抗线的一端与第二连接头连接,另一端与第二开口连接;所述第三阻抗线的一端与第三连接头连接,另一端与第四连接头连接;所述电路板本体的一面上还设有TRL校准件;第一阻抗线和第二阻抗线的长度均不小于1英寸。优选的,所述第一连接头、第二连接头、第三连接头和第四连接头均为SMA连接头。优选的,第一阻抗线的阻抗值、线宽和长度均与第二阻抗线相同。优选的,所述第三阻抗线 ...
【技术保护点】
一种可同时测量过孔阻抗及过孔损耗的电路板,包括电路板本体,该电路板本体上设有若干个待测过孔,所述待测过孔具有第一开口和第二开口,且第一开口位于电路板本体的一面,第二开口位于电路板本体的另一面;其特征在于,所述电路板本体的一面还设有第一阻抗线、第三阻抗线、第一连接头、第三连接头和第四连接头,电路板本体的另一面还设有第二阻抗线和第二连接头;该第一阻抗线的一端与第一连接头连接,另一端与第一开口连接;该第二阻抗线的一端与第二连接头连接,另一端与第二开口连接;所述第三阻抗线的一端与第三连接头连接,另一端与第四连接头连接;所述电路板本体的一面上还设有TRL校准件;第一阻抗线和第二阻抗线的长度均不小于1英寸。
【技术特征摘要】
1.一种可同时测量过孔阻抗及过孔损耗的电路板,包括电路板本体,该电路板本体上设有若干个待测过孔,所述待测过孔具有第一开口和第二开口,且第一开口位于电路板本体的一面,第二开口位于电路板本体的另一面;其特征在于,所述电路板本体的一面还设有第一阻抗线、第三阻抗线、第一连接头、第三连接头和第四连接头,电路板本体的另一面还设有第二阻抗线和第二连接头;该第一阻抗线的一端与第一连接头连接,另一端与第一开口连接;该第二阻抗线的一端与第二连接头连接,另一端与第二开口连接;所述第三阻抗线的一端与第三连接头连...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘文敏,王红飞,程柳军,陈蓓,
申请(专利权)人:广州兴森快捷电路科技有限公司,深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司,广州市兴森电子有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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