基于超材料结构的石墨烯光探测器制造技术

基于超材料结构的石墨烯光探测器，涉及光探测器。提供一种可实现超宽带吸收的功能的基于超材料结构的石墨烯光探测器。为叠层结构，从上至下在垂直方向上依次为金属层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层结构；在水平方向上，石墨烯层和介质层均采用栅状条块，条块周期排列，在每层石墨烯层上加偏置电压，用于改变石墨烯的折射率，从而动态调控每石墨烯层的空间反射率，进而调控整个结构的空间吸收率。

【技术实现步骤摘要】
201610387460

【技术保护点】
基于超材料结构的石墨烯光探测器，其特征在于为叠层结构，从上至下在垂直方向上依次为金属层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层结构；在水平方向上，石墨烯层和介质层均采用栅状条块，条块周期排列，在每层石墨烯层上加偏置电压，用于改变石墨烯的折射率，从而动态调控每石墨烯层的空间反射率，进而调控整个结构的空间吸收率。

【技术特征摘要】
1.基于超材料结构的石墨烯光探测器，其特征在于为叠层结构，从上至下在垂直方向上依次为金属层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层－介质层－石墨烯层结构；在水平方向上，石墨烯层和介质层均采用栅状条块，条块周期排列，在每层石墨烯层上加偏置电压，用于改变石墨烯的折射率，从而动态调控每石墨烯层的空间反射率，进而调控整个结构的空间吸收率。2.如权利要求1所述基于超材料结构的石墨烯光探测器，其特征在于所述石墨烯层采用单原子石墨烯层。3.如权利要求1所述基于超材料结构的石墨烯光探测器，其特征在于所述石墨烯层的长度为200～300nm，宽度为240～270nm，厚度为0.34nm。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：朱锦锋，李嘉晔，刘海，柳清伙，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：福建;35