一种基于线结构光的三维视觉回转式测量系统技术方案

技术编号:13515415 阅读:93 留言:0更新日期:2016-08-12 01:50
本发明专利技术公开了一种基于线结构光的三维视觉回转式测量系统,包括:工作台;控制系统;设置在所述工作台上的回转平台组件;以及环绕设置在所述回转平台组件外周的尺寸测量装置,其中,所述尺寸测量装置包括顺时针依次环绕设置的第一尺寸测量装置、以及至少两个第二尺寸测量装置,所述回转平台组件与尺寸测量装置分别与所述控制系统电连接。本发明专利技术具有确保在保证测量精度的前提下尽可能地测量效率,同时能解决现阶段系统体积过大及测量误差过高的问题的有益效果。

【技术实现步骤摘要】
201610147959

【技术保护点】
一种基于线结构光的三维视觉回转式测量系统,其特征在于,包括:工作台;控制系统;设置在所述工作台上的回转平台组件;以及环绕设置在所述回转平台组件外周的尺寸测量装置,其中,所述尺寸测量装置包括顺时针依次环绕设置的第一尺寸测量装置、以及至少两个第二尺寸测量装置,所述回转平台组件与尺寸测量装置分别与所述控制系统电连接。

【技术特征摘要】
1.一种基于线结构光的三维视觉回转式测量系统,其特征在于,包括:工作台;控制系统;设置在所述工作台上的回转平台组件;以及环绕设置在所述回转平台组件外周的尺寸测量装置,其中,所述尺寸测量装置包括顺时针依次环绕设置的第一尺寸测量装置、以及至少两个第二尺寸测量装置,所述回转平台组件与尺寸测量装置分别与所述控制系统电连接。2.如权利要求1所述的基于线结构光的三维视觉回转式测量系统,其特征在于,所述回转平台组件包括圆盘状的回转盘、至少五个等间距地设置在所述回转盘的径向且呈放射状分布的待测物固定槽、以及安装在所述回转盘下表面用于驱动所述回转盘旋转的传动机构。3.如权利要求2所述的基于线结构光的三维视觉回转式测量系统,其特征在于,所述第一尺寸测量装置包括驱动器、竖直设置且在所述驱动器的驱动下可绕其轴线旋转的支撑圆柱、以及与所述支撑圆柱固接的CMOS相机。4.如权利要求3所述的基于线结构光的三维视觉回转式测量系统,其特征在于,所述第二尺寸测量装置包括机架...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴加富缪磊王彬
申请(专利权)人:苏州富强科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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