【技术实现步骤摘要】
201610079496
【技术保护点】
一种半导体电路,包括:第一晶体管P1,其对第二节点Z2的电压电平选通并且为第一节点Z1供应电源电压;并联连接到第一晶体管P1的第二晶体管P2,其对第一节点Z1的电压电平选通并且为第二节点Z2供应电源电压;第三晶体管N3,其对输入信号的电压电平选通并且供应地电压;串联连接到第三晶体管N3的第四晶体管N1,其对电源电压选通并且将第三晶体管N3的输出转移到第一节点Z1;第五晶体管N4,其对输入信号的反相电压电平选通并且供应地电压;以及串联连接到第五晶体管N4的第六晶体管N2,其对电源电压选通并且将第五晶体管N4的输出转移到第二节点Z2,其中,第三晶体管N3和第四晶体管N4包括高k介电层。
【技术特征摘要】
2015.02.04 KR 10-2015-00170981.一种半导体电路,包括:第一晶体管P1,其对第二节点Z2的电压电平选通并且为第一节点Z1供应电源电压;并联连接到第一晶体管P1的第二晶体管P2,其对第一节点Z1的电压电平选通并且为第二节点Z2供应电源电压;第三晶体管N3,其对输入信号的电压电平选通并且供应地电压;串联连接到第三晶体管N3的第四晶体管N1,其对电源电压选通并且将第三晶体管N3的输出转移到第一节点Z1;第五晶体管N4,其对输入信号的反相电压电平选通并且供应地电压;以及串联连接到第五晶体管N4的第六晶体管N2,其对电源电压选通并且将第五晶体管N4的输出转移到第二节点Z2,其中,第三晶体管N3和第四晶体管N4包括高k介电层。2.如权利要求1所述的半导体电路,其中,操作于堆积模式下的第三晶体管N3和第五晶体管N4的漏极-栅极电压高于操作于堆积模式下的第四晶体管N1和第六晶体管N2的漏极-栅极电压。3.如权利要求1所述的半导体电路,其中,第三晶体管N3和第五晶体管N4的栅极绝缘膜的厚度小于第四晶体管N1和第六晶体管N2的栅极绝缘膜的厚度。4.如权利要求1所述的半导体电路,其中,第三晶体管N3和第五晶体管N4的沟道长度小于第四晶体管N1和第六晶体管N2的沟道长度。5.如权利要求1所述的半导体电路,其中,第三晶体管N3对输入信号的电压电平选通并且下拉第一节点Z1,以及第二晶体管P2对第一节点Z1的电压电平选通并且上拉第二节点Z2。6.如权利要求5所述的半导体电路,其中,当输入信号的电压电平是第一电压电平时,第三晶体管N3和第四晶体管N1导通,并且第一节点Z1的电压电平是不同于第一电压电平的第二电压电平。7.如权利要求5所述的半导体电路,其中,当输入信号的电压电平是第一电压电平时,第二晶体管P2导通。8.如权利要求1所述的半导体电路,其中,第五晶体管N4对输入信号的电压电平选通并且下拉第二节点Z2,以及第一晶体管P1对第二节点Z2的电压电平选通并且上拉第一节点Z1。9.如权利要求8所述的半导体电路,其中,当输入信号的电压电平是第二电压电平时,第五晶体管N4和第六晶体管N2导通,并且第二节点Z2的电压电平是第二电压电平。10.如权利要求8所述的半导体电路,其中,当输入信号的电压电平是第一电压电平时,第一晶体管P1导通。11.一种半导体电路,包括:第一晶体管P...
【专利技术属性】
技术研发人员:李庚泽,裵相右,金慧珍,朴浚均,李贤雨,
申请(专利权)人:三星电子株式会社,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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