一种制导弹药整弹电性能仿真测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种制导弹药整弹电性能仿真测试装置，其包括工控机、路由器、数字多用表、示波器、函数发生器、程控电源、选择开关、第一数字I/O模块、第二数字I/O模块、转换电路、转换控制电路、适配电路和脉冲产生电路；其有益效果是：本发明专利技术可通过在导弹体上预留的测试接口对制导弹药整弹电性能参数进行综合测试，对部件的关键特性参数、工作时序、数据通讯等进行检查、模拟、并对整个试验状况进行监测。该系统配置灵活，使用方便，操作简单，测试效率高。

【技术实现步骤摘要】
201610259687

【技术保护点】
一种制导弹药整弹电性能仿真测试装置，其特征在于：包括工控机、路由器、数字多用表、函数发生器、程控电源、选择开关、数字I/O模块、转换电路、适配电路、转换控制电路和脉冲产生电路；所述转换电路包括第25至第28继电器以及第18继电器；所述数字多用表、程控电源、函数发生器、选择开关和数字I/O模块分别通过路由器与所述工控机相连接；所述数字多用表与所述选择开关的相应端口相连接；所述选择开关分别与导弹体X8和所述适配电路的相应端口相连接；所述适配电路与导弹体X8的相应端口相连接；所述函数发生器与所述脉冲产生电路的相应端口相连接；所述数字I/O模块分别与所述脉冲产生电路和转换控制电路的相应端口相连接；所述程控电源分别与转换控制电路和脉冲产生电路的相应端口相连接；所述程控电源的端口DY1+经所述第25继电器的第1常开触点KDT25‑1接导弹体X8的电源正端口DTZ；所述程控电源的端口DY1‑经所述第25继电器的第2常开触点KDT25‑2接导弹体X8的GND端口DTGD；所述程控电源的端口DY2‑经所述第18继电器的第1常开触点KDT18‑1接导弹体X8的电源负端口DTF；所述程控电源的端口DY2+经所述第18继电器的第2常开触点KDT18‑2接导弹体X8的GND端口DTGD；导弹体X8的fin检测点端口DT6经所述第28继电器的第1常开触点KDT28‑1接所述脉冲产生电路的相应端口；导弹体X8的GND端口DTGD经所述第28继电器的第2常开触点KDT28‑2接所述脉冲产生电路的相应端口；导弹体X8的z端口DT4经所述第26继电器的第1常开触点KDT26‑1接导弹体X8的‑Y端口DT7；导弹体X8的y端口DT5经所述第26继电器的第2常开触点KDT26‑2接导弹体X8的‑Z端口DT8；导弹体X8的fin检测点端口DT6经所述第27继电器的第1常开触点KDT27‑1接导弹体X8的VA端口DT18。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：柳维旗，杨洪峰，闫勇，李祥旭，蒋新广，张雷，杨恋，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三九零八部队，
类型：发明
国别省市：河北;13