切片方法技术

技术编号:13511950 阅读:70 留言:0更新日期:2016-08-11 16:19
本发明专利技术提供一种切片方法,其使用线锯,一边对于卷绕在多个线导件上的线供给冷却液,一边使所述线移动,且使硅晶锭压抵于该线并切断该硅晶锭,从而得到多片切片晶圆,其中,将供给到所述线的冷却液中的铜浓度设为80ppm以下。由此,能够提供一种切片方法,其使用线锯,并能稳定地得到铜污染降低的高纯度的硅晶圆。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】201480070306

【技术保护点】
一种切片方法,其使用线锯,一边对于卷绕在多个线导件上的线供给冷却液,一边使所述线移动,且使硅晶锭压抵于该线并切断该硅晶锭,来得到多片切片晶圆,该切片方法的特征在于,将供给到所述线的冷却液中的铜浓度设为80ppm以下。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.12.26 JP 2013-2690431.一种切片方法,其使用线锯,一边对于卷绕在多个线导件上的线供给冷却液,一边使所述线移动,且使硅晶锭压抵于该线并切断该硅晶锭,来得到多片切片晶圆,该切片方法的特征在于,将供给到所述线的冷却液中的铜浓度设为80ppm以下。2.根据权利要求1所述的切片方法,其特征在于,在向所述线供给冷却液之前,预先测定冷却液中的铜浓度,并使用铜浓度是80ppm以下的冷却液。3.根据权利要求1或2所述的切片方法,其特征在于,当将供给到所述线后的冷却液回收到槽内,并且将容置于该槽内的冷却液供给到线...

【专利技术属性】
技术研发人员:北川幸司
申请(专利权)人:信越半导体株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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