用于改善LED的调光的泄放器制造技术

技术编号:13382785 阅读:117 留言:0更新日期:2016-07-21 16:27
泄放电路(1)包括:检测电路(11),用于检测用于馈送发光二极管电路(2)的馈送电流的幅度的值;并且包括引入电路(12),用于引入泄放电流。泄放电流的幅度的值响应于来自检测电路(11)的检测结果进行限定。因此,泄放电路(1)和调光器(4)之间的不利连接得以避免,并且泄放电路(1)可以位于发光二极管电路(2)附近,并且它们可以使用相同的散热器。检测电路(11)可以包括第一电阻器电路(31),并且引入电路(12)可以包括第一晶体管电路(41)。检测电路(11)可以进一步包括用于将第一晶体管电路(41)耦合到第一电阻器电路(31)的第二电阻器电路(32),并且可以包括用于控制第一晶体管电路(41)的运算放大器(51)或者第二晶体管电路(42)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于改善LED的调光的泄放器
本专利技术涉及用于改善发光二极管电路的调光操作的泄放电路。本专利技术还涉及包括该泄放电路的设备。这种设备的示例为包括一个或者多个发光二极管的灯或者灯具。
技术介绍
US2012/0268040A1公开了(§0032、§0035)监视和跟踪进入或者离开调光器的功率的功率包络的边沿的泄放电路。US2010/0090604A1公开了检测和旁通调光器的关闭状态中的泄漏电流的电路。电流由检测电路在调光器和LED驱动电路的电流限制器之间的连接处检测。连接在电流限制器和LED之间的、与LED并联、并且由检测电路控制的有源元件可以旁通来自调光器的泄漏电流。这一配置是复杂的,因为其需要针对检测电路和有源元件的若干附加连接。WO2013/011924A1公开了被提供有检测单元的旁通电路。检测单元监视从调光器接收的电流。当由检测单元检测的电流超过规定的值时,通过旁通电路的电流被中断。这一配置需要与调光器的连接。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供改善的泄放电路。本专利技术的进一步目的是提供设备。根据第一方面,泄放电路被提供用于改善发光二极管电路的调光操作,该泄放电路包括:-检测电路,用于检测电流的幅度值,以及-引入电路,用于引入泄放电流,泄放电流的幅度值响应于来自检测电路的检测结果进行限定,其中检测电路被配置为检测由转换器提供的馈送电流,并且该馈送电流被配置为流过发光二极管电路的至少一部分。用于改善发光二极管电路的调光操作的泄放电路被提供有检测电路,检测电路用于检测被配置为流过发光二极管电路(的至少一部分)的馈送电流的幅度值。这一馈送电路被配置为馈送发光二极管电路(的至少所述部分)。泄放电路被进一步提供有用于引入泄放电流的引入电路。检测电路通知和/或控制引入电路,使得泄放电流的幅度值响应于来自检测电路的检测结果进行限定。换句话说,被配置为流过发光二极管电路(的至少一部分)的馈送电流的幅度值被用于得出馈送电流的幅度值。通常,与用于馈送目的的流过发光二极管电路(的至少一部分)的馈送电流相反,泄放电流不流过发光二极管电路。因此,泄放电路可以位于发光二极管电路附近,而不需要在泄放电路和调光器之间和/或在泄放电路和转换器之间进行任何(附加的)连接。泄放电路仅使用馈送电流的幅度值来用于限定泄放电流的幅度值。这种泄放电路可以例如与发光二极管电路集成在一起,并且泄放电路和发光二极管电路可以例如使用相同的散热器。这些是很大的优势。发光二极管电路包括无论什么种类和无论什么组合的一个或者多个发光二极管。通常,对于馈送电流的幅度的较小值,泄放电流的幅度将具有非零值,并且对于馈送电流的幅度的较大值,泄放电流的幅度将具有零值。在发光二极管电路的其它部分已经被停用的情况下,或者在发光二极管电路的其它部分被以其它方式馈送的情况下,馈送电流仅流过发光二极管电路的一部分。泄放电路的实施例被限定为,馈送电流的幅度的相对大的值导致泄放电流的幅度的相对小的值,且馈送电流的幅度的相对小的值导致泄放电流的幅度的相对大的值。对于诸如从50mA至100mA的馈送电流的幅度的相对大的值,泄放电流的幅度可以例如具有零值。对于诸如分别从0mA至20mA和从20mA至50mA的馈送电流的幅度的相对小的值,泄放电流的幅度可以例如线性和/或非线性地分别从0mA上升到10mA和从10mA下降到0mA。不排除其它值。泄放电路的实施例被限定为,检测电路包括第一电阻器电路,并且引入电路包括第一晶体管电路。泄放电路的这一实施例可以容易地与发光二极管电路集成在一起。泄放电路的实施例被限定为,第一晶体管电路包括单个晶体管或者包括达林顿(Darlington)配置下的两个晶体管。一个晶体管形式的第一晶体管电路是简单、且低成本、且鲁棒的实施例。达林顿配置下的两个晶体管形式的第一晶体管电路提供更多的放大。泄放电路的实施例被限定为,检测电路进一步包括用于将第一晶体管电路耦合到第一电阻器电路的第二电阻器电路,第二电阻器电路耦合到第一晶体管电路的第一主电极。检测电路中的第二电阻器电路将第一电阻器电路经由其它电路间接地、或者之间没有其它电路直接地耦合到第一晶体管电路的第一主电极。泄放电路的实施例被限定为,检测电路进一步包括用于控制第一晶体管电路的运算放大器。运算放大器可以具有内部参考源或者可以使用外部参考源。泄放电路的实施例被限定为,检测电路进一步包括用于控制第一晶体管电路的第二晶体管电路。第二晶体管电路可以包括一个或者多个晶体管。泄放电路的实施例被限定为,第二晶体管电路包括单个晶体管。一个晶体管形式的第二晶体管电路是简单、且低成本、且鲁棒的实施例。泄放电路的实施例被限定为,第二晶体管电路包括差分放大器配置下的两个晶体管和电流镜配置下的两个晶体管。包括差分放大器配置以及电流镜配置的第二晶体管电路相比于一个晶体管实施例将执行得更好。泄放电路的实施例被限定为,检测电路进一步包括用于控制第一晶体管电路的第二晶体管电路,第二电阻器电路经由第二晶体管电路的电极耦合到第一晶体管电路的第一主电极。检测电路中的第二电阻器电路将第一电阻器电路经由第二晶体管电路形式的其它电路间接地耦合到第一晶体管电路的第一主电极。泄放电路的实施例被限定为,第二晶体管电路包括电流镜配置下的两个晶体管。包括电流镜配置的第二晶体管电路将提供好的热稳定性。泄放电路的实施例被限定为进一步包括:-旁通电路,用于在泄放电路的停用期间旁通检测电路的至少一部分。当在泄放电路的停用期间旁通检测电路的至少一部分时,功率消耗减少。泄放电路的实施例被限定为,旁通电路包括并联耦合到检测电路的第一电阻器电路的二极管电路。例如包括一个或者多个二极管的二极管电路形式的旁通电路是简单、且低成本、且鲁棒的实施例。根据第二方面,提供了如下设备,该设备包括如上文限定的泄放电路,并且进一步包括发光二极管电路,泄放电路和发光二极管电路被热耦合。优选地,泄放电路和发光二极管电路被热耦合。当它们之一消散相对多的功率时,通常另一个将消散相对少的功率。设备的实施例被限定为,进一步包括用于提供泄放电流和馈送电流的转换器,一方面的转换器和另一方面的泄放电路和发光二极管电路被热解耦。优选地,一方面的转换器和另一方面的泄放电路和发光二极管电路应该被热解耦,以便在热学上完全分开两个单元。洞察的是,泄放电路应该优选地位于发光二极管电路附近。基本的构思是,泄放电流的幅度值要响应于对被配置为流过发光二极管电路的至少一部分的馈送电流的幅度值的检测进行限定,以避免泄放电路和调光器之间和/或泄放电路和转换器之间的(附加)连接。提供改善的泄放电路的问题得以解决。其它优势是,泄放电路可以与发光二极管电路集成在一起,并且泄放电路和发光二极管电路可以使用相同的散热器。本专利技术的这些方面和其它方面将从下文中描述的实施例中显而易见,并且将参照下文中描述的实施例进行阐明。附图说明在附图中:图1示出了概览,图2示出了泄放电路的第一实施例,图3示出了针对第一实施例的波形,图4示出了泄放电路的第二实施例,图5示出了泄放电路的第三实施例,并且图6示出了泄放电路的第四实施例。具体实施方式在图1中,示出了概览。用于改善发光二极管电路2的调光操作的泄放电路1包括用于检测配置为流过发光二极管电路2的至少一部分的馈送电流的幅度值本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于改善发光二极管电路(2)的调光操作的泄放电路(1),所述泄放电路(1)包括:‑检测电路(11),用于检测电流的幅度的值,以及‑引入电路(12),用于引入泄放电流,所述泄放电流的幅度的值响应于来自所述检测电路(11)的检测结果进行限定,其中所述检测电路被配置为检测由转换器提供的馈送电流,并且所述馈送电流被配置为流过所述发光二极管电路(2)的至少一部分。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.12.05 EP 13195842.31.一种发光二极管设备(1、2、3),包括:-发光二极管电路(2);-泄放电路(1),用于改善所述发光二极管电路(2)的调光操作,所述泄放电路(1)包括:-检测电路(11),用于检测电流的幅度的值;以及-引入电路(12),用于引入泄放电流,所述泄放电流的幅度的值响应于来自所述检测电路(11)的检测结果进行限定,以及-转换器(3),用于提供馈送电流,其中所述检测电路被配置为检测由所述转换器提供的所述馈送电流,并且所述馈送电流被配置为流过所述发光二极管电路(2)的发光二极管,其特征在于,所述泄放电路(1)和所述发光二极管电路(2)的发光二极管被并联连接,并且所述泄放电路(1)和所述发光二极管电路(2)被热耦合。2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述馈送电流的幅度的相对大的值导致所述泄放电流的幅度的相对小的值,并且所述馈送电流的幅度的相对小的值导致所述泄放电流的幅度的相对大的值。3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述检测电路(11)包括第一电阻器电路(31),并且所述引入电路(12)包括第一晶体管电路(41)。4.根据权利要求3所述的设备,所述第一晶体管电路(41)包括单个晶体管或者包括达林顿配置下的两个晶体管。5.根据权利要求3所述的设备,所述检测电路(11)进一步包括用于将所述第一晶体管电路(41)耦合到所述第一电阻器电路(31)的第二电阻器电路(32),所述第二电阻器电路(32)耦合到所述第一晶体管电路(41)的第一主电极。6.根据权利要求5所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:P·T·J·布南B·J·E·洪特勒
申请(专利权)人:飞利浦照明控股有限公司
类型:发明
国别省市:荷兰;NL

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