【技术实现步骤摘要】
201510605472
【技术保护点】
一种集成电路IC器件,包括:IC;密封材料,环绕所述IC;以及多条引线,被耦合至所述IC并从所述密封材料的侧面向外延伸,每条引线均具有三个连续的暴露部分,该三个连续的暴露部分与上弯曲部和下弯曲部一起限定Z形。
【技术特征摘要】
2014.12.10 US 14/565,4841.一种集成电路IC器件,包括:
IC;
密封材料,环绕所述IC;以及
多条引线,被耦合至所述IC并从所述密封材料的侧面向外延伸,
每条引线均具有三个连续的暴露部分,该三个连续的暴露部分与上弯
曲部和下弯曲部一起限定Z形。
2.根据权利要求1所述的IC器件,其中所述密封材料限定底表
面;并且其中每条引线向下延伸使得引线的最低的表面低于所述密封
材料的底表面。
3.根据权利要求1所述的IC器件,其中所述三个连续的部分包
括:
上水平部分;
中间倾斜部分;以及
下水平部分。
4.根据权利要求3所述的IC器件,其中每条引线的所述下水平
部分均水平向外延伸超过所述上弯曲部。
5.根据权利要求3所述的IC器件,其中每条引线的所述下弯曲
部均水平向外与所述密封材料隔开。
6.根据权利要求3所述的IC器件,其中每条引线的所述中间倾
斜部分均以40-50度范围内的角度倾斜。
7.根据权利要求1所述的IC器件,还包括将每条引线耦合至所
述IC的对应接合线。
8.根据权利要求1所述的IC器件,其中所述多条引线被布置为
限定四面扁平封装件(QFP)。
9.一种制造集成电路IC器件的方法,包括:
用密封材料环绕IC;
将多条引线耦合至所述IC;以及
将所述引线形成为从所述密封材料的侧面向外延伸,每条引线均
被形成为具有三个连续的暴露部分,该三个连续的暴露部分与上弯曲
部和下弯曲部一起限定Z形。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述密封材料被形成为限
定底表面,并将每条引线形成为向下延伸,使得引线的最低的表面低
于所述密封材料的底表面。
11.根据权利要求9所述的方法,其中所述三个连续的部分被形
成为:
上水平部分;
中间倾斜部分;以及
下水平部分。
12.根据权利要求11所述的方法,其中每条引线的所述下水平
部分均被形成为向外水平延伸超过所述上弯曲部。
13.根据权利要求11所述的方法,其中每条引线的所述下弯曲
部均被形成为水平向外与所述密封材料隔开。
14.根据权利要求11所述的方法,其中每条引线的所述中间倾
斜部分均以40-50度范围内的角度倾斜。
15.根据权利要求9所述的方法,其中将对应的接合线从每条引
线耦合至所述IC。
16.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:Y·马,KY·吴,张学仁,W·Z·吴,
申请(专利权)人:意法半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:新加坡;SG
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