一种基于Labview控制SPR数据采集分析方法技术

技术编号:13357711 阅读:98 留言:0更新日期:2016-07-17 13:16
本发明专利技术公开一种基于Labview控制SPR(表面等离子体波共振)数据采集分析方法,根据所设置的角度扫描范围,通过上位机指令控制伺服电机的转动对目标物的反射光角度的改变来进行粗扫描,并根据扫描得到的数据自动计算曲线拐点和共振峰位置;根据计算得到的曲线拐点和共振峰位置,自动设置细扫描的位置和最优细扫描参数,控制伺服电机在曲线特征区间段小角度转动,对目标物的反射光角度的改变来进行细扫描;根据细扫描得到的数据,自动计算SPR曲线图特征,包括共振角、共振半峰宽度和共振深度;根据得到的曲线拐点、共振峰位置、共振角、共振半峰宽度和共振深度进行SPR曲线拟合,得到完整的SPR曲线。

【技术实现步骤摘要】
201511017431

【技术保护点】
一种基于Labview控制SPR数据采集分析方法,其特征在于,包括以下步骤:根据所设置的角度扫描范围,通过上位机指令控制伺服电机的转动对目标物的反射角度的改变来进行粗扫描,并根据扫描得到的数据自动计算曲线拐点和共振峰位置;根据计算得到的拐点和共振峰位置,自动设置细扫描的位置和细扫描参数,通过上位机指令控制伺服电机的转动对目标物的反射角度的改变来进行细扫描;根据细扫描得到的数据,自动计算SPR曲线图特征,包括共振角、共振半峰宽度和共振深度;根据得到的曲线拐点、共振峰位置、共振角、共振半峰宽度和共振深度进行SPR曲线拟合,得到完整的SPR曲线。

【技术特征摘要】
1.一种基于Labview控制SPR数据采集分析方法,其特征在于,包括
以下步骤:
根据所设置的角度扫描范围,通过上位机指令控制伺服电机的转动对目
标物的反射角度的改变来进行粗扫描,并根据扫描得到的数据自动计算曲线
拐点和共振峰位置;
根据计算得到的拐点和共振峰位置,自动设置细扫描的位置和细扫描参
数,通过上位机指令控制伺服电机的转动对目标物的反射角度的改变来进行
细扫描;
根据细扫描得到的数据,自动计算SPR曲线图特征,包括共振角、共振
半峰宽度和共振深度;
根据得到的曲线拐点、共振峰位置、共振角、共振半峰宽度和共振深度
进行SPR曲线拟合,得到完整的SPR曲线。
2.根据权利要求1所述的基于Labview控制SPR数据采集分析方法,
其特征在于,对得到的数据进行SPR曲线拟合的流程包括:
根据计算得到的拐点和共振峰位置将所要拟合的SPR曲线分成三段;
针对每段曲线,分别采用最小绝对差拟合、最小二乘法拟合和Bisquare
拟合方法,其中在拟合的过程中,通过调整拟合阶数、容差等参数和选择SVD、
Givens、Lu分解、Cholesky、Householder等算法来判断最小残差;
从三种拟合方法中选择最优拟合方法,并根据所选择的最优拟合方法建
立SPR曲线的拟合计算公式。
...

【专利技术属性】
技术研发人员:郝红霞李志辉
申请(专利权)人:中国政法大学
类型:发明
国别省市:北京;11

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