一种信号测试方法、被测设备和信号测试系统技术方案

本发明专利技术提出一种信号测试方法、被测设备和信号测试系统。方法包括：接收测试码型信号；在接口芯片环回所述测试码型信号，并通过被测接口输出环回后测试码型信号；其中输出的所述环回后测试码型信号被执行对应于测试码型信号的测试项目。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信
，特别是一种信号测试方法、被测设备和信号测试系统。
技术介绍
随着高速数据传输技术的普遍应用，国际标准中对于被测设备（比如单板）的高 速接口输出点的电信号参数范围已经给出明确的定义。测试高速接口输出点的电信号参数 是为了验证被测设备设计是否与标准一致，这也是高速接口电信号一致性测试的由来。 如果不同厂家的设备都能满足相应的测试参数要求，那么这些设备之间可以进行 可靠的互连互通。反之，如果有设备不能满足相应的测试参数要求，可能出现设备间的互连 互通问题。 在现有技术中，当被测设备的接口芯片支持测试项目的测试码型信号时，接口芯 片自身产生并通过被测接口输出测试码型信号到测试设备，以由测试设备完成测试项目。 然而，当接口芯片不支持测试项目的测试码型信号时，接口芯片无法产生测试码型信号，因 此也就无法完成测试项目。不能完成测试项目的被测设备具有不满足标准要求的可能性， 跟其他设备对接时可能出现互连互通的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提出一种信号测试方法、被测设备和信号测试系统，从而实现测 试。 本专利技术实施方式的技术方案如下： 根据本专利技术实施方式的一方面，提出一种信号测试方法，该方法应用于包含被测 接口和接口芯片的被测设备，该方法包括： 接收测试码型信号； 在所述接口芯片环回所述测试码型信号，并通过所述被测接口输出环回后测试码 型信号； 其中输出的所述环回后测试码型信号被执行对应于所述测试码型信号的测试项 目。 优选地，在接收测试码型信号之后，该方法还包括：确定所述接口芯片是否支持所 述测试码型信号；其中： 当所述接口芯片支持所述测试码型信号时，发出告警提示，并由所述接口芯片生 成所述测试码型信号，通过所述被测接口输出接口芯片生成的所述测试码型信号，其中接 口芯片生成的所述测试码型信号被执行对应于所述测试码型信号的测试项目，结束本流 程。 优选地，所述确定接口芯片是否支持所述测试码型信号包括： 访问所述接口芯片的配置寄存器以获取所述接口芯片支持的测试码型信号列 表； 判断所述测试码型信号是否属于所述接口芯片支持的测试码型信号列表，以确定 接口芯片是否支持所述测试码型信号。 根据本专利技术实施方式的另一方面，提出一种被测设备，该被测设备包含被测接口 和接口芯片，所述被测接口包括接收端和发送端，其中： 接收端，用于接收测试码型信号，并将所述测试码型信号传输给接口芯片； 接口芯片，用于环回所述测试码型信号，并将环回后测试码型信号传输到发送 端； 发送端，用于输出环回后测试码型信号； 其中输出的所述环回后测试码型信号被执行对应于所述测试码型信号的测试项 目。 优选地，所述被测接口包括：小封装可插拔（SFP)接口、SFP+接口或快速小封装可 插拔（QSFP)接口。 优选地，接口芯片为媒体访问控制（MAC)芯片或物理层（PHY)芯片。 根据本专利技术实施方式的另一方面，提出一种信号测试系统，包括： 信号提供装置，用于提供测试码型信号； 包含被测接口和接口芯片的被测设备，用于接收测试码型信号，在所述接口芯片 环回所述测试码型信号，并通过被测接口输出环回后测试码型信号； 测试设备，用于对环回后测试码型信号执行对应于所述测试码型信号的测试项 目； 所述信号提供装置与所述被测设备连接，所述被测设备与所述测试设备连接。 优选地，在信号提供装置与被测设备之间还包括夹具； 所述夹具，用于将信号提供装置提供的测试码型信号引入到所述被测设备。 优选地，被测设备，用于访问接口芯片的配置寄存器以获取接口芯片支持的测试 码型信号列表；将预定测试项目所包含的测试码型信号列表与接口芯片支持的测试码型信 号列表进行对比，以确定接口芯片不支持的测试码型信号，并将被测接口不支持的测试码 型信号的标识发送到信号提供装置； 信号提供装置，用于基于标识提供被测接口不支持的测试码型信号。 优选地，所述测试设备为示波器。 在本专利技术中，被测设备接收测试码型信号；在被测设备的接口芯片环回测试码型 信号，并通过被测接口输出环回后的测试码型信号；其中环回后的测试码型信号被执行对 应于测试码型信号的测试项目。由此可见，即使被测设备的接口芯片不支持测试项目的测 试码型信号，本专利技术实施方式仍然能够执行测试项目。【附图说明】 图1为根据本专利技术的信号测试方法流程图； 图2为根据本专利技术实施方式的信号测试方法流程图； 图3为本专利技术信号实施方式的测试系统结构图； 图4为本专利技术实施方式的被测设备的结构图。【具体实施方式】 为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本专利技术作进一步 的详细描述。 被测设备的接口芯片（如MAC芯片或PHY芯片，等等）基本支持环回功能。本发 明实施方式利用被测设备的接口芯片支持环回功能这一特性提出一种信号测试实施方案。 在本专利技术实施方式中，被测设备的接口芯片无需主动产生测试项目所对应的测试码型信号 即可完成测试项目。被测设备接收测试码型信号源发出的测试码型信号，然后在被测设备 的接口芯片环回该测试码型信号，并且通过被测接口输出环回后测试码型信号以完成测试 项目。可见，即使被测设备的接口芯片不支持测试项目的测试码型信号，本专利技术实施方式仍 然能够完成测试项目。 图1为根据本专利技术的信号测试方法流程图。 如图1所示，该方法包括： 步骤101 :被测设备接收测试码型信号。 被测设备通常包含被测接口和接口芯片。 在一个实施方式中，测试码型信号源发出测试项目所对应的测试码型信号，被测 设备通过被测接口接收测试码型信号源发出的测试码型信号。可选地，被测设备还可以通 过不同于被测接口的其它接口从测试码型信号源接收测试码型信号。 步骤102 :被测设备在接口芯片环回测试码型信号，并通过被测接口发送环回后 测试码型信号。 在这里，被测设备在接口芯片环回接收到的测试码型信号，并经由被测接口将环 回后测试码型信号发送到测试设备。优选地，测试设备可以具体实施为示波器，比如高带宽 不波器，等等。 步骤103 :测试设备对环回后测试码型信号执行对应于测试码型信号的测试项 目。 测试设备从被测设备接收到环回后测试码型信号后，可以执行对应于测试码型信 号的测试项目。 基于一致性测试标准的相应规定，测试项目可能有多种，而且每种测试项目可以 对应于有一或多种测试码型信号。针对对应于多种测试码型信号的测试项目，可以任意选 择一种相对应的测试码型信当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信号测试方法，其特征在于，该方法应用于包含被测接口和接口芯片的被测设备，该方法包括：接收测试码型信号；在所述接口芯片环回所述测试码型信号，并通过所述被测接口输出环回后测试码型信号；其中输出的所述环回后测试码型信号被执行对应于所述测试码型信号的测试项目。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐涛，武广，
申请(专利权)人：杭州华三通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33