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一种气体检测室制造技术

技术编号:13225902 阅读:92 留言:0更新日期:2016-05-13 10:29
本发明专利技术公开了一种气体检测室,包括第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2),所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)的横截面为直角三角形,所述第一全反射透镜(1)的斜面与所述第二全反射透镜(2)的斜面相对设置。本发明专利技术的气体检测室可以在保证较长测量光程的情况下,有效降低气体检测室的体积,且制作成本较低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于气体传感器领域,涉及一种气体检测室
技术介绍
在现代生产、生活中,随着人们生活水平的提高,人类对生态环境净化的要求也越来越高,因此对于空气中的有害气体的实时检测显得尤为重要。尤其是像煤炭和化工等领域,对空气中有毒、有害气体的监测预报是亟待解决的问题。而光纤气体传感器在此领域内的应用及研究正蓬勃发展。光纤气体传感器的监测环境可以是开放性测量,也可以是抽气检测,气室测量光程越长精度越高。当气室测量光程较长时,所需气室的体积大,制作成本较高,且激光波长受限。因此,需要一种新的气体检测室以解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对在现有技术中的气体传感器的气室的缺陷,提供一种新的气体检测室。为实现上述专利技术目的,本专利技术的气体检测室可采用如下技术方案: 一种气体检测室,包括第一全反射透镜和第二全反射透镜,所述第一全反射透镜和第二全反射透镜的横截面为直角三角形,所述第一全反射透镜的斜面与所述第二全反射透镜的斜面相对设置。更进一步的,所述第一全反射透镜的斜面与所述第二全反射透镜的斜面平行设置。更进一步的,所述第一全反射透镜和第二全反射透镜的横截面均为直角等腰三角形。更进一步的,所述第一全反射透镜和第二全反射透镜的横截面大小完全相同。更进一步的,所述第一全反射透镜和第二全反射透镜的直角边分别位于长方形对角线的两端。更进一步的,所述第一全反射透镜的斜面与所述第二全反射透镜的斜面上均镀膜。降低透镜的反射。更进一步的,还包括外壳,所述外壳的内侧两端均设置有凹槽,所述第一全反射透镜和第二全反射透镜均设置在所述凹槽中,所述外壳的两端分别设置有第一准直镜和第二准直器,所述第一准直镜和第二准直器分别对准所述第一全反射透镜和第二全反射透镜的斜面。更进一步的,所述凹槽内设置有高度调节装置。可以用于调节第一全反射透镜和第二全反射透镜的斜面之间偏差的距离,调节光程的距离。更进一步的,所述第一全反射透镜和第二全反射透镜均包括以下重量组分的原料:70份S12、11份B2O3、3份 BaO、1份Na2O、6.3份K2O、0.4份As2O3、0.9份CaF2和0.5份Ge。本专利技术的透镜材料是申请人经过长期试验结果得出的较佳的组分,由其制备得到的透镜材料具有优异的透过率,很适合用于本专利技术的气体检测室中,可以将透镜吸收光的误差降至最低,并且具有优异的抗激光损伤特性。有益效果:本专利技术的气体检测室可以在保证较长测量光程的情况下,有效降低气体检测室的体积,且制作成本较低。【附图说明】图1是本专利技术的气体检测室中第一全反射透镜和第二全反射透镜的示意图; 图2是本专利技术的气体检测室的结构示意图。【具体实施方式】下面结合具体实施例,进一步阐明本专利技术,应理解这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围,在阅读了本专利技术之后,本领域技术人员对本专利技术的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。请参阅图1和图2所示,本专利技术的气体检测室,包括第一全反射透镜I和第二全反射透镜2,第一全反射透镜I和第二全反射透镜2的横截面为直角三角形,第一全反射透镜I的斜面与第二全反射透镜2的斜面相对设置。优选的,第一全反射透镜I的斜面与第二全反射透镜2的斜面平行设置。第一全反射透镜I和第二全反射透镜2的横截面均为直角等腰三角形。第一全反射透镜I和第二全反射透镜2的横截面大小完全相同。第一全反射透镜I和第二全反射透镜2的直角边分别位于长方形对角线的两端。第一全反射透镜I的斜面与第二全反射透镜2的斜面上均镀膜,可以针对不同的激光设置不同的镀膜层,降低透镜的反射。还包括外壳7,外壳7的内侧两端均设置有凹槽,第一全反射透镜I和第二全反射透镜2均设置在凹槽中,外壳7的两端分别设置有第一准直镜3和第二准直器4,第一准直镜3和第二准直器4分别对准第一全反射透镜I和第二全反射透镜2的斜面。凹槽内设置有高度调节装置6,7。可以用于调节第一全反射透镜和第二全反射透镜的斜面之间偏差的距离,调节光程的距离。第一全反射透镜I和第二全反射透镜2均包括以下重量组分的原料:70份Si02、11份B203、3份BaO、10份Na20、6.3份K20、0.4份As203、0.9份CaF2和0.5份Ge。本专利技术的透镜材料是申请人经过长期试验结果得出的较佳的组分,由其制备得到的透镜材料具有优异的透过率,很适合用于本专利技术的气体检测室中,可以将透镜吸收光的误差降至最低。实施例1: 本专利技术的第一全反射透镜I和第二全反射透镜2均包括以下重量组分的原料:70千克S12、11千克B2O3、3千克BaO、10千克Na20、6.3千克K20、0.4千克As2O3、0.9千克CaF2和0.5千克Ge。实验测试:本专利技术的透镜材料的透过率高于市售Κ9玻璃的透过率10%以上,而本专利技术对于各组分的误差要求不高,同时本专利技术的透镜材料具有优异的抗激光损伤特性。本专利技术的透镜材料是申请人经过长期试验结果得出的较佳的组分,由其制备得到的透镜材料具有优异的透过率,很适合用于本专利技术的气体检测室中,可以将透镜吸收光的误差降至最低。本专利技术的气体检测室可以在保证较长测量光程的情况下,有效降低气体检测室的体积,且制作成本较低。【主权项】1.一种气体检测室,其特征在于:包括第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2),所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)的横截面为直角三角形,所述第一全反射透镜(1)的斜面与所述第二全反射透镜(2)的斜面相对设置。2.如权利要求1所述的气体检测室,其特征在于:所述第一全反射透镜(1)的斜面与所述第二全反射透镜(2)的斜面平行设置。3.如权利要求1所述的气体检测室,其特征在于:所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2 )的横截面均为直角等腰三角形。4.如权利要求1所述的气体检测室,其特征在于:所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)的横截面大小完全相同。5.如权利要求1所述的气体检测室,其特征在于:所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)的直角边分别位于长方形对角线的两端。6.如权利要求1所述的气体检测室,其特征在于:所述第一全反射透镜(1)的斜面与所述第二全反射透镜(2)的斜面上均镀膜。7.如权利要求1所述的气体检测室,其特征在于:还包括外壳(7),所述外壳(7 )的内侧两端均设置有凹槽,所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)均设置在所述凹槽中,所述外壳(7)的两端分别设置有第一准直镜(3)和第二准直器(4),所述第一准直镜(3)和第二准直器(4)分别对准所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)的斜面。8.如权利要求7所述的气体检测室,其特征在于:所述凹槽内设置有高度调节装置(6,7)。9.如权利要求1所述的气体检测室,其特征在于:所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)均包括以下重量组分的原料:70份Si02、ll份B203、3份Ba0、10份Na20、6.3份K20、.0.4份As2O3、0.9份CaF2和0.5份Ge。【专利摘要】本专利技术公开了一种气体检测室,包括第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2),所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)的横截面为直角三角形,所述第一全反射透镜(1)的斜面与所述第二全反射透镜(2)的斜面相对设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种气体检测室,其特征在于:包括第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2),所述第一全反射透镜(1)和第二全反射透镜(2)的横截面为直角三角形,所述第一全反射透镜(1)的斜面与所述第二全反射透镜(2)的斜面相对设置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:司峻峰金勇
申请(专利权)人:南京大学南京北路自动化系统有限责任公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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