一种过流监控电路制造技术

技术编号:13218724 阅读:99 留言:0更新日期:2016-05-12 23:53
本实用新型专利技术实施例的目的在于提供一种过流监控电路,包括比较电路、降压电路、被检测模块和电流检测单元;所述比较电路包括-IN输入管脚和+IN输入管脚和控制管脚,所述控制管脚连接于所述降压电路,当所述-IN输入管脚和所述+IN输入管脚的电压一致时,所述比较电路控制降压电路正常工作;当所述+IN输入管脚的电压小于所述-IN输入管脚的电压时,所述比较电路控制所述降压电路停止工作;所述电流检测单元用于当所述被检测模块短路时,所述电流检测单元拉低所述-IN输入管脚的电压。本方案能够应用在芯片量产测试中,实现芯片测试的过流保护、保证测试设备的安全运行。

Overcurrent monitoring circuit

The embodiment of the utility model is to provide a current monitoring circuit, a comparison circuit, including buck circuit, current detection module and the detection unit; the comparison circuit includes -IN input pins and +IN input pins and control pins, the control pin is connected to the circuit, when the the -IN input pin and the +IN pin of the same input voltage, the comparison circuit control circuit work normally; when the +IN input voltage pin is smaller than that of the -IN input voltage pin, the comparison circuit to control the step-down circuit stops the current detection; when the unit is used for the module circuit is detected, the current detecting unit pulled the -IN input voltage pin. This scheme can be used in the chip production test, to achieve the over-current protection of the chip test, to ensure the safe operation of the test equipment.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子电路
,具体涉及一种过流监控电路
技术介绍
随着科学技术的发展,集成电路芯片的使用越来越广泛,因此,大批量的芯片需求对芯片生产和测试的可靠性和一致性要求越来越高。芯片测试,作为检验芯片是否合格的重要手段,既要求快速高效,又要求保证测试的安全可靠。因为芯片在生产过程中,晶圆或封装不良容易导致芯片短路,测试过程中如果不及时采取保护措施,就会造成测试板的损坏或引发测试设备故障,从而影响测试效率和进度。
技术实现思路
本技术实施例的目的在于提供一种过流监控电路,能够应用在芯片量产测试中,实现芯片测试的过流保护、保证测试设备的安全运行。本技术实施例是这样实现的,一种过流监控电路,包括比较电路101、降压电路102、被检测模块103和电流检测单元104;所述比较电路包括-IN输入管脚和+IN输入管脚和控制管脚,所述控制管脚连接于所述降压电路,当所述-IN输入管脚和所述+IN输入管脚的电压一致时,所述比较电路控制降压电路正常工作;当所述+IN输入管脚的电压小于所述-IN输入管脚的电压时,所述比较电路控制所述降压电路停止工作;所述电流检测单元用于当所述被检测模块短路时,所述电流检测单元拉低所述-IN输入管脚的电压。进一步地,所述监控电路还包括一控制器,所述控制器用于控制所述比较电路的工作与关闭。进一步地,所述比较电路由LMV761芯片构成。进一步地,所述降压电路为线性电源,所述线性电源包括一输入端和一输出端,还包括一控制端,所述控制端与所述比较电路的控制管脚相连。进一步地,所述线性电源为线性稳压源TPS79933。进一步地,还包括外部供电第一电源VCC、第二电源VDD和前端被监测模块供电电源VDDPST,第一电源VCC经一线性稳压源TPS79933稳压之后接一组电流检测电阻R5、R6及电容C7和C8滤波之后,接至前端被监测模块供电电源VDDPST;前端被监测模块供电电源VDDPST经一电阻分压网络连接LMV761芯片的+IN引脚;第二电源VDD经一电阻分压网络连接LMV761芯片的-IN引脚;LMV761芯片的V+引脚连接外部供电电源VDD(+3.3V),并由电容C2接地;LMV761芯片的V-引脚接地;LMV761芯片的控制管脚由一上拉电阻R1连接第二电源VDD,同时连接线性稳压源TPS79933的EN引脚;LMV761芯片的引脚连接控制器的控制信号Power_Start;线性稳压源TPS79933的EN引脚和NR引脚分别由电容C5和电容C6接地。采用上述方案,本技术具有如下有益效果:能够实现短路等过流信号的实时监测,快速关断测试电源,有效保护测试设备,通过MCU操控测试过程的恢复,该电路能为芯片量产测试的可靠性以及测试设备的安全运行提供有力保障。附图说明通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:图1是本技术提供的一种实施例的电路框图;图2是本技术提供的另一种实施例的电路原理图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关技术,而非对该技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与有关技术相关的部分。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。如图1所示,本实施例提供的过流监控电路包括:一种过流监控电路,包括比较电路、降压电路、被检测模块和电流检测单元;所述比较电路包括-IN输入管脚和+IN输入管脚和控制管脚,所述控制管脚连接于所述降压电路,当所述-IN输入管脚和所述+IN输入管脚的电压一致时,所述比较电路控制降压电路正常工作;当所述+IN输入管脚的电压小于所述-IN输入管脚的电压时,所述比较电路控制所述降压电路停止工作;所述电流检测单元用于当所述被检测模块短路时,所述电流检测单元拉低所述-IN输入管脚的电压。具体来说,当被检测模块短路时,电流检测单元可以及时发现短路,并拉低-IN输入管脚的电压,比较器发现-IN输入管脚和+IN输入管脚的电压不一致时,控制管脚会发出控制信号,该控制信号用于关断降压电路的工作,这样就能保证测试装置的电源关闭,而不会发生烧坏的可能。本技术提供另一实施例,该监控电路还包括一控制器,所述控制器用于控制所述比较电路的工作与关闭。整个监控电路组成如下,比较电路由LMV761芯片构成,所述降压电路为线性电源,所述线性电源包括一输入端和一输出端,还包括一控制端,所述控制端与所述比较电路的控制管脚相连。线性电源为线性稳压源TPS79933,外部供电第一电源VCC为+5V和第二电源VDD为+3.3V、前端被监测模块供电电源VDDPST、另外电路还包括电阻R1~R7、电容C1~C8。结合图2所示,本实施例的工作过程及原理如下:其中,LMV761芯片的各引脚的名称及功能说明见下表:外部供电电源VCC(+5V)经一线性稳压源TPS79933稳压之后,能够输出稳定的+3.3V电压给前端被监测模块供电,保证芯片测试设备的可靠运行。LMV761芯片的-IN引脚由外部供电电源VDD(+3.3V)经一电阻分压网络输入一稳定的电压1.582V。前端被监测模块供电电源+3.3V经一电阻分压网络连接至LMV761芯片的+IN引脚,并设计该电压高于LMV761芯片的-IN引脚的输入电压1.582V,保持LMV761芯片的OUT引脚输出为高电平,维持线性稳压源TPS79933正常工作。一旦前端被监测模块发生短路,供电线路中的一组电流检测电阻R5、R6所分得电压变大,从而引起LMV761芯片的+IN引脚输入电压减小。一旦LMV761芯片的+IN引脚输入电压小于LMV761芯片的-IN引脚的输入电压1.582V,LMV761芯片的OUT引脚输出为低电平,从而使线性稳压源TPS79933的EN引脚为低电平,及时关断线性稳压源TPS79933。在出现一次过流保护之后,线性稳压源TPS79933处于关断状态。LMV761芯片的引脚连接MCU的控制信号Power_Start,通过MCU输出一个低电平控制信号Power_Start拉低LMV761芯片的引脚,从而使LMV761芯片进入低功耗ShutdownMode,从而使LMV761芯片的OUT引脚本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种过流监控电路,其特征在于,包括比较电路、降压电路、被检测模块和电流检测单元;所述比较电路包括‑IN输入管脚和+IN输入管脚和控制管脚,所述控制管脚连接于所述降压电路,当所述‑IN输入管脚和所述+IN输入管脚的电压一致时,所述比较电路控制降压电路正常工作;当所述+IN输入管脚的电压小于所述‑IN输入管脚的电压时,所述比较电路控制所述降压电路停止工作;所述电流检测单元用于当所述被检测模块短路时,所述电流检测单元拉低所述‑IN输入管脚的电压。

【技术特征摘要】
1.一种过流监控电路,其特征在于,包括比较电路、降压电路、被检测模
块和电流检测单元;
所述比较电路包括-IN输入管脚和+IN输入管脚和控制管脚,所述控制管脚
连接于所述降压电路,当所述-IN输入管脚和所述+IN输入管脚的电压一致时,
所述比较电路控制降压电路正常工作;当所述+IN输入管脚的电压小于所述-IN
输入管脚的电压时,所述比较电路控制所述降压电路停止工作;
所述电流检测单元用于当所述被检测模块短路时,所述电流检测单元拉低
所述-IN输入管脚的电压。
2.根据权利要求1所述的过流监控电路,其特征在于,所述监控电路还包
括一控制器,所述控制器用于控制所述比较电路的工作与关闭。
3.根据权利要求1或2所述的过流监控电路,其特征在于,所述比较电路
由LMV761芯片构成。
4.根据权利要求3所述的过流监控电路,其特征在于,所述降压电路为线
性电源,所述线性电源包括一输入端和一输出端,还包括一控制端,所述控制
端与所述比较电路的控制管脚相连。
5.根据权利要求4所述的过...

【专利技术属性】
技术研发人员:夏大叶张巍周倩
申请(专利权)人:珠海中慧微电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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