用于精密量测的多CCD量测设备制造技术

技术编号:13214559 阅读:42 留言:0更新日期:2016-05-12 19:51
本实用新型专利技术公开了一种用于精密量测的多CCD量测设备,包括测量平台(6)、工作平台(5)、X向导轨(2)、Y向导轨(3)以及控制器,X向导轨(2)、Y向导轨(3)位于测量平台(6)的上方,X向导轨(2)、Y向导轨(3)均设置有若干条,若干条X向导轨(2)与若干条Y向导轨(3)交错设置,每条X向导轨(2)和每条Y向导轨(3)上均套嵌有固定支架(4),每个固定支架(4)上设置有一个CCD相机(1),所有的CCD相机与控制器连接,所有的CCD相机(1)同时取像。本实用新根据所测量的产品确定CCD相机的数量以及X、Y向导轨的数量,由于采用了多CCD相机同时取点成像,大大的提高了量测效率,提高了产能,且此设备构造简单,成本低。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种量测设备,尤其涉及一种用于精密量测的多CCD量测设备
技术介绍
于2015.03.25公告的、授权公告号为CN 204228110U的中国技术专利中,该技术公开了一种圆周量测仪,包括Y轴、线缆保护链、旋转电机、工件定位治具、行星减速机、龙门X轴、CCD相机、位移传感器、载具模块、操作台,实际使用时,操作人员把需要测试的工件通过工件定位治具固定后,载具模块带动工件沿Y轴朝内移动,同时,龙门X轴上的CCD相机、位移传感器移动到载有工件的载具模块一侧上方,当工件正好位于CCD相机、位移传感器可量测范围内时,旋转电机带动工件旋转并开始测量,另一侧Y轴将其上的载具模块移动到操作台前端,方便作业员放入工件,如此循环,两侧的Y轴交叉进行测量。由于该技术使用一个CCD相机,通过x、y双向导轨移动取像,再利用光学尺量测移动距离数据,通过配套软件进行相关计算,最终测量出所需数值,此种方法在尺寸精度上满足目前所需,但受其操作特点限制,存在如下缺点:①量测时间较长,产能低。由于只有一个CCD,量测取像时只能逐个依次取点量测,导致花费时间长。②设备成本较高。
技术实现思路
为克服上述缺点,本技术的目的在于提供一种节约设备成本、提高量测效率、提高产能的用于精密量测的多CCD量测设备。为了达到以上目的,本技术采用的技术方案是:一种用于精密量测的多CCD量测设备,包括测量平台、工作平台、X向导轨、Y向导轨以及控制器,所述测量平台设置在工作平台的上表面,所述X向导轨、Y向导轨位于测量平台的上方,所述X向导轨、Y向导轨均设置有若干条,若干条所述X向导轨与若干条Y向导轨交错设置,每条所述X向导轨和每条Y向导轨上均套嵌有固定支架,每个固定支架上设置有一个CCD相机,所有的所述CCD相机均与控制器连接,所有的所述CCD相机同时取像。本技术的有益效果是,根据所测量的产品确定CCD相机的数量以及X、Y向导轨的数量,由于此设备采用了多CCD相机同时取点成像,克服了现有量测仪依次逐点取像时的移动所花费的时间,大大的提高了量测效率,提高了产能,且此设备构造简单,成本低。作为本技术的进一步改进是,每个所述固定支架均能沿其套嵌的导轨移动,并通过锁紧螺丝锁紧固定。可根据量测数据,将各相机利用x、Y向移动导轨定位到所需尺寸后,使用锁紧螺丝锁死支架,适用性强。作为本技术的进一步改进是,每条所述X向导轨、Y向导轨均设置有刻度。刻度能让操作人员记录,便于下次测量同样的产品,能快速的将CCD相机调至所需位置,并锁紧固定。优选地,每个所述CCD相机均连接有一台显示器。便于让操作人员直观的看到偏差的数据。【附图说明】图1为本实施例的结构示意图。图中:1-相机;2-X向导轨;3-Y向导轨;4-固定支架;5_工作平台;6_测量平台。【具体实施方式】下面结合附图对本技术的较佳实施例进行详细阐述,以使本技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。参见附图1所示,本实施例中的一种用于精密量测的多CCD量测设备,包括测量平台6、工作平台5、X向导轨2、Y向导轨3以及控制器,测量平台6设置在工作平台5的上表面,X向导轨2、Υ向导轨3位于测量平台6的上方,其中,X向导轨2、Υ向导轨3均设置有两条,当然也可以根据产品的实际情况,来设定X向导轨2、Υ向导轨3相应的数量,本实施两条X向导轨2与两条Y向导轨3交错设置,形成“井”字形,每条X向导轨2和每条Y向导轨3上均套嵌有固定支架4,每条X向导轨2、每条Y向导轨3均设置有刻度,且每个固定支架4均能沿其套嵌的导轨移动,并通过锁紧螺丝锁紧固定。每个固定支架4上设置有一个CCD相机I,所有的CCD相机I均与控制器连接,所有的CCD相机I同时取像。为了便于操作人员查看偏差的数据,则每个CCD相机I均连接有一台显示器,偏差的数据能在现实器上显示出来。具体实施时,将CCD相机I固定在可移动的固定支架4上,根据量测数据,将各CCD相机I利用固定支架4沿与其对应的Χ、Υ向导轨2、3移动,移动至所需位置后,再使用锁紧螺丝锁死支架4,将所需测量的产品放置在测量平台6上进行量测,量测时多个CCD相机I同时取像,根据实际取像的偏差计算出产品的量测数值。以上实施方式只为说明本技术的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人了解本技术的内容并加以实施,并不能以此限制本技术的保护范围,凡根据本技术精神实质所做的等效变化或修饰,都应涵盖在本技术的保护范围内。【主权项】1.一种用于精密量测的多CCD量测设备,包括测量平台(6)、工作平台(5)、X向导轨(2)、Y向导轨(3)以及控制器,所述测量平台(6)设置在工作平台(5)的上表面,所述X向导轨(2)、Y向导轨(3)位于测量平台(6)的上方,其特征在于:所述X向导轨(2)、Y向导轨(3)均设置有若干条,若干条所述X向导轨(2)与若干条Y向导轨(3)交错设置,每条所述X向导轨(2)和每条Y向导轨(3)上均套嵌有固定支架(4),每个固定支架(4)上设置有一个CCD相机(I),所有的所述CCD相机(I)均与控制器连接,所有的所述CCD相机(I)同时取像。2.根据权利要求1所述的用于精密量测的多CCD量测设备,其特征在于:每个所述固定支架(4)均能沿其套嵌的导轨移动,并通过锁紧螺丝锁紧固定。3.根据权利要求2所述的用于精密量测的多CCD量测设备,其特征在于:每条所述X向导轨(2)、Υ向导轨(3)均设置有刻度。4.根据权利要求1或2或3所述的用于精密量测的多CCD量测设备,其特征在于:每个所述C⑶相机(I)均连接有一台显示器。【专利摘要】本技术公开了一种用于精密量测的多CCD量测设备,包括测量平台(6)、工作平台(5)、X向导轨(2)、Y向导轨(3)以及控制器,X向导轨(2)、Y向导轨(3)位于测量平台(6)的上方,X向导轨(2)、Y向导轨(3)均设置有若干条,若干条X向导轨(2)与若干条Y向导轨(3)交错设置,每条X向导轨(2)和每条Y向导轨(3)上均套嵌有固定支架(4),每个固定支架(4)上设置有一个CCD相机(1),所有的CCD相机与控制器连接,所有的CCD相机(1)同时取像。本实用新根据所测量的产品确定CCD相机的数量以及X、Y向导轨的数量,由于采用了多CCD相机同时取点成像,大大的提高了量测效率,提高了产能,且此设备构造简单,成本低。【IPC分类】G01D21/00【公开号】CN205228506【申请号】CN201521065644【专利技术人】徐登峰 【申请人】昆山昆尚电子科技有限公司【公开日】2016年5月11日【申请日】2015年12月18日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于精密量测的多CCD量测设备,包括测量平台(6)、工作平台(5)、X向导轨(2)、Y向导轨(3)以及控制器,所述测量平台(6)设置在工作平台(5)的上表面,所述X向导轨(2)、Y向导轨(3)位于测量平台(6)的上方,其特征在于:所述X向导轨(2)、Y向导轨(3)均设置有若干条,若干条所述X向导轨(2)与若干条Y向导轨(3)交错设置,每条所述X向导轨(2)和每条Y向导轨(3)上均套嵌有固定支架(4),每个固定支架(4)上设置有一个CCD相机(1),所有的所述CCD相机(1)均与控制器连接,所有的所述CCD相机(1)同时取像。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐登峰
申请(专利权)人:昆山昆尚电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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