本实用新型专利技术公开了一种行星齿轮球面检测量具，包括半圆环形的定位底座（1）和行星齿轮（2），所述定位底座（1）的中部穿有一定位芯轴（6），行星齿轮（2）套在定位芯轴（6）位于定位底座（1）内侧的一端，行星齿轮（2）的球面与定位底座（1）的内表面接触；所述定位底座（1）的外表面可拆卸安装有内百分表（3）和外百分表（8），内百分表（3）的检测端与行星齿轮（2）的球面的内端接触，外百分表（8）的检测端与行星齿轮（2）的球面的外端接触。本实用新型专利技术采用两个百分表对比检测行星齿轮球面截面圆弧的内外两点与标准圆的径向位置的偏差值，来确定球面的尺寸偏差，检测结果精确度高。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种行星齿轮球面检测量具，主要用于检测行星齿轮球面的尺寸偏差。
技术介绍
行星齿轮在使用之前必须对其球面的尺寸偏差进行检测，目前常用的方法为将行星齿轮放入一个有标准圆弧的检测器具内，若是能够紧凑的置入，则算合格，然而该方法只能较为粗略的进行检测，对于较小的偏差则难以检测出来。
技术实现思路
本技术为了解决目前对行星齿轮球面进行检测的器具难以进行精细检测的问题，为此提供了一种行星齿轮球面检测量具，包括半圆环形的定位底座I和行星齿轮2，所述定位底座I的中部穿有一定位芯轴6，行星齿轮2套在定位芯轴6位于定位底座I内侧的一端，行星齿轮2的球面与定位底座I的内表面接触;所述定位底座I的外表面可拆卸安装有内百分表3和外百分表8，内百分表3的检测端与行星齿轮2的球面的内端接触，外百分表8的检测端与行星齿轮2的球面的外端接触。其中，所述定位底座I的内表面弧面为标准圆弧。本技术行星齿轮球面检测量具，所述定位芯轴6通过顶部的第一螺栓4固定在定位底座I上。本技术行星齿轮球面检测量具，所述内百分表3和外百分表8通过侧面的第二螺栓7固定在定位底座I上。本技术行星齿轮球面检测量具，还包括在校准时，与定位底座I配合使用的对比样板9，定位底座I放置在对比样板9上进行百分表校准零位。本技术的有益效果是:本技术采用两个百分表对比检测行星齿轮球面截面圆弧的内外两点与标准圆的径向位置的偏差值，来确定球面的尺寸偏差，检测结果精确度高。【附图说明】本技术将通过例子并参照附图的方式说明，其中:图1是本技术在检测时的不意图；图2是本技术中百分表的安装示意图；图3是对比样板的不意图；图4是不检测时定位底座放置在对比样板上的示意图。【具体实施方式】本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。本说明书中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。如图1和图2所示的行星齿轮球面检测量具，包括半圆环形的定位底座I和行星齿轮2，所述定位底座I的中部穿有一定位芯轴6，且定位芯轴6通过顶部的第一螺栓4固定在定位底座I上。行星齿轮2套在定位芯轴6位于定位底座I内侧的一端，行星齿轮2的球面与定位底座I的内表面接触。所述定位底座I的外表面还通过第二螺栓7安装有内百分表3和外百分表8，两个百分表的检测端从定位底座I的外表面穿入，内百分表3的检测端与行星齿轮2的球面的内端接触，外百分表8的检测端与行星齿轮2的球面的外端接触，而第二螺栓7位于定位底座的侧面，将两个百分表压紧固定。其中，所述定位底座I的内表面弧面为标准圆弧。当两个百分表都读为零，则零件球面的剖面圆弧与标准圆弧尺寸一致；当内百分表对零，外百分表低，则零件球面的剖面圆弧小于标准圆弧尺寸；当外百分表对零，内百分表低，则零件球面的剖面圆弧大于标准圆弧尺寸。如图3和图4所示，在校准时，还设有与定位底座I配合使用的对比样板9，定位底座I放置在对比样板9上进行百分表校准零位。本技术并不局限于前述的【具体实施方式】。本技术扩展到任何在本说明书中披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组入口 ο【主权项】1.一种行星齿轮球面检测量具，包括半圆环形的定位底座(I)和行星齿轮(2)，其特征是:所述定位底座(I)的中部穿有一定位芯轴(6)，行星齿轮(2)套在定位芯轴(6)位于定位底座(I)内侧的一端，行星齿轮(2 )的球面与定位底座(I)的内表面接触；所述定位底座(I)的外表面可拆卸安装有内百分表(3)和外百分表(8)，内百分表(3)的检测端与行星齿轮(2)的球面的内端接触，外百分表(8)的检测端与行星齿轮(2)的球面的外端接触。2.根据权利要求1所述的行星齿轮球面检测量具，其特征是:所述定位芯轴(6)通过顶部的第一螺栓(4)固定在定位底座(I)上。3.根据权利要求1所述的行星齿轮球面检测量具，其特征是:所述内百分表(3)和外百分表(8 )通过侧面的第二螺栓(7 )固定在定位底座(I)上。4.根据权利要求1所述的行星齿轮球面检测量具，其特征是:还包括在校准时，与定位底座(I)配合使用的对比样板(9)，定位底座(I)放置在对比样板(9)上进行百分表校准零位。【专利摘要】本技术公开了一种行星齿轮球面检测量具，包括半圆环形的定位底座（1）和行星齿轮（2），所述定位底座（1）的中部穿有一定位芯轴（6），行星齿轮（2）套在定位芯轴（6）位于定位底座（1）内侧的一端，行星齿轮（2）的球面与定位底座（1）的内表面接触；所述定位底座（1）的外表面可拆卸安装有内百分表（3）和外百分表（8），内百分表（3）的检测端与行星齿轮（2）的球面的内端接触，外百分表（8）的检测端与行星齿轮（2）的球面的外端接触。本技术采用两个百分表对比检测行星齿轮球面截面圆弧的内外两点与标准圆的径向位置的偏差值，来确定球面的尺寸偏差，检测结果精确度高。【IPC分类】G01B5/00【公开号】CN205228331【申请号】CN201521073316【专利技术人】张孝荣, 魏耀忠, 何建波, 陈凯豪, 周良, 方川郎 【申请人】江阴全华丰精锻有限公司【公开日】2016年5月11日【申请日】2015年12月22日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种行星齿轮球面检测量具，包括半圆环形的定位底座（1）和行星齿轮（2），其特征是：所述定位底座（1）的中部穿有一定位芯轴（6），行星齿轮（2）套在定位芯轴（6）位于定位底座（1）内侧的一端，行星齿轮（2）的球面与定位底座（1）的内表面接触； 所述定位底座（1）的外表面可拆卸安装有内百分表（3）和外百分表（8），内百分表（3）的检测端与行星齿轮（2）的球面的内端接触，外百分表（8）的检测端与行星齿轮（2）的球面的外端接触。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张孝荣，魏耀忠，何建波，陈凯豪，周良，方川郎，
申请(专利权)人：江阴全华丰精锻有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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