漏磁感应电动势所产生误差超差的测量及计算方法技术

技术编号:13183925 阅读:83 留言:0更新日期:2016-05-11 15:27
本发明专利技术公开了一种漏磁感应电动势所产生误差超差的测量及计算方法,测得第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地面积SA1、SA2、SB1、SB2、SC1、SC2;电源变压器输入电压,用磁场强度测试仪分别在第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地磁钢强度分别B1、B2、B3、B4、B5、B6,则漏磁产生的干扰电动势△EX=2πf(Bx2Sx2-Bx1Sx1-Bx2Sx3),其中X=A、B、C;则干扰电动势在采样信号EZ中所占的比例,则第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处的误差超差δ。该方法的测量工作量小且效率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电能表
,具体讲是一种在电压改变情况下漏磁感应电动势所 产生误差超差的测量及计算方法。
技术介绍
电压改变是在电流值恒定的情况下电压变。简而言之,电流不变电压变。在电能表 中,电源变压器产生的漏磁会对电流采样电路形成干扰,而使得电流采样电路产生感应电 动势而出现计量上的误差。而且由于电压改变也会随之带来电源变压器漏磁量的改变,因 此该误差比较难以测量。各个电压点的干扰信号与l.OUn的干扰信号所占比例的差值即是 误差超差,也就是0.8Un、0.9Un、1. lUn、1.15Un与1. OUn的干扰信号所占比例的差值。现有技 术误差超差的测量方法是将该电能表挂在实验室中的台体(台体上设有标准表)上,然后输 入相应的电压和电流值,最后通过台体读出数据。操作人员根据这些数据再输入计算机并 列表,然后通过计算而得到电流采样电路的误差超差。上述测量方法存在以下不足:由于需 要大量人工参与测量且测量时需办公室、实验室来回跑,因此不仅给工作人员带来了较多 的工作量,而且在这个操作过程中也比较费时间,使得测量效率较低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是,提供一种测量工作量小且效率高的漏磁感应电动势 所产生误差超差的测量及计算方法。 本专利技术的技术方案是,提供一种漏磁感应电动势所产生误差超差的测量及计算方 法,电流采样电路上设有A相电流流入和流出的第一采样电阻和第二采样电阻、B相电流流 入和流出的第三采样电阻和第四采样电阻、C相电流流入和流出的第五采样电阻和第六采 样电阻;设定A、B、C三相的采样信号Ez为固定值;包括以下步骤: (1)、测得第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样 电阻、第六米样电阻处测得对应地面积Sai、SA2、Sbi、SB2、Sci、SC2 ; (2)、电源变压器输入电压,用磁场强度测试仪分别在第一采样电阻、第二采样电 阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地磁钢强度分 另 lJB1、B2、B3、B4、B5、B6,则漏磁产生的干扰电动势ΛEχ = 23τf(BX2SX2-BxlSxl-B X2Sx3),其中X = A、 B、C; (3)、则干扰电动势在采样信号Ez中所占的比例为 (4)、设定电压点1 . OUn,干扰电动势在采样信号Ez中所占的比例为δχ/〇. Q5I/U、 δχ/〇. ll/u、δχ/Ι/υ、δχ/lmax/u ;那么,在其他电压点下,干扰电动势在米样信号Ez中所占的比例为 δχ/ο.οδ?/γ'δχ/ο.η/γ'δχΑ/γ'δχ/^χ";,其中,y = 〇.8Un、0.9Un、l · lUn、l · 15Un; (5)、则第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电 阻、第六采样电阻处的误差超差S = S x/i/r s x/g/D= 采用以上方法后,本专利技术与现有技术相比,具有以下优点: 本专利技术只需要测量几个数据 即可将误差超差得出。因此其只需少量人工参与测量且测量时无需办公室、实验室来回跑, 因此不仅减少了工作人员的工作量,而且在这个操作过程中也比较省时省力,使得测量效 率较高。【具体实施方式】 下面结合具体实施例对本专利技术作进一步说明。 本专利技术一种,电流采样电路上 设有A相电流流入和流出的第一采样电阻和第二采样电阻、B相电流流入和流出的第三采样 电阻和第四采样电阻、C相电流流入和流出的第五采样电阻和第六采样电阻;设定A、B、C三 相的采样信号Ez为固定值,即A、B、C三相的采样信号E在加载同一个电压下的0.051,0.1 I, I,Imax(电流最大值)四个电流点的值基本是一致的,因此在本实施例中设其为固定值,则; 包括以下步骤: (1)、测得第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样 电阻、第六米样电阻处测得对应地面积Sai、SA2、Sbi、SB2、Sci、Sc2; (2)、电源变压器输入电压,用磁场强度测试仪分别在第一采样电阻、第二采样电 阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地磁钢强度分 另 lJB1、B2、B3、B4、B5、B6,则漏磁产生的干扰电动势ΛEx = 23τf(Bx2Sx2-BxlSxl-B x2Sx3),其中X = A、 B、C; (3)、则干扰电动势在采样信号Ez中所占的比例为 (4)、设定电压点1 . OUn,干扰电动势在采样信号Ez中所占的比例为δχ/〇. Q5I/U、 δχ/〇.ιι/υ、δχ/ι/υ、δχ/Ιη?3Χ/υ ;那么,在其他电压点下,干扰电动势在米样信号Ez中所占的比例为 δχ/o.〇5i/y、δχ/〇.u/y、δχ/ι/y、3x/i max/y;,其中,y - 0 · 8Un、0 · 9Un、1 · lUn、1 · 15Un; (5)、则第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电 阻、第六采样电阻处的误差超差δ = S δ η π=以上仅就本专利技术的最佳实施例作了说明,但不能理解为是对权利要求的限制。本 专利技术不仅限于以上实施例,其具体结构允许有变化。但凡在本专利技术独立权利要求的保护范 围内所作的各种变化均在本专利技术的保护范围内。【主权项】1. 一种,其特征在于:电流采样电 路上设有A相电流流入和流出的第一采样电阻和第二采样电阻、B相电流流入和流出的第Ξ 采样电阻和第四采样电阻、C相电流流入和流出的第五采样电阻和第六采样电阻;设定A、B、 ΟΞ相的采样信号Ez为固定值;包括W下步骤: (1) 、测得第一采样电阻、第二采样电阻、第Ξ采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、 第六义样电阻处测得对应地面积Sai、Sa2、Sbi、Sb2、Sci、Sc2 ; (2) 、电源变压器输入电压,用磁场强度测试仪分别在第一采样电阻、第二采样电阻、第 Ξ采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地磁钢强度分别Bi、 B2、B3、B4、B5、B6,则漏磁产生的干扰电动势ΔEx = 化f(Bx2Sx2-BxlSx广Bx2Sx3),其中X=A、B、C; (3) 、则干扰电动势在采样信号Ez中所占的比例为,其中,X=A、B、C; (4) 、设定电压点1. OUn,干扰电动势在义样信号Ez中所占的比例为δχ/ο.ο日ι/υ、δχ/〇.ιι/υ、 δχ/?Ακδχ/Imax/U;那么,在其他电压点下,干扰电动势在采样信号Ez中所占的比例为δχ/O.OSI/y、 5x/〇.ii/y、Sx/i/y、Sx/imax/y;,其中,y = 0.8Un、0.9Un、l. lUn、l. 15Un; (5) 、则第一采样电阻、第二采样电阻、第Ξ采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第 六采样电阻处的误差超差δ = δ :χ似δ X似尸【专利摘要】本专利技术公开了一种,测得第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地面积SA1、SA2、SB1、SB2、SC1、SC2;电源变压器输入电压,用磁场强度测试仪分别在第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地磁钢强度分别B1、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种漏磁感应电动势所产生误差超差的测量及计算方法,其特征在于:电流采样电路上设有A相电流流入和流出的第一采样电阻和第二采样电阻、B相电流流入和流出的第三采样电阻和第四采样电阻、C相电流流入和流出的第五采样电阻和第六采样电阻;设定A、B、C三相的采样信号EZ为固定值;包括以下步骤:(1)、测得第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地面积SA1、SA2、SB1、SB2、SC1、SC2;(2)、电源变压器输入电压,用磁场强度测试仪分别在第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处测得对应地磁钢强度分别B1、B2、B3、B4、B5、B6,则漏磁产生的干扰电动势△EX=2πf(Bx2Sx2‑Bx1Sx1‑Bx2Sx3),其中X=A、B、C;(3)、则干扰电动势在采样信号EZ中所占的比例为2πf×(Bx2Sx2-Bx1Sx1-Bx2Sx3)Ez,]]>其中,X=A、B、C;(4)、设定电压点1.0Un,干扰电动势在采样信号EZ中所占的比例为δx/0.05I/U、δx/0.1I/U、δx/I/U、δx/Imax/U;那么,在其他电压点下,干扰电动势在采样信号EZ中所占的比例为δx/0.05I/y、δx/0.1I/y、δx/I/y、δx/Imax/y;,其中,y=0.8Un、0.9Un、1.1Un、1.15Un;(5)、则第一采样电阻、第二采样电阻、第三采样电阻、第四采样电阻、第五采样电阻、第六采样电阻处的误差超差δ=δx/z/y-δx/z/U=]]>2πf×[B(x2,y)-B(x2,U)]Sx2-[B(x1,y)-B(x1,U)]Sx1-[B(x2,y)-B(x2,U)]Sx3Ez.]]>...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:郑坚江马强许方景崔永峰
申请(专利权)人:宁波三星医疗电气股份有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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