隔离控制电路制造技术

本发明专利技术提供一种与隔离单元和待关断区域集成在同一芯片内，隔离控制电路电性连接隔离单元和待关断区域，隔离控制电路包括与待关断区域相连接的检测级，检测级检测待关断区域内待关断电源的电压变化并根据待关断电源的电压变化输出稳定的关断或打开信号至隔离单元的使能端。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术设及CMOS集成电路设计领域，且特别设及一种隔离控制电路。
技术介绍
现在深亚微米集成电路设计的超大规模集成电路设计中，经常会采用多电压域来 控制功耗。一个忍片中通常会有多块电压区域。当不需要某一块区域的电路工作时，即可关 断其供电电源VDD，杜绝该处逻辑的漏电W节省功耗。在有低功耗要求的手持设备中，运种 降低功耗的手段尤其重要。 在CMOS逻辑电路中，简单地关断供电电源VDD可能会造成高阻态，类似于浮空的状 态。因为电源的关断意味着运部分电路失去了驱动，运样输出就将处于不确定的非'0'非 '1'逻辑值。同时，高阻态也意味着输出极容易受到噪声或者其它电路的干扰，从而使输出 产生不受控制的变化。当该区域电路与其它区域连接时，就有可能造成逻辑错误，或者因为 逻辑的中间态产生泄露电流引起功耗增加。 Isolation cell(隔离单元)就是为了避免高阻态而设计。图1和图2所示为隔离单 元的两种形式，分别为与口和或口。EN、ENB为使能信号，分别为'0'有效和'1'有效。当使能 信号有效时，A到Y的通路关断，Y输出为固定值。运样，就避免了该隔离单元和后续电路高阻 态的不确定性。 在现有的集成电路中，当某一区域的供电电源被关闭时，需要外部逻辑电路产生 隔离控制信号至隔离单元的使能端，从而使得隔离单元关闭。运种控制方式大大增加了电 路设计的难度同时也增加了集成电路的体积。
技术实现思路
本专利技术为了克服现有隔离单元需要外部逻辑电路输出隔离控制信号进行使能从 而造成电路设计复杂、电路体积庞大的问题，提供一种能简化逻辑设计，减小电路体积的隔 离控制电路。 为了实现上述目的，本专利技术提供一种与隔离单元和待关断区域集成在同一忍片 内，隔离控制电路电性连接隔离单元和待关断区域，隔离控制电路包括与待关断区域相连 接的检测级，检测级检测待关断区域内待关断电源的电压变化并根据待关断电源的电压变 化输出稳定的关断或打开信号至隔离单元的使能端。[000引于本专利技术一实施例中，检测级包括由第一PMOS管、第一醒OS管、第二PMOS管和第二 NMOS管组成的交叉禪合对和第SPMOS管，第SPMOS管的栅极和漏极相连接后与交叉禪合对 相连接，第=PMOS管的源极与待关断电源相连接，第一 PMOS管的源极与待关断电源相连接， 第二PMOS管的源极与常开电源相连接； 当待关断电源打开时为确保交叉禪合对的输出为0,需满足W下条件： Ws/Ls > 比。胖2/12 (Vw-Vtn) ] / 比P (Vdd-V化）][OOW 其中，W5、Ls分别为第；?105管的长和宽，W2、L2分别为第一 NMOS管的长和宽，kn为第 一醒OS管和第二醒OS管与工艺有关的参数，kp为第一 PMOS管、第二PMOS管和第SPMOS管与 工艺有关的参数，Vtp为第一 PMOS管、第二PMOS管和第SPMOS管的阔值电压，Vtn为第一醒OS 管和第二NMOS管的阔值电压;Vdd为待关断电源和常开电源正常供电时的电压；当待关断电源关断时为确保交叉禪合对的输出由"0"转换为"1"，需满足W下条 件： 〇< Vth < Vddth < Vdd 其中，Vth为交叉禪合对的输出由"0"转换为T'时第二PMOS管和第二NMOS管的转换 阔值，Vddth 二 Vtp+Vl;h。 于本专利技术一实施例中，为保证待关断电源在打开时交叉禪合对稳定输出0,将第= PMOS管的尺寸设计如下： Ws/Ls > 2 比nW2/L2 (Vdd-Vtn) ] /比P (Vdd-V化）]。于本专利技术一实施例中，交叉禪合对的输出由"0"转换为"r时第二PMOS管和第二 NMOS管的漏源电流相等，即从上式推出转换阔值电压Vth 其中，W3、L3分别为第二PMOS管的长和宽，W4、L4分别为第二NMOS管的长和宽； 相应的， 于本专利技术一实施例中，隔离控制电路还包括放大级，放大级电性连接在交叉禪合 对的输出端，对检测级输出的信号进行放大。 于本专利技术一实施例中，放大级为由第四PMOS管和第SNMOS管组成，第四PMOS管的 栅极和第S醒OS管的栅极相连接作为放大级的输入端与交叉禪合对的输出相连接，第四 PMOS管的漏极和第=NMOS管的漏极相连接作为放大级的输出端。 于本专利技术一实施例中，隔离控制电路还包括驱动级，驱动级电性连接在放大级的 输出端。 于本专利技术一实施例中，驱动级包括一个或两个反相器，每个反相器均由一个PMOS 管和一个NMOS管禪合连接。 综上所述，本专利技术提供的隔离控制电路与现有技术相比，具有W下优点： 本专利技术提供的隔离控制电路与隔离单元和待关断区域集成在同一忍片内，隔离控 制电路内的检测级检测待关断区域内待关断电源的电压变化，根据待关断电源的电压变化 输出关断或打开信号至隔离单元的使能端，使得隔离单元输出稳定的且固定的信号，将待 关断区域和其它区域稳定隔离。本专利技术提供的隔离控制电路可在忍片内部自动产生隔离控 制信号至隔离单元的使能端而无需外部逻辑电路提供任何控制信号，大大简化了电路的逻 辑设计，大大减小了电路的体积。 此外，通过设置检测级有五个MOS管组成，隔离控制电路的设计可与CMOS逻辑电路 的工艺相兼容，不仅大大降低了电路体积，同时也大幅度降低了电路的设计W及制造成本。 为让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例， 并配合附图，作详细说明如下。【附图说明】 图1所示为与口形式的隔离单元。 图2所示为或口形式的隔离单元。 图3所示为本专利技术一实施例提供的隔离控制电路的电路原理图。 图4所示为隔离控制电路的布局应用示意图。【具体实施方式】 图1所示为与口形式的隔离单元。图2所示为或口形式的隔离单元。图3所示为本发 明一实施例提供的隔离控制电路的电路原理图。图4所示为隔离控制电路的布局应用示意 图。请一并参阅图1至图4。 本实施例提供一种隔离控制电路，该隔离控制电路ISOG与隔离单元ISOO和待关断 区域集成在同一忍片内。隔离控制电路ISOG电性连接隔离单元ISOO和待关断区域，隔离控 制电路包括ISOG与待关断区域相连接的检测级1，检测级1检测待关断区域内待关断电源的 电压变化并根据待关断电源的电压变化输出稳定的关断或打开信号至隔离单元ISOO的使 能端。[003引于本实施例中，检测级1包括由第一PMOS管Ml、第一醒OS管M2、第二PMOS管M3和第 二醒OS管M4组成的交叉禪合对和第SPMOS管M5。所述交叉禪合对的具体连接方式为：第一 PMOS管m和第一NMOS管M2的栅极相连接，两者的漏极相连接；同样的，第二PMOS管M3和第二 醒OS管M4的栅极相连接，两者的漏极相连接;第一 PMOS管Ml和第一醒OS管M2的栅极与第二 PMOS管M3和第二NMOS管M4的漏极相连接，第一 PMOS管m和第一 NMOS管M2的漏极与第二PMOS 管M3和第二醒OS管M4的栅极相连接，具体如图1所示。第一 PMOS管Ml的源极与待关断电源 VDD相连接，第二PMOS管M3的源极与常开电源VDDG相连接。 第SPMOS管M5的栅极和漏极相连接后与交叉禪合对中第二PMOS管M3和第二NMOS 管M4的栅极相连接，第SPMOS管本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种隔离控制电路，其特征在于，与隔离单元和待关断区域集成在同一芯片内，所述隔离控制电路电性连接隔离单元和待关断区域，隔离控制电路包括与待关断区域相连接的检测级，检测级检测待关断区域内待关断电源的电压变化并根据待关断电源的电压变化输出稳定的关断或打开信号至隔离单元的使能端。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曹富强，
申请(专利权)人：无锡华大国奇科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32