光学式传感器系统以及具有光学式传感器系统的内窥镜技术方案

特性变化部(201)的至少一部分相对于特性变化部(203)的至少一部分在光学式传感器(10)的周向上配设在不同的位置。此外，特性变化部(201)的至少一部分相对于特性变化部(203)的至少一部分在光学式传感器(10)的轴向上配设在不同的位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及光学式传感器、具有光学式传感器的光学式传感器系统、以及具有光学式传感器系统的内窥镜。
技术介绍
例如专利文献1公开了作为光学式传感器发挥功能的光学光纤。如图8A所示，光学光纤401具有作为导光部件发挥功能的芯401a、将芯401a覆盖而将光封入芯401a的作为光封入部件发挥功能的包覆层401b、以及配设于包覆层401b的光吸收部401c。此外，虽未图示，但光学光纤401还具有将包覆层401b覆盖而保护包覆层401b的保护部件。对在光学光纤401中行进的光进行说明。如图8A所示，光学光纤401为直线状态的情况下，沿着光学光纤401的轴向行进的光403a全部被导光。相对于轴向以第一角度倾斜而行进的光403b被光吸收部401c吸收。相对于轴向以第二角度倾斜而行进的光403c不被光吸收部401c吸收，由包覆层401b进行全反射而被导光。如图8B所示，若光学光纤401以光吸收部401c为中心而弯曲，则光403a、403b、403c朝向光吸收部401c行进。由此，光403a、403b、403c被光吸收部401c吸收，不行进。光吸收部401 c作为对应于光学光纤401的弯曲量(曲率)而使光的光学特性变化的特性变化部发挥功會泛。这样被导光的光的量对应于弯曲量而变化，所导光的光量基于变化而被控制。这样的光学光纤401被用在检测光量的变化的光学式传感器系统的代表例即图8C所示的曲率测定装置410中。图8C所示的曲率测定装置410具有图8A所示的沿着轨道411配设的光学光纤401、与光学光纤401的一端部光学连接的激光光源413、以及与光学光纤401的另一端部光学连接的光电转换装置415。光学光纤401对应于轨道411的弯曲而弯曲。伴随该弯曲，从激光光源413经由光学光纤401向光电转换装置415行进的光的量减少。并且，光电转换装置415测定对应于弯曲而减少的光的量。由此，测定轨道411的弯曲量和列车通过时的轨道411的下降情况。现有技术文献专利文献专利文献1:特开昭57 —141604号公报专利技术概要专利技术要解决的课题图8C所示那样的曲率测定装置410通过1根光学光纤401仅能够检测光学光纤401的弯曲量，不能够检测弯曲方向。此外，曲率测定装置410通过1根光学光纤401无法检测例如光学光纤401的上下方向的光学光纤401的弯曲量、和光学光纤401的左右方向的光学光纤401的弯曲量这2轴。也就是说，不能检测相互不同的2个弯曲量这样的2轴、及相互不同的2个弯曲方向这样的2轴。此外，为了通过1根光学光纤401检测2轴，需要将2个光吸收部401c配设于1根光学光纤401。该情况下，一方的光吸收部401c需要相对于另一方的光吸收部401c在光学光纤401的周向上离开例如90度。这样的2个光吸收部401c中，一方的光吸收部401c与另一方的光吸收部401c配置在同周上的情况下，不容易确保光学光纤401的强度地加工2个光吸收部401co此外，通常，保护部件的内周面不与包覆层401b的外周面粘接。因此，当光学光纤401弯曲时，在光学光纤401的周向上位于2个光吸收部401c之间的保护部件的一部分有可能相对于包覆层401b在例如光学光纤401的周向上错位、进而有可能缺失。
技术实现思路
本专利技术是鉴于这样的情况而做出的，目的在于提供一种能够在1个光学式传感器中容易地检测2轴、能够确保光学式传感器的强度而容易地加工特性变化部、能够抑制保护部件相对于光封入部件的错位和缺失的光学式传感器、具有该光学式传感器的光学式传感器系统、以及具有该光学式传感器系统的内窥镜。用于解决课题的手段本专利技术的光学式传感器的一个技术方案，具有:导光部件，将光进行导光;光封入部件，与上述导光部件的外周面抵接而将上述导光部件的上述外周面覆盖，将上述光封入上述导光部件;保护部件，与上述光封入部件的外周面抵接而将上述光封入部件的上述外周面覆盖，保护上述光封入部件；以及多个特性变化部，至少与上述导光部件相接，对应于上述导光部件的弯曲量而使上述光的光学特性变化;该光学式传感器的特征在于，一方的上述特性变化部和另一方的上述特性变化部，在具有所希望的范围的区中相互接近而配设，一方的上述特性变化部的至少一部分，相对于另一方的上述特性变化部的至少一部分，在上述光学式传感器的周向上配设在不同的位置，一方的上述特性变化部的至少一部分，相对于另一方的上述特性变化部的至少一部分，在上述光学式传感器的轴向上配设在不同的位置，对应于上述区中的上述导光部件在一方的方向上的上述弯曲量，一方的上述特性变化部使上述光学特性变化，对应于上述区中的上述导光部件在另一方的方向上的上述弯曲量，另一方的上述特性变化部使上述光学特性变化，上述光的上述光学特性变化时，以由一方的上述特性变化部改变了的一方的上述光学特性不同于由另一方的上述特性变化部改变了的另一方的上述光学特性的方式，上述特性变化部使上述光学特性变化。本专利技术的光学式传感器系统的一个技术方案，具备:光源，朝向上述导光部件将上述光出射;上述中记载的光学式传感器；以及检测部，将具有一方的上述光学特性的上述光和具有另一方的上述光学特性的上述光独立检测，根据检测结果，检测上述光学式传感器的相互不同的多个弯曲方向和相互不同的多个弯曲量。此外，本专利技术的内窥镜的一个技术方案，具有上述记载的光学式传感器系统。【附图说明】图1是本专利技术的第一实施方式的光学式传感器的立体图、该立体图中记载的1A—1A的截面图、该立体图中记载的1B — 1B的截面图、以及该立体图中记载的1C—1C的截面图。图2A是用于检测2轴的概念图。图2B是表示光学特性是光吸收特性的概念图。图2C是表示光学特性是波长变换特性的概念图。图3A是具有图1A所示的光学式传感器的光学式传感器系统的概略图。图3B是具有图3A所示的光学式传感器系统的内窥镜的概略图。图4A是与第一实施方式的光学式传感器不同的光学式传感器的立体图、和该立体图中记载的4A—4A的截面图。图4B是与光学式传感器的弯曲对应的光传递量的示意图。图4C是与光学式传感器的弯曲对应的光传递量的示意图。图4D是与光学式传感器的弯曲对应的光传递量的示意图。图4E是表示光学式传感器的弯曲量与光学特性的变化率的关系的图。图5A是表示特性变化部的配置位置的一例的图。图5B是表示特性变化部的配置位置的一例的图。图5C是表示特性变化部的配置位置的一例的图。图?是表示特性变化部的配置位置的一例的图。图5E是说明流入防止部的图。图5F是将图5E从图5E所示的箭头5F观察的图。图6A是表示光学式传感器具有多个区的图。图6B是光学式传感器系统的变形例。图7A是表示光学式传感器的第一变形例的图。图7B是表示光学式传感器的第二变形例的图。图7C是表示光学式传感器的第三变形例的图。图7D是表示光学式传感器的第四变形例的图。图7E是表示光学式传感器的第五变形例的图。图8A是表示作为一般的光学式传感器发挥功能的直线状的光学光纤的图。图8B是表不图8A所不的光学光纤弯曲的状态的图。图8C是表示具有图8A所示的光学光纤的光学式传感器系统即曲率测定装置的图。【具体实施方式】以下，参照附图对本专利技术的实施方式详细说明。另外，例如，如在图3A中将导光部件11的图示省略那样本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学式传感器，具有：导光部件，将光进行导光；光封入部件，与上述导光部件的外周面抵接而将上述导光部件的上述外周面覆盖，将上述光封入上述导光部件；保护部件，与上述光封入部件的外周面抵接而将上述光封入部件的上述外周面覆盖，保护上述光封入部件；以及多个特性变化部，至少与上述导光部件相接，对应于上述导光部件的弯曲量而使上述光的光学特性变化；该光学式传感器的特征在于，一方的上述特性变化部和另一方的上述特性变化部，在具有所希望的范围的区中相互接近而配设，一方的上述特性变化部的至少一部分，相对于另一方的上述特性变化部的至少一部分，在上述光学式传感器的周向上配设在不同的位置，一方的上述特性变化部的至少一部分，相对于另一方的上述特性变化部的至少一部分，在上述光学式传感器的轴向上配设在不同的位置，对应于上述区中的上述导光部件在一方的方向上的上述弯曲量，一方的上述特性变化部使上述光学特性变化，对应于上述区中的上述导光部件在另一方的方向上的上述弯曲量，另一方的上述特性变化部使上述光学特性变化，上述光的上述光学特性变化时，以由一方的上述特性变化部改变了的一方的上述光学特性不同于由另一方的上述特性变化部改变了的另一方的上述光学特性的方式，上述特性变化部使上述光学特性变化。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：藤田浩正，佐藤宪，
申请(专利权)人：奥林巴斯株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP