一种用于光电探测器光照度测量的装置制造方法及图纸

技术编号:13134872 阅读:101 留言:0更新日期:2016-04-06 21:13
本实用新型专利技术涉及一种用于光电探测器光照度测量的装置,包括正六面体的分光镜盒,分光镜盒内的一对对角棱边所在平面设置有半透半反镜,分光镜盒与半透半反镜的反射面相对应的两个侧面分别为分光镜盒的入射光端面和出射光端面,分光镜盒与入射光端面相对的一个侧面为分光镜盒的另一个出射光端面,入射光端面设置有用于密封安装光源的第一圆筒,一个出射光端面通过第二圆筒密封安装有光照度探头,另一个出射光端面设置有用于密封安装光电探测器的第三圆筒,第一圆筒、第二圆筒和第三圆筒与分光镜盒组成T型结构,光照度探头外接光照度计。本实用新型专利技术结构简单、价格低廉、通用性强。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光电
,特别涉及一种用于光电探测器光照度测量的装置
技术介绍
光电探测器使用中,需监测入射光电探测器的光照度。目前,多采用市场现有的光照度测量装置,但其具有价格高;光照度探头由使用者随意摆放,增加了光照度探头放置位置、角度等因素所引起的测量结果的不确定性;及手持式光照度测量装置接口固定或没有接口,不便自主开发利用等缺点。
技术实现思路
本技术目的是提供一种用于光电探测器光照度测量的装置,解决现有技术中存在的上述问题。本技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种用于光电探测器光照度测量的装置,包括分光镜盒,所述分光镜盒为正六面体,所述分光镜盒内的一对对角棱边所在平面设置有半透半反镜,所述分光镜盒与所述半透半反镜的反射面相对应的两个侧面分别为所述分光镜盒的入射光端面和出射光端面,所述分光镜盒与所述入射光端面相对的一个侧面为所述分光镜盒的另一个出射光端面,所述入射光端面设置有用于密封安装光源的第一圆筒,一个所述出射光端面通过第二圆筒密封安装有光照度探头,另一个所述出射光端面设置有用于密封安装光电探测器的第三圆筒,所述第一圆筒、第二圆筒和第三圆筒与所述分光镜盒组成T型结构,所述光照度探头外接光照度计。本技术的有益效果是:光电探测器探测的光源密封安装于第一圆筒,光照度探头密封安装于第二圆筒,光电探测器密封安装于第三圆筒,并且采用半透半反镜将光源发出的光等分成两部分,一部分照射光电探测器,用于提供光电探测器探测所需光,一部分照射光照度探头,用于提供监测入射光电探测器的光照度所需光,可直接从光照度探头外接的光照度计上获知入射光电探测器的光照度情况;且光照度探头密封安装于第二圆筒,有效避免光照度探头放置位置、角度等因素所引起的测量结果的不确定性;实现了光源、光电探测器和光照度探头安装结构一体化,提高监测入射光电探测器的光照度的准确性,且结构简单、价格低廉、通用性强,可作为标准部件迁移到各种光电探测器类的测量装置中。在上述技术方案的基础上,本技术还可以做如下改进。进一步,所述第一圆筒、分光镜盒和第二圆筒三者同轴设置,所述第三圆筒的轴线垂直于所述第一圆筒、分光镜盒和第二圆筒所在的轴线。采用上述进一步方案的有益效果是,将光源入射半透半反镜后的反射光用于照射光电探测器,透射光用于照射光照度探头,避免折射所带来的光损失,有效保证光电探测器的探测结果准确性。进一步,所述第一圆筒、第二圆筒和第三圆筒与所述分光镜盒采用螺纹连接。采用上述进一步方案的有益效果是,方便组装和分拆。进一步,所述分光镜盒、第一圆筒、第二圆筒和第三圆筒的内表面均具有表面阳极黑色氧化处理层。采用上述进一步方案的有益效果是,减少杂散光影响。进一步,所述半透半反镜沿所述第二圆筒和第三圆筒的中轴线方向分别到所述光照度探头和光电探测器的距离相等。采用上述进一步方案的有益效果是,在忽略半透半反镜厚度的情况下,使光源沿第一圆筒的中轴线方向发射的光线经半透半反镜反射后入射到光电探测器的光程与光源沿第一圆筒的中轴线方向发射的光线经半透半反镜透射后入射到光照度探头的光程相等,采用此等光程设计,可进一步近视认为入射光电探测器的光照度与入射光照度探头的光照度相等,进一步提高监测入射光电探测器的光照度的准确性。进一步,所述半透半反镜的厚度为1mm。采用上述进一步方案的有益效果是,采用薄半透半反镜,减小半透半反镜对光程的影响,进一步保证光源沿第一圆筒的中轴线方向发射的光线经半透半反镜反射后入射到光电探测器的光程与光源沿第一圆筒的中轴线方向发射的光线经半透半反镜透射后入射到光照度探头的光程相等。进一步,所述分光镜盒内的一对对角棱边上设置有用于安装所述半透半反镜的卡槽。采用上述进一步方案的有益效果是,方便组装和分拆。进一步,所述第一圆筒、第二圆筒和第三圆筒均设置可拆卸的盖体,所述盖体上设置有接口。采用上述进一步方案的有益效果是,可拆卸盖体,方便组装和分拆;并且盖体上设置有接口,方便与外接器件连接。附图说明图1为本技术一种用于光电探测器光照度测量的装置的正视图;图2为本技术一种用于光电探测器光照度测量的装置的图1A-A剖视图;图3为本技术一种用于光电探测器光照度测量的装置的立体图。附图中,各标号所代表的部件列表如下:1、分光镜盒,11、一对对角棱边,111、卡槽,2、半透半反镜,21、反射面,3、光源,4、第一圆筒,5、第二圆筒,6、光照度探头,7、光电探测器,8、第三圆筒,9、盖体,10、接口。具体实施方式以下结合附图对本技术的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本技术,并非用于限定本技术的范围。如图1、图2和图3所示,一种用于光电探测器光照度测量的装置,包括分光镜盒1,所述分光镜盒1为正六面体,所述分光镜盒1内的一对对角棱边11所在平面设置有半透半反镜2,所述分光镜盒1与所述半透半反镜2的反射面21相对应的两个侧面分别为所述分光镜盒1的入射光端面和出射光端面,所述分光镜盒1与所述入射光端面相对的一个侧面为所述分光镜盒的另一个出射光端面,所述入射光端面设置有用于密封安装光源3的第一圆筒4,一个所述出射光端面通过第二圆筒5密封安装有光照度探头6,另一个所述出射光端面设置有用于密封安装光电探测器7的第三圆筒8,所述第一圆筒4、第二圆筒5和第三圆筒8与所述分光镜盒1组成T型结构,所述光照度探头6外接光照度计。优选,所述第一圆筒4、分光镜盒1和第二圆筒5三者同轴设置,所述第三圆筒8的轴线垂直于所述第一圆筒4、分光镜盒1和第二圆筒5所在的轴线。优选,所述第一圆筒4、第二圆筒5和第三圆筒8与所述分光镜盒1采用螺纹连接。优选,所述分光镜盒1、第一圆筒4、第二圆筒5和第三圆筒8的内表面均具有表面阳极黑色氧化处理层。优选,所述半透半反镜2沿所述第二圆筒5和第三圆筒8的中轴线方向分别到所述光照度探头6和光电探测器7的距离相等。优选,所述半透半反镜2的厚度为1mm。优选,所述分光镜盒1内的一对对角棱边11上设置有用于安装所述半透半反镜2的卡槽111。优选,所述第一圆筒4、第二圆筒5和第三圆筒8均设置可拆卸的盖体9,所述盖体9上设置有接口10。根据光源3、光照度探头6和光电探测器7的规格型号的不同,可采用不同种类接口。如,光源3为LED光源时,其本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光电探测器光照度测量的装置,其特征在于,包括分光镜盒(1),所述分光镜盒(1)为正六面体,所述分光镜盒(1)内的一对对角棱边(11)所在平面设置有半透半反镜(2),所述分光镜盒(1)与所述半透半反镜(2)的反射面(21)相对应的两个侧面分别为所述分光镜盒(1)的入射光端面和出射光端面,所述分光镜盒(1)与所述入射光端面相对的一个侧面为所述分光镜盒的另一个出射光端面,所述入射光端面设置有用于密封安装光源(3)的第一圆筒(4),一个所述出射光端面通过第二圆筒(5)密封安装有光照度探头(6),另一个所述出射光端面设置有用于密封安装光电探测器(7)的第三圆筒(8),所述第一圆筒(4)、第二圆筒(5)和第三圆筒(8)与所述分光镜盒(1)组成T型结构,所述光照度探头(6)外接光照度计。

【技术特征摘要】
1.一种用于光电探测器光照度测量的装置,其特征在于,包括分光镜盒
(1),所述分光镜盒(1)为正六面体,所述分光镜盒(1)内的一对对角
棱边(11)所在平面设置有半透半反镜(2),所述分光镜盒(1)与所述半
透半反镜(2)的反射面(21)相对应的两个侧面分别为所述分光镜盒(1)
的入射光端面和出射光端面,所述分光镜盒(1)与所述入射光端面相对的
一个侧面为所述分光镜盒的另一个出射光端面,所述入射光端面设置有用于
密封安装光源(3)的第一圆筒(4),一个所述出射光端面通过第二圆筒(5)
密封安装有光照度探头(6),另一个所述出射光端面设置有用于密封安装
光电探测器(7)的第三圆筒(8),所述第一圆筒(4)、第二圆筒(5)和
第三圆筒(8)与所述分光镜盒(1)组成T型结构,所述光照度探头(6)
外接光照度计。
2.根据权利要求1所述一种用于光电探测器光照度测量的装置,其特征
在于,所述第一圆筒(4)、分光镜盒(1)和第二圆筒(5)三者同轴设置,
所述第三圆筒(8)的轴线垂直于所述第一圆筒(4)、分光镜盒(1)和第
二圆筒(5)所在的轴线。
3.根据权利要求1所述一种用于光电探测器光照度测量的...

【专利技术属性】
技术研发人员:张倩程勇朱彬彬
申请(专利权)人:武汉光驰科技有限公司
类型:新型
国别省市:湖北;42

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